[發(fā)明專利]晶圓級一次性編程OTP芯片測試方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310370325.4 | 申請日： | 2013-08-22 |
| 公開（公告）號： | CN104422865B | 公開（公告）日： | 2017-06-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王亦農(nóng);沃良珉;鄭玲玲;周彥杰;王海群 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海東軟載波微電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11205 | 代理人： | 程爽 |
| 地址： | 200235 上海市徐匯區(qū)龍*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 晶圓級 一次性 編程 otp 芯片 測試 方法 裝置 | ||
1.一種晶圓級一次性編程OTP芯片測試方法，其特征在于，包括：
根據(jù)測試程序，對一次性編程OTP芯片自身進(jìn)行測試，所述測試程序預(yù)先燒錄在所述OTP芯片的供用戶使用的一次性編程只讀存儲器OTP ROM中；
測試完成后，對所述OTP芯片進(jìn)行紫外線擦除處理，以恢復(fù)所述供用戶使用的OTP ROM的一次性編程功能；
所述測試程序包括多個子測試程序；每個所述子測試程序?qū)?yīng)至少一項功能測試；所述根據(jù)所述測試程序，對所述OTP芯片自身進(jìn)行測試，具體包括：
復(fù)位所述OTP芯片，獲取當(dāng)前的選擇標(biāo)識；
若所述選擇標(biāo)識不為預(yù)設(shè)的多個標(biāo)識之一，則通過控制所述OTP芯片運行預(yù)設(shè)的初始子測試程序，對所述OTP芯片進(jìn)行功能測試，若所述功能測試通過，則設(shè)置所述選擇標(biāo)識為所述多個標(biāo)識中的任一標(biāo)識，并再次執(zhí)行所述復(fù)位所述OTP芯片的步驟；
其中，所述初始子測試程序為所述多個子測試程序中的任一子測試程序，所述多個標(biāo)識與所述多個子測試程序中除所述初始子測試程序以外的其它子測試程序一一對應(yīng)；
若所述選擇標(biāo)識為所述多個標(biāo)識之一，則通過控制所述OTP芯片運行所述選擇標(biāo)識對應(yīng)的子測試程序，對所述OTP芯片進(jìn)行功能測試，若所述功能測試通過，則設(shè)置所述選擇標(biāo)識為當(dāng)前未被所述OTP芯片運行的任一子測試程序?qū)?yīng)的標(biāo)識，并再次執(zhí)行所述復(fù)位所述OTP芯片的步驟，直至所述多個子測試程序?qū)?yīng)的功能測試均通過測試，則所述OTP芯片合格，否則，所述OTP芯片不合格。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對所述OTP芯片進(jìn)行功能測試之前，還包括：
為所述功能測試添加對應(yīng)的功能測試標(biāo)識；
所述對所述OTP芯片進(jìn)行所述功能測試之后，還包括：
若所述功能測試未通過，則輸出包括所述功能測試對應(yīng)的功能測試標(biāo)識的芯片不合格消息。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述子測試程序?qū)?yīng)一項功能測試；所述設(shè)置所述選擇標(biāo)識為所述多個標(biāo)識中的任一標(biāo)識，或者所述設(shè)置所述選擇標(biāo)識為當(dāng)前未被所述OTP芯片運行的任一子測試程序?qū)?yīng)的標(biāo)識之后，還包括：
獲取所述功能測試對應(yīng)的測試激勵信號，并根據(jù)所述測試激勵信號對所述OTP芯片進(jìn)行性能參數(shù)測試；
所述再次執(zhí)行所述復(fù)位所述OTP芯片的步驟，具體包括：
若所述性能參數(shù)測試通過，則再次執(zhí)行所述復(fù)位所述OTP芯片的步驟。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試激勵信號對所述OTP芯片進(jìn)行性能參數(shù)測試之后，還包括：
若所述性能參數(shù)測試未通過，則輸出芯片不合格消息。
5.一種晶圓級一次性編程OTP芯片測試裝置，其特征在于，包括：
第一處理模塊，用于根據(jù)測試程序，對一次性編程OTP芯片自身進(jìn)行測試，所述測試程序預(yù)先燒錄在所述OTP芯片的供用戶使用的一次性編程只讀存儲器OTP ROM中；
擦除模塊，用于測試完成后，對所述OTP芯片進(jìn)行紫外線擦除處理，以恢復(fù)所述供用戶使用的OTP ROM的一次性編程功能；
所述測試程序包括多個子測試程序；每個所述子測試程序?qū)?yīng)至少一項功能測試；所述第一處理模塊包括：
獲取單元，用于復(fù)位所述OTP芯片，獲取當(dāng)前的選擇標(biāo)識；
第一處理單元，用于若所述選擇標(biāo)識不為預(yù)設(shè)的多個標(biāo)識之一，則通過控制所述OTP芯片運行預(yù)設(shè)的初始子測試程序，對所述OTP芯片進(jìn)行功能測試，若所述功能測試通過，則設(shè)置所述選擇標(biāo)識為所述多個標(biāo)識中的任一標(biāo)識，并再次執(zhí)行所述復(fù)位所述OTP芯片的步驟；
其中，所述初始子測試程序為所述多個子測試程序中的任一子測試程序，所述多個標(biāo)識與所述多個子測試程序中除所述初始子測試程序以外的其它子測試程序一一對應(yīng)；
第二處理單元，用于若所述選擇標(biāo)識為所述多個標(biāo)識之一，則通過控制所述OTP芯片運行所述選擇標(biāo)識對應(yīng)的子測試程序，對所述OTP芯片進(jìn)行功能測試，若所述功能測試通過，則設(shè)置所述選擇標(biāo)識為當(dāng)前未被所述OTP芯片運行的任一子測試程序?qū)?yīng)的標(biāo)識，并再次執(zhí)行所述復(fù)位所述OTP芯片的步驟；
判斷單元，用于若所述多個子測試程序?qū)?yīng)的功能測試均通過測試，則判斷所述OTP芯片合格，否則，判斷所述OTP芯片不合格。
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