[發明專利]用于進行樣品分析的測試方法、測試裝置和測試設備有效
| 申請號： | 201310392160.0 | 申請日： | 2013-09-02 |
| 公開（公告）號： | CN104422745A | 公開（公告）日： | 2015-03-18 |
| 發明（設計）人： | 王文祥;孫楓;徐宏坤;李建輝;李瑋明;周慧;張江鋒;張錫婭 | 申請（專利權）人： | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N30/86 | 分類號： | G01N30/86 |
| 代理公司： | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人： | 劉映東 |
| 地址： | 100007 北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 進行 樣品 分析 測試 方法 裝置 設備 | ||
1.一種用于進行樣品分析的測試方法，其特征在于，包括：
獲取待測試樣品的GC-FID譜圖和GC-MS譜圖，所述GC-FID譜圖包括各個色譜峰在GC-FID譜圖上的保留時間，所述GC-MS譜圖包括各個色譜峰在GC-MS譜圖上的保留時間；
根據所述待測試樣品各個色譜峰在GC-MS譜圖上的保留時間，結合預設公式，計算待測試樣品各個色譜峰在GC-FID譜圖上的預測保留時間；
根據所述待測試樣品各個色譜峰在GC-FID譜圖上的預測保留時間，確定GC-FID譜圖上與GC-MS譜圖上各個色譜峰對應關系；
記錄在GC-FID譜圖上已確定對應關系的色譜峰的峰面積；
根據各個組分對應的峰面積，計算各個組分的實際含量。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述待測試樣品各個色譜峰在GC-MS譜圖上的保留時間，結合預設公式，計算待測試樣品各個色譜峰在GC-FID譜圖上的預測保留時間包括：待測試樣品各個色譜峰在GC-FID譜圖上的預測保留時間由以下公式確定：
其中，TSM為待測試樣品的色譜峰在GC-MS譜圖上的保留時間，TRMn和TRMn+1為參考樣品色譜峰中緊鄰待測試樣品色譜峰的前后兩個峰在GC-MS譜圖上的保留時間，TRFn和TRFn+1為參考樣品的色譜峰中緊鄰待測試樣品色譜峰的前后兩個峰在GC-FID譜圖上的保留時間，n為色譜峰的序號。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述待測試樣品各個色譜峰在GC-MS譜圖上的保留時間，結合預設公式，計算待測試樣品各個色譜峰在GC-FID譜圖上的預測保留時間之前，所述方法還包括：
獲取參考樣品的GC-FID譜圖和GC-MS譜圖，GC-FID譜圖包括各個色譜峰在GC-FID譜圖上的保留時間，GC-MS譜圖包括各個色譜峰在GC-MS譜圖上的保留時間。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述待測試樣品各個色譜峰在GC-FID譜圖上的預測保留時間，確定GC-FID譜圖上與GC-MS譜圖上各個色譜峰對應關系包括：
根據計算得到的待測樣品各個色譜峰在GC-FID譜圖上的預測保留時間和預設時間窗口，確定GC-FID譜圖上與GC-MS譜圖上各個色譜峰對應關系。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據各個組分對應的峰面積，計算各個組分的實際含量包括：根據各個組分對應的峰面積及其校正系數，計算各個組分的實際含量。
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