[發明專利]一種SiC光學材料加工設備有效
| 申請號: | 201310366741.7 | 申請日: | 2013-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN103456610A | 公開(公告)日: | 2013-12-18 |
| 發明(設計)人: | 解旭輝;史寶魯;李圣怡;戴一帆;周林;廖春德 | 申請(專利權)人: | 中國人民解放軍國防科學技術大學 |
| 主分類號: | H01L21/263 | 分類號: | H01L21/263;G02B5/08 |
| 代理公司: | 湖南兆弘專利事務所 43008 | 代理人: | 趙洪 |
| 地址: | 410073 湖南省長沙市硯瓦池正街47*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 sic 光學材料 加工 設備 | ||
1.一種SiC光學材料加工設備,其特征在于:包括電感耦合等離子體發生裝置、工作氣體供給源(8)和反應氣體供給源(9),所述反應氣體供給源(9)中裝有能通過電感耦合等離子體發生裝置激發后與SiC發生化學反應的反應氣體,所述電感耦合等離子體發生裝置包括等離子體炬管(34)和套設于等離子體炬管(34)外的感應線圈(35),所述工作氣體供給源(8)和反應氣體供給源(9)與等離子體炬管(34)相連,所述感應線圈(35)的一端與射頻電源(4)相連,所述感應線圈(35)的另一端通過可調電阻器R1接地。
2.根據權利要求1所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述感應線圈(35)與等離子體炬管(34)外壁之間設有屏蔽金屬板(36),所述屏蔽金屬板(36)通過可調電容C3接地。
3.根據權利要求1或2所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述感應線圈(35)的一端通過阻抗匹配器(5)與射頻電源(4)相連。
4.根據權利要求1或2所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述反應氣體供給源(9)和工作氣體供給源(8)與等離子體炬管(34)的連接線路上設有質量流量控制器(10)。
5.根據權利要求1或2所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述等離子體炬管(34)安裝于一具有至少三軸聯動功能的數控運動平臺(2)上。
6.根據權利要求5所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述數控運動平臺(2)位于一封閉加工室(1)中,所述封閉加工室(1)連接一尾氣處理裝置(11)。
7.根據權利要求1或2所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述工作氣體供給源(8)與等離子體炬管(34)的連接線路上設有點火裝置(6)。
8.根據權利要求1或2所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述感應線圈(35)連接一水冷機(7)。
9.根據權利要求1或2所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述工作氣體供給源(8)與等離子體炬管(34)的中管和外管相連,所述反應氣體供給源(9)與等離子體炬管(34)的內管相連;或者,所述工作氣體供給源(8)與等離子體炬管(34)的外管相連,所述反應氣體供給源(9)與等離子體炬管(34)的中管相連。
10.根據權利要求1或2所述的SiC光學材料加工設備,其特征在于:所述反應氣體供給源(9)為SF6氣瓶或NF3氣瓶或CF4氣瓶。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





