[發(fā)明專利]固態(tài)成像裝置及電子裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310400038.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103681713A | 公開(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 宮澤信二;大岡豐 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 索尼公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/146 | 分類號(hào): | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人: | 褚海英;陳桂香 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 固態(tài) 成像 裝置 電子 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種固態(tài)成像裝置及一種電子裝置,具體而言,涉及其中防水性得以提高的一種固態(tài)成像裝置及一種電子裝置。
背景技術(shù)
在過去,為在固態(tài)成像裝置的制造中保護(hù)微透鏡,提出在微透鏡的表面上形成由氧化膜、氮化膜或氮氧化膜形成的保護(hù)膜(參見JP?2005-277409A及JP?2008-288570A)。此種保護(hù)膜利用例如SiN(氮化硅)形成,而且還具有防止硅基板的表面上的金屬布線被腐蝕的功能。
圖1是圖示作為固態(tài)成像裝置的示例的CMOS圖像傳感器芯片的結(jié)構(gòu)的示意性剖視圖,在所述固態(tài)成像裝置中,在微透鏡的表面上形成有保護(hù)膜。此芯片10具有其中堆疊有硅基板11、保護(hù)膜12、遮光膜13、平坦化膜14、濾色層15、平坦化膜16及微透鏡層17的結(jié)構(gòu)。應(yīng)注意,硅基板11的表面上形成有光電二極管(未圖示)。
此外,通過利用SiN等在微透鏡層17的表面上形成保護(hù)膜(未圖示),可防止水分及雜質(zhì)進(jìn)入至芯片10的表面(微透鏡層17)側(cè)。
然而,例如,當(dāng)將芯片10放置于具有高的水蒸氣壓的環(huán)境中時(shí),水分及雜質(zhì)可進(jìn)入芯片10的上面未形成有保護(hù)膜的側(cè)面,并可使品質(zhì)劣化。
例如,如圖1中的箭頭所示,進(jìn)入芯片10的側(cè)面的水分可吸收用于芯片10的密封樹脂的成分并進(jìn)入濾色層15中,此可導(dǎo)致濾色器脫色以及光學(xué)特性的改變。
此外,如圖2中的箭頭所示,進(jìn)入芯片10的側(cè)面的水分可到達(dá)硅基板11的表面,此可導(dǎo)致光電二極管的表面膜上的固定電荷發(fā)生變化并導(dǎo)致暗電流增大。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明旨在提高固態(tài)成像裝置(例如CMOS圖像傳感器)的防水性。
根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例,提供一種固態(tài)成像裝置,其包括:基板,其表面上形成有多個(gè)光電二極管;以及保護(hù)膜,其是透明的并且具有防水性,所述保護(hù)膜包括垂直于所述基板的所述表面的側(cè)壁部及覆蓋由所述側(cè)壁部圍繞的區(qū)域的頂部,所述側(cè)壁部及所述頂部圍繞在所述基板上排列有所述多個(gè)光電二極管的區(qū)域。
所述保護(hù)膜的所述側(cè)壁部可沿所述固態(tài)成像裝置的側(cè)表面而形成。
所述保護(hù)膜還可沿開孔的內(nèi)壁而形成,所述開孔用于布線至所述固態(tài)成像裝置的電極焊盤。
所述保護(hù)膜的所述側(cè)壁部被嵌入沿所述固態(tài)成像裝置的外周邊并且在所述外周邊的內(nèi)側(cè)形成的凹槽中。
所述保護(hù)膜還可被嵌入形成于開孔的周邊中的凹槽中,所述開孔用于布線至所述固態(tài)成像裝置的所述電極焊盤。
所述保護(hù)膜的所述側(cè)壁部的下端與內(nèi)壁至少之一可與所述基板接觸。
所述保護(hù)膜的所述頂部與所述基板之間可設(shè)置有濾色器。
所述保護(hù)膜的所述頂部可形成用于將光聚集至每一個(gè)所述光電二極管的微透鏡。
所述保護(hù)膜的所述頂部可與所述濾色器接觸。
所述保護(hù)膜的所述頂部可形成于微透鏡的表面上,所述微透鏡用于將光聚集至每一個(gè)所述光電二極管。
所述保護(hù)膜的所述頂部可設(shè)置于微透鏡與所述濾色器之間,所述微透鏡用于將光聚集至每一個(gè)所述光電二極管。
所述保護(hù)膜的所述頂部可設(shè)置于濾色器與所述基板之間。
所述濾色器可與所述保護(hù)膜的所述頂部接觸。
所述保護(hù)膜的所述頂部可與遮光膜接觸,所述遮光膜用于防止光泄露至相鄰像素。
所述保護(hù)膜可包含氮化硅。
所述固態(tài)成像裝置可為底部發(fā)光型。
所述固態(tài)成像裝置可為頂部發(fā)光型。
所述固態(tài)成像裝置可用透明樹脂及玻璃封裝。
根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施例,提供一種電子裝置,所述電子裝置包括:如上所述的任意一種固態(tài)成像裝置;以及信號(hào)處理部,其用于對(duì)從所述固態(tài)成像裝置輸出的像素信號(hào)執(zhí)行信號(hào)處理。
根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例或第二實(shí)施例,所述保護(hù)膜用于防止水分及雜質(zhì)的進(jìn)入。
根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施例或第二實(shí)施例,可提高固態(tài)成像裝置的防水性。
附圖說明
圖1是圖示現(xiàn)有技術(shù)的CMOS圖像傳感器的結(jié)構(gòu)的示意性剖視圖;
圖2是圖示現(xiàn)有技術(shù)的CMOS圖像傳感器的結(jié)構(gòu)的示意性剖視圖;
圖3是圖示應(yīng)用本發(fā)明的CMOS圖像傳感器的實(shí)施例的構(gòu)造示例的方框圖;
圖4是圖示形成應(yīng)用本發(fā)明的CMOS圖像傳感器的芯片的基本結(jié)構(gòu)的示意性剖視圖;
圖5是圖示形成應(yīng)用本發(fā)明的CMOS圖像傳感器的芯片的基本結(jié)構(gòu)的示意性平面圖;
圖6是圖示形成應(yīng)用本發(fā)明的CMOS圖像傳感器的芯片的第一實(shí)施例的示意性剖視圖;
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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