[發(fā)明專(zhuān)利]一種用于子孔徑拼接檢測(cè)的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310390270.3
• 申請(qǐng)日: 2013-09-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103439090A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-12-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汪利華;吳時(shí)彬;任戈;景洪偉;譚毅;楊偉
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院光電技術(shù)研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01M11/02
• 分類(lèi)號(hào): G01M11/02
• 代理公司: 北京科迪生專(zhuān)利代理有限責(zé)任公司 11251
• 代理人: 成金玉;賈玉忠

1.一種用于子孔徑拼接檢測(cè)的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法，其特征在于實(shí)現(xiàn)步驟如下：

步驟1：根據(jù)被檢光學(xué)元件或光學(xué)系統(tǒng)口徑計(jì)算其外接圓半徑R，定義外接圓口徑為全口徑；

步驟2：將同一圈相鄰子孔徑圓心與兩子孔徑自身交點(diǎn)相連，形成角度為θ，輸入θ大小，范圍為0°≤θ≤120°中任意角度值；

步驟3：根據(jù)θ大小和子孔徑半徑r，求出同一圈相鄰子孔徑圓心距離d；

步驟4：根據(jù)全口徑半徑R、子孔徑半徑r以及相鄰子孔徑圓心距離d，求子孔徑采樣所需圈數(shù)；

步驟5：計(jì)算每一圈采樣所需子孔徑個(gè)數(shù)以及每個(gè)子孔徑坐標(biāo)位置；

步驟6：對(duì)步驟5所有子孔徑進(jìn)行編號(hào)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于子孔徑拼接檢測(cè)的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法，其特征在于：所述步驟3中同一圈相鄰子孔徑圓心距離d由式（1）求出，

d=2rsinθ2---(1).]]>

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于子孔徑拼接檢測(cè)的數(shù)據(jù)采樣路徑規(guī)劃方法，其特征在于：所述步驟4中子孔徑采樣所需圈數(shù)由式（2）求出，

N=ceil(R-rd+1)············r0=0ceil(R-2r-r0d+1)······r0≠0---(2)]]>

式（2）中N子孔徑采樣所需圈數(shù)，R為被檢光學(xué)元件或光學(xué)系統(tǒng)外接圓半徑，d為同一圈相鄰子孔徑圓心距離，r為子孔徑半徑，當(dāng)被檢光學(xué)元件或光學(xué)系統(tǒng)有中心遮攔時(shí)，r₀為中心遮攔半徑，沒(méi)有中遮攔時(shí)r₀為0；ceil(x)表示括號(hào)里面數(shù)x取不小于x的最小整數(shù)。