[發明專利]一種模擬電路測試矢量生成方法

無效

• 申請號: 201310381466.6
• 申請日: 2013-08-28
• 公開（公告）號: CN103439646A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 王承;何進;杜彩霞;朱小安;何清興;鐘勝菊;梅金河
• 申請（專利權）人: 深圳華越天芯電子有限公司
• 主分類號: G01R31/316
• 分類號: G01R31/316
• 代理公司: 深圳市惠邦知識產權代理事務所 44271
• 代理人: 滿群

1.一種模擬電路測試矢量生成方法，其特征在于，包括以下步驟：

可測性分析：對待測電路進行可測性分析，根據待測電路的可測性測度值T從有效測試節點中選取被測電路的最佳測試節點集，且當可測性測度值T小于待測電路電路元件數目時，確定正則模糊組并最多從每一組中選擇一個元件作為待診斷元件；

測試矢量生成：根據方差[y(t)-y′(t)]²建立最佳測試節點集中各測試節點的靈敏度方程，通過計算靈敏度曲線極值點處的頻率，獲得所需測試矢量集合；y(t)是測試節點的正常輸出，y′(t)是測試節點的故障輸出；

測試矢量壓縮：對測試矢量集合中的測試矢量進行刪減，優化測試矢量數目。

2.根據權利要求1所述生成方法，其特征在于，所述可測性分析步驟具體包括：

計算每個有效測試點的網絡傳遞函數：被測電路元件的故障診斷方程由所選可測試點的網絡傳遞函數組成，每個有效可測點的網絡傳遞函數(s)如下：

Hl(k)(s)=Nl(p,s)D(p,s)=Σi=0nai(k)(p)bm(k)(p)sism+Σj=0m-1bj(k)(p)bm(k)(p)sj;]]>l＝1，2，Λ，K

其中：P＝[p₁，p₂，Λ，p_r]^T是潛在故障向量，S是復變量，測試節點數K是自然數；系數均為是電路元件參數的函數；D為導納矩陣，N_l為劃去導納矩陣D中第k行、第l列所有元素后所構成的矩陣。

計算每個測試節點的可測性矩陣：設第k個測試節點的可測性矩陣B_k如下：

Bk=1(bm(k))2bm(k)∂a0(k)∂p1-a0(k)∂bm(k)∂p1Kbm(k)∂a0(k)∂pq-a0(k)∂bm(k)∂pqΛΛΛbm(k)∂an(k)∂p1-an(k)∂bm(k)∂p1Λbm(k)∂an(k)∂pq-an(k)∂bm(k)∂pqbm(k)∂b0(k)∂p1-b0(k)∂bm(k)∂p1Λbm(k)∂b0(k)∂pq-b0(k)∂bm(k)∂pqΛΛΛbm(k)∂bm-1(k)∂p1-bm-1(k)∂bm(k)∂p1Λbm(k)∂bm-1(k)∂pq-bm-1(k)∂bm(k)∂pq]]>

其中：P＝[p₁，p₂，Λ，p_q]^T是潛在故障向量，測試節點數K是自然數；系數和均為是電路元件參數的函數。

優選測試點：計算待測電路的可測性測度值T，公式如下：

T＝rank(B^T)＝rank([B₁，B₂，Λ，B_k]^T)

根據待測電路的可測性測度值T，可選取被測電路的最佳測試節點集；rank()表示求矩陣的秩；

確定模糊元器件組：當可測性測度值T小于待測電路電路元件數目時，確定正則模糊組并最多從每一組中選擇一個元件作為待診斷元件；若所述可測性測度值T大于等于待測電路電路元件數目，則任意從待測電路中選取待診斷元件。