[發(fā)明專利]一種解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310385666.9
• 申請日: 2013-08-23
• 公開（公告）號: CN104422730A
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發(fā)明（設計）人: 楊斌
• 申請（專利權(quán)）人: 重慶長安工業(yè)(集團)有限責任公司
• 主分類號: G01N27/84
• 分類號: G01N27/84
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法。

背景技術(shù)

目前WA332產(chǎn)品的03-024轉(zhuǎn)換開關(guān)，有多個零件焊接而成，然后機加形成成品。在實際探傷過程中，對該零件進行磁化時，因該零件的長寬比太小(零件長為147mm，寬為80mm，長寬比為147：80=1.8)，在磁粉探傷機進行磁化時，由于反磁場較強，不能被探傷機縱向的螺旋形磁場郵校磁化，存在磁化盲區(qū)，造成未能磁化區(qū)域的裂紋不能有效顯現(xiàn)，特別是焊縫中的裂紋不能及時被發(fā)現(xiàn)，給該零件的缺陷檢驗帶來困難，且零件在后續(xù)的使用中存在較大的質(zhì)量隱患。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服該零件不能被有效磁化的問題，本發(fā)明的首要目的在于提供一種能夠有效磁化零件，使零件缺陷有效顯現(xiàn)，而且能提高檢驗勞動效率的解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法，為實現(xiàn)上述目的本發(fā)明的具體方案如下：

一種解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法，其特征在于：

若干被測零件連接，使連接后的被測零件總體長寬比不小于3。

優(yōu)選的，所述若干被測零件連接縱向、對稱連接。

優(yōu)選的，探傷時提高探傷電流。

本發(fā)明提供的解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法使零件在探傷時，能更有效迎合探傷機螺旋磁場的磁化作用，大大降低了磁化時的反磁場作用，達到磁化零件的目的。

具體實施方式

下面將結(jié)合具體實施例來詳細說明本發(fā)明，在此本發(fā)明的示意性實施例以及說明用來解釋本發(fā)明，但并不作為對本發(fā)明的限定。

實施例1

一種解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法，其技術(shù)方案是：

自制專用探傷檢具，將兩個長為120mm，寬為80mm的被測零件連接在一起，探傷時被測零件的長寬比為3(120*2：80=3.7)。

實施例2

一種解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法，其技術(shù)方案是：

自制專用探傷檢具，將兩個長為147mm，寬為80mm的被測零件縱向、對稱連接在一起，探傷時被測零件的長寬比為3.7(147*2：80=3.7)。

實施例3

一種解決探傷存在磁化盲區(qū)的檢驗方法，其技術(shù)方案是：

自制專用探傷檢具，將三個長為147mm，寬為80mm的被測零件縱向、對稱連接在一起，探傷時被測零件的長寬比為5.5(147*3：80=5.5)，必要時提高探傷電流。

以上對本發(fā)明實施例所提供的技術(shù)方案進行了詳細介紹，本文中應用了具體個例對本發(fā)明實施例的原理以及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只適用于幫助理解本發(fā)明實施例的原理；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本發(fā)明實施例，在具體實施方式以及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應理解為對本發(fā)明的限制。