[發(fā)明專利]太赫茲光譜測定裝置及方法和非線性光學(xué)晶體檢查裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310384997.0 | 申請日： | 2013-08-29 |
| 公開（公告）號： | CN103674245B | 公開（公告）日： | 2017-03-01 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 北村茂 | 申請（專利權(quán)）人： | 愛科來株式會社 |
| 主分類號： | G01J3/28 | 分類號： | G01J3/28;G01N21/25;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127 | 代理人： | 李輝,黃綸偉 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 赫茲 光譜 測定 裝置 方法 非線性 光學(xué) 晶體 檢查 | ||
【權(quán)利要求書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于愛科來株式會社，未經(jīng)愛科來株式會社許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310384997.0/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
