[發(fā)明專利]用于測試存儲器的方法和系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310372870.7
• 申請日: 2013-08-23
• 公開（公告）號: CN104425040A
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發(fā)明（設計）人: 王飛;趙宇;孫翔
• 申請（專利權）人: 輝達公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京市磐華律師事務所 11336
• 代理人: 董巍;徐丁峰

技術領域

本發(fā)明總地涉及存儲器領域，且更具體地涉及用于測試存儲器的方法和系統(tǒng)。

背景技術

在圖形處理單元（GPU）系統(tǒng)的開發(fā)過程中，存儲器調試和質量檢驗是保證存儲器設計可以滿足預期性能（即運行在POR?dram時鐘）的關鍵步驟。在針對同步動態(tài)隨機存取存儲器（SDRAM）進行存儲器調試期間，常常遇到由地址總線上的事務錯誤而造成的存儲器故障。原因是由于地址總線上存在太多負載，因此其信號完整性減弱。例如，如圖1所示，來自GPU的CMD信號（本文將CMD和ADDR信號統(tǒng)稱為CMD信號）具有多達8個負載。其中T型分支在印刷電路板（PCB）布局中引入了短線和附加的通孔，這將使得信號完整性變差。

當調查存儲器故障時，與數(shù)據(jù)位不同，很難找出哪個/哪些地址位有錯誤。一般需要在實驗室中調查每個地址位，然后通過比較它們的眼圖來找出故障位。但是由于沒有明確的標準來判眼圖是好是壞，因此很難確認可疑地址位是否是具有信號完整性問題的故障位。當前采用的確認方式是改善可疑地址位的布局并建立新的PCB來進行驗證。因此該調試的過程是非常耗時且非經(jīng)濟高效的。

發(fā)明內(nèi)容

因此，需要提供一種測試存儲器的方法來解決上述的難以確認存儲器的地址位中的故障位的問題。

在一個實施例中，公開了一種用于測試存儲器的方法。方法包括以下步驟。將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值。向存儲器的、經(jīng)設置的待測地址位對應的存儲器單元寫入當前測試數(shù)據(jù)。讀出經(jīng)設置的待測地址位對應的存儲器單元中的當前回讀數(shù)據(jù)。將當前測試數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)作比較。根據(jù)當前測試數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)的比較結果判斷存儲器的、未經(jīng)設置的地址位是否存在信號完整性問題以確定故障地址位。

優(yōu)選地，方法進一步包括：在將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值之前，向存儲器的所有存儲器單元寫入原始測試數(shù)據(jù)；讀出所寫的所有存儲器單元中的原始回讀數(shù)據(jù)；將原始測試數(shù)據(jù)與原始回讀數(shù)據(jù)作比較。在根據(jù)當前測試數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)的比較結果判斷存儲器的、未經(jīng)設置的地址位是否存在信號完整性問題之后，方法進一步包括根據(jù)當前測試數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)的比較結果和原始測試數(shù)據(jù)與原始回讀數(shù)據(jù)的比較結果判斷至少一個待測地址位是否存在信號完整性問題。

優(yōu)選地，至少一個待測地址位包括至少一個先測地址位。方法進一步包括：在將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值之前，將存儲器的至少一個先測地址位中的每一個設置為固定值；向存儲器的、經(jīng)設置的先測地址位對應的存儲器單元寫入先前測試數(shù)據(jù)；讀出經(jīng)設置的先測地址位對應的存儲器單元中的先前回讀數(shù)據(jù)；將先前測試數(shù)據(jù)與先前回讀數(shù)據(jù)作比較。在根據(jù)當前測試數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)的比較結果判斷存儲器的、未經(jīng)設置的地址位是否存在信號完整性問題之后，方法進一步包括根據(jù)當前測試數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)的比較結果和先前測試數(shù)據(jù)與先前回讀數(shù)據(jù)的比較結果判斷至少一個待測地址位是否存在信號完整性問題。

優(yōu)選地，當前測試數(shù)據(jù)包含在標準數(shù)據(jù)中。向存儲器的、經(jīng)設置的待測地址位對應的存儲器單元寫入當前測試數(shù)據(jù)包括：從存儲器的首地址開始逐地址地向存儲器寫入標準數(shù)據(jù)。將當前測試數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)作比較包括：根據(jù)經(jīng)設置的待測地址位將標準數(shù)據(jù)進行重組以形成與當前測試數(shù)據(jù)相同的重組數(shù)據(jù)，將重組數(shù)據(jù)與當前回讀數(shù)據(jù)作比較。

優(yōu)選地，當前測試數(shù)據(jù)包含在標準數(shù)據(jù)中。在向存儲器的、經(jīng)設置的待測地址位對應的存儲器單元寫入當前測試數(shù)據(jù)之前，方法進一步包括根據(jù)經(jīng)設置的待測地址位將標準數(shù)據(jù)進行拆分以獲得當前測試數(shù)據(jù)。

優(yōu)選地，至少一個待測地址位是按順序選擇的。

優(yōu)選地，至少一個待測地址位是采用二分法選擇的。

優(yōu)選地，方法進一步包括：在將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值之前，為所有地址位中的每一個定義寄存器。寄存器用于表示三種狀態(tài)：地址位不設置為固定值、地址位設置為0和地址位設置為1。

優(yōu)選地，三種狀態(tài)物理地由一個或多個開關所確定，其中一個或多個開關中的每一個由一個或多個晶體管組成。

優(yōu)選地，將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值包括將至少一個待測地址位中的每一個的地址線與地或電源相連接。

優(yōu)選地，將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值包括將邏輯低電平或邏輯高電平輸入至少一個待測地址位中的每一個的地址線。