[發(fā)明專利]曝光裝置、控制曝光裝置的方法和用于曝光的對齊方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310364831.2 | 申請日: | 2013-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN103869631A | 公開(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 全鎮(zhèn)弘;李石柱;延政勳 | 申請(專利權(quán))人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/20 | 分類號: | G03F7/20;G03F9/00 |
| 代理公司: | 北京英賽嘉華知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 11204 | 代理人: | 余朦;楊莘 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 曝光 裝置 控制 方法 用于 對齊 | ||
1.一種曝光裝置,包括:
主臺,被配置為調(diào)整基板的位置;
光束照射單元,被配置為將光束照射到掩膜上;以及
光束監(jiān)視單元,具有相對于所述主臺固定的位置,并且被配置為識別從所述光束照射單元發(fā)出且穿過所述掩膜中的開口以形成特定圖案的光束。
2.如權(quán)利要求1所述的曝光裝置,還包括控制單元,所述控制單元被配置為輸出表示所述主臺的位置的基板位置調(diào)整信號以調(diào)整所述基板的位置。
3.如權(quán)利要求2所述的曝光裝置,其中,所述控制單元基于與所述光束監(jiān)視單元獲得的光束有關(guān)的信息,輸出所述基板位置調(diào)整信號。
4.如權(quán)利要求3所述的曝光裝置,其中,所述控制單元被配置為檢查入射到所述光束監(jiān)視單元的光束的被監(jiān)視位置,其中所述被監(jiān)視位置是基于與所述光束監(jiān)視單元獲得的光束有關(guān)的信息,所述控制單元基于所述被監(jiān)視位置與預(yù)設(shè)參考位置之間的差別,輸出所述基板位置調(diào)整信號。
5.如權(quán)利要求4所述的曝光裝置,其中,從所述控制單元輸出的所述基板位置調(diào)整信號包括:
第一位置調(diào)整信號,用于允許所述基板的對齊鍵相對于所述光束照射單元被設(shè)置在預(yù)設(shè)對齊位置;以及
第二位置調(diào)整信號,對應(yīng)于以所述預(yù)設(shè)參考位置為起點以及以所述被監(jiān)視位置為終點的調(diào)整向量。
6.如權(quán)利要求4所述的曝光裝置,還包括對齊鍵監(jiān)視單元,所述對齊鍵監(jiān)視單元被配置為獲得與所述基板的對齊鍵的位置有關(guān)的信息,其中,從所述控制單元輸出的所述基板位置調(diào)整信號對應(yīng)于基向量與調(diào)整向量之和,所述基向量以所述對齊鍵監(jiān)視單元獲得的所述基板的對齊鍵的被檢測位置作為起點,以相對于所述光束照射單元的所述預(yù)設(shè)對齊位置作為終點,所述調(diào)整向量以所述預(yù)設(shè)參考位置作為起點,以所述被監(jiān)視位置作為終點。
7.如權(quán)利要求2所述的曝光裝置,還包括用于調(diào)整所述掩膜的位置的掩膜臺,其中,所述控制單元輸出表示所述掩膜臺的位置的掩膜位置調(diào)整信號,以基于與所述光束監(jiān)視單元獲得的光束有關(guān)的信息調(diào)整所述掩膜的位置。
8.如權(quán)利要求7所述的曝光裝置,其中,所述控制單元被配置為基于與所述光束監(jiān)視單元獲得的光束有關(guān)的信息,檢查入射到所述光束監(jiān)視單元的光束的被監(jiān)視位置,并且所述控制單元基于所述被監(jiān)視位置與預(yù)設(shè)參考位置之間的差別,輸出所述掩膜位置調(diào)整信號。
9.如權(quán)利要求2所述的曝光裝置,還包括對齊鍵監(jiān)視單元,所述對齊鍵監(jiān)視單元被配置為獲得與所述基板的對齊鍵的位置有關(guān)的信息,所述控制單元輸出被配置為對所述對齊鍵監(jiān)視單元的位置進行調(diào)整的對齊鍵監(jiān)視單元位置調(diào)整信號。
10.如權(quán)利要求9所述的曝光裝置,其中,所述控制單元基于與所述光束監(jiān)視單元獲得的光束有關(guān)的信息,輸出所述對齊鍵監(jiān)視單元位置調(diào)整信號。
11.如權(quán)利要求10所述的曝光裝置,其中,所述控制單元被配置為基于與所述光束監(jiān)視單元獲得的光束有關(guān)的信息,檢查入射到所述光束監(jiān)視單元的光束的被監(jiān)視位置,并且所述控制單元基于所述被監(jiān)視位置與預(yù)設(shè)參考位置之間的差別,輸出所述對齊鍵監(jiān)視單元位置調(diào)整信號。
12.如權(quán)利要求11所述的曝光裝置,其中,從所述控制單元輸出的所述對齊鍵監(jiān)視單元位置調(diào)整信號對應(yīng)于以所述預(yù)設(shè)參考位置為起點且以所述被監(jiān)視位置為終點的調(diào)整向量。
13.一種控制曝光裝置的方法,所述方法包括:
通過具有相對于主臺固定的位置的光束監(jiān)視單元,獲得與從光束照射單元發(fā)出且穿過掩膜中的開口以形成特定圖案的光束有關(guān)的信息;
基于與所述光束監(jiān)視單元獲得的光束有關(guān)的信息,檢查入射到所述光束監(jiān)視單元的光束的被監(jiān)視位置,并且檢查所述被監(jiān)視位置與預(yù)設(shè)參考位置之間的差別;
將基板安裝在所述主臺上或安裝在具有能夠由所述主臺調(diào)整的位置的基板安裝單元上;以及
通過基于所述被監(jiān)視位置與所述預(yù)設(shè)參考位置之間的差別輸出基板位置調(diào)整信號,調(diào)整所述基板的位置。
14.如權(quán)利要求13所述的方法,其中,調(diào)整所述基板的位置包括:
允許所述基板的對齊鍵相對于所述光束照射單元被設(shè)置在預(yù)設(shè)對齊位置;以及
通過以所述預(yù)設(shè)參考位置為起點且以所述被監(jiān)視位置為終點的調(diào)整向量,附加地調(diào)整所述基板的位置。
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