[發(fā)明專利]對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的方法和裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310395611.6
• 申請(qǐng)日: 2013-09-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN104423375B
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-07-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王茜;劉洋
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 航天信息股份有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G05B23/02
• 分類(lèi)號(hào): G05B23/02
• 代理公司: 北京工信聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11266
• 代理人: 黃曉軍

1.一種對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于，包括：

將測(cè)試電路板通過(guò)多條數(shù)據(jù)線和車(chē)載單元連接，所述多條數(shù)據(jù)線中包括數(shù)據(jù)傳輸線和測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線；

所述測(cè)試電路板通過(guò)所述數(shù)據(jù)傳輸線將測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸給所述車(chē)載單元；

通過(guò)調(diào)節(jié)所述測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值使所述車(chē)載單元進(jìn)入指定的測(cè)試狀態(tài)，所述車(chē)載單元從所述測(cè)試數(shù)據(jù)中獲取所述指定的測(cè)試狀態(tài)對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，并執(zhí)行所述測(cè)試程序。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于，所述測(cè)試電路板通過(guò)所述數(shù)據(jù)傳輸線將測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸給所述車(chē)載單元之前，還包括：

將所述測(cè)試電路板通過(guò)USB接口和上位機(jī)相連，所述上位機(jī)通過(guò)USB接口將所述測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸給所述測(cè)試電路板。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于，所述通過(guò)調(diào)節(jié)所述測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值使所述車(chē)載單元進(jìn)入指定的測(cè)試狀態(tài)，包括：

所述測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的數(shù)量為多條，所述多條測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值的每種組合分別和車(chē)載單元的一種測(cè)試狀態(tài)唯一對(duì)應(yīng)；

獲取需要測(cè)試的車(chē)載單元的指定的測(cè)試狀態(tài)唯一對(duì)應(yīng)的多條測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值的指定組合，根據(jù)所述指定組合調(diào)節(jié)所述多條測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于，所述多條測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值的每種組合分別和車(chē)載單元的一種測(cè)試狀態(tài)唯一對(duì)應(yīng)，包括：

所述測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的數(shù)量為2條，分別為第一測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線和第二測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線，所述第一測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線和所述第二測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線通過(guò)設(shè)置在所述測(cè)試電路板上的開(kāi)關(guān)來(lái)調(diào)節(jié)電平值為高或低；

所述第一測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為高和所述第二測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為高時(shí)，車(chē)載單元進(jìn)入喚醒測(cè)試狀態(tài)；

所述第一測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為高和所述第二測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為低時(shí)，車(chē)載單元進(jìn)入物理層測(cè)試狀態(tài)；

所述第一測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為低和所述第二測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為高時(shí)，車(chē)載單元進(jìn)入自檢測(cè)狀態(tài)；

所述第一測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為低和所述第二測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值設(shè)為低時(shí)，車(chē)載單元進(jìn)入交易狀態(tài)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于，所述車(chē)載單元的交易狀態(tài)為所述車(chē)載單元的默認(rèn)初始狀態(tài)，所述默認(rèn)初始狀態(tài)為所述車(chē)載單元的正常運(yùn)行狀態(tài)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于，所述車(chē)載單元從所述測(cè)試數(shù)據(jù)中獲取所述指定的測(cè)試狀態(tài)對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，并執(zhí)行所述測(cè)試程序，包括：

所述車(chē)載單元接收到所述測(cè)試電路板傳輸過(guò)來(lái)的測(cè)試數(shù)據(jù)后，提取所述測(cè)試數(shù)據(jù)中包含的車(chē)載單元的多種測(cè)試狀態(tài)分別對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，將測(cè)試狀態(tài)和對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序關(guān)聯(lián)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)介質(zhì)中；

所述車(chē)載單元進(jìn)入指定的測(cè)試狀態(tài)后，根據(jù)所述指定的測(cè)試狀態(tài)查詢所述存儲(chǔ)介質(zhì)，獲取所述指定的測(cè)試狀態(tài)對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，并執(zhí)行所述測(cè)試程序。

7.一種對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的裝置，其特征在于，包括：車(chē)載單元、測(cè)試電路板，

所述測(cè)試電路板，用于通過(guò)多條數(shù)據(jù)線和所述車(chē)載單元連接，所述多條數(shù)據(jù)線中包括數(shù)據(jù)傳輸線和測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線，通過(guò)所述數(shù)據(jù)傳輸線將測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸給所述車(chē)載單元；通過(guò)調(diào)節(jié)所述測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值使所述車(chē)載單元進(jìn)入指定的測(cè)試狀態(tài)；

所述車(chē)載單元，用于從所述測(cè)試數(shù)據(jù)中獲取所述指定的測(cè)試狀態(tài)對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序，并執(zhí)行所述測(cè)試程序。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

上位機(jī)，用于通過(guò)USB接口和所述測(cè)試電路板相連，通過(guò)USB接口將所述測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸給所述測(cè)試電路板。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的對(duì)車(chē)載單元進(jìn)行測(cè)試的裝置，其特征在于：

所述的測(cè)試電路板，具體用于當(dāng)所述測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的數(shù)量為多條時(shí)，設(shè)置所述多條測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值的每種組合分別和車(chē)載單元的一種測(cè)試狀態(tài)唯一對(duì)應(yīng)；獲取需要測(cè)試的車(chē)載單元的指定的測(cè)試狀態(tài)唯一對(duì)應(yīng)的多條測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值的指定組合，根據(jù)所述指定組合調(diào)節(jié)所述多條測(cè)試狀態(tài)設(shè)置線的電平值。