[發(fā)明專利]一種用于子孔徑拼接檢測的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310390270.3
• 申請日: 2013-09-01
• 公開（公告）號: CN103439090A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發(fā)明（設計）人: 汪利華;吳時彬;任戈;景洪偉;譚毅;楊偉
• 申請（專利權）人: 中國科學院光電技術研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251
• 代理人: 成金玉;賈玉忠

1.一種用于子孔徑拼接檢測的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法，其特征在于實現(xiàn)步驟如下：

步驟1：根據(jù)被檢光學元件或光學系統(tǒng)口徑計算其外接圓半徑R，定義外接圓口徑為全口徑；

步驟2：將同一圈相鄰子孔徑圓心與兩子孔徑自身交點相連，形成角度為θ，輸入θ大小，范圍為0°≤θ≤120°中任意角度值；

步驟3：根據(jù)θ大小和子孔徑半徑r，求出同一圈相鄰子孔徑圓心距離d；

步驟4：根據(jù)全口徑半徑R、子孔徑半徑r以及相鄰子孔徑圓心距離d，求子孔徑采樣所需圈數(shù)；

步驟5：計算每一圈采樣所需子孔徑個數(shù)以及每個子孔徑坐標位置；

步驟6：對步驟5所有子孔徑進行編號。

2.根據(jù)權利要求1所述的用于子孔徑拼接檢測的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法，其特征在于：所述步驟3中同一圈相鄰子孔徑圓心距離d由式（1）求出，

d=2rsinθ2---(1).]]>

3.根據(jù)權利要求1所述的用于子孔徑拼接檢測的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法，其特征在于：所述步驟4中子孔徑采樣所需圈數(shù)由式（2）求出，

N=ceil(R-rd+1)············r0=0ceil(R-2r-r0d+1)······r0≠0---(2)]]>

式（2）中N子孔徑采樣所需圈數(shù)，R為被檢光學元件或光學系統(tǒng)外接圓半徑，d為同一圈相鄰子孔徑圓心距離，r為子孔徑半徑，當被檢光學元件或光學系統(tǒng)有中心遮攔時，r₀為中心遮攔半徑，沒有中遮攔時r₀為0；ceil(x)表示括號里面數(shù)x取不小于x的最小整數(shù)。