[發明專利]一種模擬電路測試矢量生成方法

無效

• 申請號: 201310381466.6
• 申請日: 2013-08-28
• 公開（公告）號: CN103439646A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 王承;何進;杜彩霞;朱小安;何清興;鐘勝菊;梅金河
• 申請（專利權）人: 深圳華越天芯電子有限公司
• 主分類號: G01R31/316
• 分類號: G01R31/316
• 代理公司: 深圳市惠邦知識產權代理事務所 44271
• 代理人: 滿群

技術領域

本發明涉及集成電路測試技術領域，具體涉及一種模擬電路測試矢量生成(測試激勵)方法。

背景技術

客觀世界信號的本質決定了模擬電路無處不在和不可替代性，開展相關的理論和方法研究尤為重要。隨著電子技術的迅猛發展，特別是集成電路的密度和集成度提高，可利用的測試點有限，傳統的通過外部接觸介入的方式已經無能為力，這為模擬電路進行可測性分析和測試矢量生成的研究及應用提供了發展契機。

近年來，研究學者們在模擬電路故障診斷方面開展了不少工作，但在測試矢量生成方面關注度較少，通常根據經驗進行選擇，如：方波、脈沖和白噪聲等，具有一定的隨機性，缺少定性的研究。本發明解決的技術問題是，克服現有技術存在的上述缺陷，提供一種基于可測性分析的模擬電路測試矢量生成方法：其核心是對電路進行可測性分析，選擇被測電路的有效測試點，實現對模糊器件的確定；然后通過靈敏度計算，指導測試矢量生成，并對測試矢量進行壓縮以獲得最優測試集。本發明對模擬電路測試矢量生成非常有效，減少了計算處理復雜度，提高了故障診斷速度，具有較強的實用性。

發明內容

本發明需要解決的技術問題是，如何提供一種模擬電路測試矢量生成方法，能減少了計算處理復雜度，提高了故障診斷速度，具有很強的實用性，尤其對大規模模擬集成電路測試和診斷有效。

本發明的上述技術問題這樣解決：構建一種模擬電路測試矢量生成方法，其特征在于，包括以下步驟：

可測性分析：對待測電路進行可測性分析，根據待測電路的可測性測度值T從有效測試節點中選取被測電路的最佳測試節點集，且當可測性測度值T小于待測電路電路元件數目時，確定正則模糊組并最多從每一組中選擇一個元件作為待診斷元件；

測試矢量生成：根據方差[y(t)-y′(t)]²建立最佳測試節點集中各測試節點的靈敏度方程，通過計算靈敏度曲線極值點處的頻率，獲得所需測試矢量集合；y(t)是測試節點的正常輸出，y′(t)是測試節點的故障輸出；

測試矢量壓縮：對測試矢量集合中的測試矢量進行刪減，優化測試矢量數目。

按照本發明提供的生成方法，所述可測性分析步驟具體包括：

計算每個有效測試點的網絡傳遞函數：被測電路元件的故障診斷方程由所選可測試點的網絡傳遞函數組成，每個有效可測點的網絡傳遞函數如下：