[發明專利]太赫茲光譜測定裝置及方法和非線性光學晶體檢查裝置及方法有效
| 申請號： | 201310384997.0 | 申請日： | 2013-08-29 |
| 公開（公告）號： | CN103674245B | 公開（公告）日： | 2017-03-01 |
| 發明（設計）人： | 北村茂 | 申請（專利權）人： | 愛科來株式會社 |
| 主分類號： | G01J3/28 | 分類號： | G01J3/28;G01N21/25;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司11127 | 代理人： | 李輝,黃綸偉 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 赫茲 光譜 測定 裝置 方法 非線性 光學 晶體 檢查 | ||
【說明書】：
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