[發明專利]用于確定過程參數的測量裝置

在審

• 申請號: 201310374177.3
• 申請日: 2013-06-26
• 公開（公告）號: CN103512612A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: W·巴貝爾
• 申請（專利權）人: 克羅內分析學有限責任公司
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02;G01D11/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 陳浩然;楊國治

技術領域

本發明涉及一種用于確定至少一個過程參數的測量裝置，尤其用于液體和／或氣體分析，其帶有用于測量過程參數的至少一個傳感元件和帶有至少一個電子部件，其中，傳感元件經由至少一個電導體與電子部件連接。在此設計有至少一個適配器單元，其至少部分地布置在傳感元件與電子部件之間并且其至少逐段地引導該至少一個電導體。此外，適配器單元規定傳感元件與電子部件之間的最小間距。

背景技術

在現代的處理和自動化技術中，為了監控和確定過程參數使用測量裝置，其產生取決于待測量的過程參數的測量參數。測量參數通常是可供評估和再加工使用的電信號。過程參數例如是介質的流量、pH值、填充水平或溫度。

現有技術的這樣的測量裝置通常至少具有傳感元件(其大多與過程介質接觸或相互作用且用于真正的測量)且具有至少一個后置的電子部件，其必要時控制傳感元件的測量或者評估或再加工傳感元件的測量信號。在現有技術中，為了傳感元件與電子部件之間的連接，大多將傳感元件的電線焊接到電子部件處。之后將電子部件和傳感元件推到一起，以便與其他元件或殼體等形成測量裝置。通過推到一起，電線被部分地壓緊或折皺或者甚至會出現焊點斷裂。由此在制造和／或維護這里所談及的測量儀時可能產生高的次品率。這對于這樣的測量裝置尤其是有問題的，其不止唯一一次、即在初始制造時被組裝在一起，而是其由其使用引起被多次拆開和組裝。其例如適用于(根據使用情況)僅具有較少使用壽命的傳感元件、例如用于測量pH值的傳感元件。

對于傳感元件的保護或可靠的間距調節，在現有技術中存在一整系列設計方案，其例如在以下文件中來說明：DE42?34?133C2、DE10064?811A1、DE196?10?167C1、DE203?13?695U1、DE20?2006?018?019U1、DE10?2007?001?445A1或DE10?2008?063?691A1。

發明內容

本發明因此目的在于提出一種測量裝置，其包含經由備選于現有技術設計的適配器單元在傳感元件與電子部件之間的盡可能可靠的連接。

根據本發明，對于所談及的測量裝置，所指出的目的首先且主要由此來實現，即傳感元件在面向電子部件的端部處具有尤其柱狀的部段(Abschnitt)，其相對于電子部件的端部的殘余物突出，適配器單元在面向傳感元件的端部處具有止動面且止動面貼靠在該部段上和／或圍繞該部段貼靠。適配器單元相應地防止在傳感元件與電子部件之間進一步靠近超過最小間距并且承載或引導該至少一個電導體。

傳感元件在端部處具有至少一個突出的部段，其在一變體中尤其柱狀地成形并且在補充的或備選的設計方案中在傳感元件的端部上布置在中間。在一設計方案中尤其該至少一個電導體延伸通過該提高的部段或者在另一設計方案中來引導所有電導體或傳感元件的接觸器件。在一設計方案中，該部段具有管的形狀。

適配器單元具有止動面，適配器單元以其碰撞到傳感元件的突出的部段處或者包圍它并且因此貼靠在傳感元件的端部的剩余的面處。

適配器單元用于支撐電子部件與傳感元件之間的過渡部。因為通過適配器單元來消除直接接觸，可限定在電子部件與傳感元件之間的最小間距且實現該至少一個電導體的引導。將穩定部(Stabilisierung)引入測量裝置中，其使負載遠離電導體或相應的與電子部件或與傳感元件的連接。在一設計方案中，適配器單元是塑料元件，其尤其被澆注或噴注。

為了引導該至少一個電導體，適配器單元具有尤其以洞或孔的形式的至少一個連續的凹槽(Aussparrung)。如果設置有多個電導體，則在設計方案中還使凹槽的數量提高直至優選地最多每個電導體一個凹槽。導體尤其可以是或多或少可移動的電線或銷(Stift)。

適配器單元的止動面提供傳感元件與電子部件之間的相對運動的機械限制器，其中，最小間距從適配器單元的設計和傳感元件及電子部件的彼此面向的端部中得出。

在一設計方案中，止動面設計為接片，其貼靠在傳感元件的部段上。在該設計方案中，止動面例如是筆直地延伸的棱邊或相對于適配器單元的相關的端部的殘余物提高的接片，適配器單元以其碰撞到傳感元件的提高的部段處。