[發明專利]面板測試用玻璃碰撞型探頭塊結構

無效

• 申請號: 201310381851.0
• 申請日: 2013-08-28
• 公開（公告）號: CN103675366A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 任永淳;尹彩榮;崔允淑;樸遇宗
• 申請（專利權）人: 未來技術股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京冠和權律師事務所 11399
• 代理人: 朱健

技術領域

本發明涉及面板測試用玻璃碰撞型探頭塊結構，更詳細地涉及構成探頭單元（probe?unit），從而改善接觸檢查對象體的頭塊（Head?Block）的組裝結構，進而解決現有單元結構中出現的問題，可更為穩定地進行檢查。

背景技術

一般使用探頭裝臵來檢查平板顯示器面板是否不良，上述探頭裝臵使用了葉片（blade）型、針（needle）型、彈簧（pogo）型和利用半導體微機電系統（MEMS）工程技術的微機電系統（MEMS）型等種類多樣的探頭單元。

探頭單元指在薄膜場效應晶體管LCD（TFT-LCD，Thin?Film?Transistor?LCD）、等離子顯示板（PDP，Plasma?Display?Panel）、場發射顯示器（FED，Field?emission?display）等平板顯示器（FPD，Flat?Panel?Display）的蜂窩（面板）（Cell(panel)）工藝的最終檢查步驟中，附著在蜂窩探頭（Cell-Prober）上，同時接觸面板（Panel）上的數據/門線路（Data/Gate?Line）的所有電極，從而進行視覺檢查（Visual?Inspection）的檢查裝臵。

換句話說,面板同時加載視頻信號和電源，對面板上的導線開/合（Line?on/off），以及各種斑點、異物等面板制造工藝中所產生的所有不良進行最終檢查的裝臵。

同時，探頭單元一般大致有以下構成：探頭塊，其為向位于液晶顯示器邊緣的多個電極加載試驗信號的探針（Probe?Pin）的集合體；信號發生器(Pattern?Generator)，其與探頭塊連接生成電子信號；源/門（Source/Gate）PCB部件，其將信號發生器劃分為X、Y線，傳送至上述TAB?IC。

上述液晶顯示器面板的畫質逐漸提高，并且這意味著每單位面積需要高密度像素顯示，為了測試上述像素，作為被驅動部位的LCD面板和驅動（Drive）IC（TAB?IC）間連接有高密度接觸介質，上述接觸介質也就是探頭單元(probe?unit)的頭塊（Head?Block）。

圖1至圖3是根據現有技術的測試用探頭單元和頭塊的示意圖。圖1是普通面板測試用探頭單元的立體圖，圖2是面板測試用玻璃碰撞型探頭塊結構的分解立體圖，圖3是圖2的側面圖。

探頭單元1的前端結合有與檢查對象體接觸的頭塊10，并且上述頭塊10的結構包括：軟性印刷電路板(FPCB)16，其用于傳送電子信號；驅動IC15，其與上述軟性印刷電路板(FPCB)16連接；Ni碰撞型微機電系統（MEMS）玻璃塊13，其為了實質性地接觸檢查對象體，并且加載電子信號，導電圖通過微機電系統（MEMS）工藝形成于玻璃（Glass）上；以及，緩沖部件12，其用于單元驅動時吸收上述玻璃塊的物理沖擊。

圖2是頭塊的分解立體圖，為了將Ni碰撞型微機電系統（MEMS）玻璃塊和驅動IC、軟性印刷電路板(FPCB)進行連接，必須考慮連接電極的前后方向，將軟性印刷電路板(FPCB)的末端面向內側面卷曲，從而與驅動IC連接。

上述現有結構的探頭單元的頭塊在探頭單元為了檢查而接近檢查對象體時，可具有12度左右的傾斜度進入，但是因軟性印刷電路板(FPCB)的卷曲部位而要避免接觸干擾，頭塊（Head?Block）必須傾斜接近。此時，當玻璃塊接觸到LCD面板的電極時，接觸面積變小，接觸壓力升高，從而確保電子連接的穩定性。

但其問題在于，當接觸壓力變大時，面板可能出現擦傷或粒子(particle)水平的受損，并且因此探頭單元的測定速度不得不受到限制，結果也會嚴重影響測定速度。

發明內容

由此，本發明的目的在于，提供一種探頭單元用頭塊，其改善構成于探頭單元的頭塊(Head?Block)的組裝結構，從而實現更穩定的顯示器面板檢查，由此提高檢查速度。

并且，目的在于，提供一種改良型探頭單元的頭塊，其通過結構改善，能夠確保檢查穩定性的同時，提高玻璃部件塊的生產收率。