[發明專利]用于測試存儲器的方法和系統

在審

• 申請號: 201310372870.7
• 申請日: 2013-08-23
• 公開（公告）號: CN104425040A
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: 王飛;趙宇;孫翔
• 申請（專利權）人: 輝達公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京市磐華律師事務所 11336
• 代理人: 董巍;徐丁峰

1.一種用于測試存儲器的方法，包括：

將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值；

向所述存儲器的、經設置的待測地址位對應的存儲器單元寫入當前測試數據；

讀出所述經設置的待測地址位對應的存儲器單元中的當前回讀數據；

將所述當前測試數據與所述當前回讀數據作比較；以及

根據所述當前測試數據與所述當前回讀數據的比較結果判斷所述存儲器的、未經設置的地址位是否存在信號完整性問題以確定故障地址位。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法進一步包括：在將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值之前，

向所述存儲器的所有存儲器單元寫入原始測試數據；

讀出所寫的所述所有存儲器單元中的原始回讀數據；

將所述原始測試數據與所述原始回讀數據作比較；

在根據所述當前測試數據與所述當前回讀數據的比較結果判斷所述存儲器的、未經設置的地址位是否存在信號完整性問題之后，

根據所述當前測試數據與所述當前回讀數據的比較結果和所述原始測試數據與所述原始回讀數據的比較結果判斷所述至少一個待測地址位是否存在信號完整性問題。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個待測地址位包括至少一個先測地址位，所述方法進一步包括：在將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值之前，

將所述存儲器的所述至少一個先測地址位中的每一個設置為固定值；

向所述存儲器的、經設置的先測地址位對應的存儲器單元寫入先前測試數據；

讀出所述經設置的先測地址位對應的存儲器單元中的先前回讀數據；

將所述先前測試數據與所述先前回讀數據作比較；

在根據所述當前測試數據與所述當前回讀數據的比較結果判斷所述存儲器的、未經設置的地址位是否存在信號完整性問題之后，

根據所述當前測試數據與所述當前回讀數據的比較結果和所述先前測試數據與所述先前回讀數據的比較結果判斷所述至少一個待測地址位是否存在信號完整性問題。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述當前測試數據包含在標準數據中，

所述向所述存儲器的、經設置的待測地址位對應的存儲器單元寫入當前測試數據包括：從所述存儲器的首地址開始逐地址地向所述存儲器寫入所述標準數據；

所述將所述當前測試數據與所述當前回讀數據作比較包括：根據所述經設置的待測地址位將所述標準數據進行重組以形成與所述當前測試數據相同的重組數據，將所述重組數據與所述當前回讀數據作比較。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述當前測試數據包含在標準數據中，

在向所述存儲器的、經設置的待測地址位對應的存儲器單元寫入當前測試數據之前，所述方法進一步包括根據所述經設置的待測地址位將所述標準數據進行拆分以獲得所述當前測試數據。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個待測地址位是按順序選擇的。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述至少一個待測地址位是采用二分法選擇的。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法進一步包括：在將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值之前，為所有地址位中的每一個定義寄存器，所述寄存器用于表示三種狀態：地址位不設置為固定值、地址位設置為0和地址位設置為1。

9.如權利要求8所述的方法，其特征在于，所述三種狀態物理地由一個或多個開關所確定，其中所述一個或多個開關中的每一個由一個或多個晶體管組成。

10.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值包括將所述至少一個待測地址位中的每一個的地址線與地或電源相連接。

11.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將存儲器的至少一個待測地址位中的每一個設置為固定值包括將邏輯低電平或邏輯高電平輸入所述至少一個待測地址位中的每一個的地址線。