[發(fā)明專利]用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法及設(shè)備

有效

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• 申請日: 2013-08-20
• 公開（公告）號: CN103412267A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃可可
• 申請（專利權(quán)）人: 黃可可
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33226
• 代理人: 程曉明

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種測量磁偏角的方法及設(shè)備，尤其是涉及一種用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法及設(shè)備。

背景技術(shù)

近年來世界各國經(jīng)濟(jì)遭受連續(xù)不斷的金融危機和經(jīng)濟(jì)長時期低迷，降低勞動力成本的要求越顯敏感，生產(chǎn)自動化的需求越發(fā)迫切。種類繁多，且大小不一的新型電機作為自動化生產(chǎn)的主要器件，對其質(zhì)量和需求也明顯提高。瓦片狀磁性元件作為開發(fā)電機的重要元件，其性能的好壞直接影響了電機的質(zhì)量，因此瓦片狀磁性元件要求具有較好的性能。磁偏角作為瓦片狀磁性元件的一個性能參數(shù)，指的是磁體充磁后實際的磁場方向（等于取向方向）與幾何軸（設(shè)計的理想充磁方向）的一個夾角度，各向異性磁體實際的磁場方向是由磁體在壓制成型時取向磁場方向決定的，因此，瓦片狀永磁體元件的磁偏角是由各向異性的永磁體材料成型取向過程和加工過程的誤差造成的，不可避免。但是，瓦片狀磁性元件的磁偏角越小，制成的電機電磁力轉(zhuǎn)換成機械能（動力扭矩）效力就越高，轉(zhuǎn)動也平穩(wěn)，同時也要求其磁偏角不能太大，即不能超過設(shè)定的磁偏角的上限值（合格范圍內(nèi)）。

現(xiàn)有的測量瓦片狀磁性元件的磁偏角的方法是：首先通過3D亥姆霍茨線圈同時測量瓦片狀磁性元件的三維磁矩，然后通過儀表采集數(shù)據(jù)并進(jìn)行運算，計算出瓦片狀磁性元件實際的磁場方向與幾何軸的夾角，最后通過儀表的顯示屏或電腦的顯示器將測試所得的角度顯示出來。但是，上述方法存在以下缺陷：一、設(shè)備復(fù)雜，成本較高；二、在測量磁偏角時瓦片狀磁性元件必須具有磁性，即瓦片狀磁性元件在壓制取向成型后需要充磁后才能進(jìn)行磁偏角的測試，當(dāng)需要提供無磁的瓦片狀磁性元件時，在磁偏角測試完畢后需要對瓦片狀磁性元件進(jìn)行退磁處理，但是由燒結(jié)釹鐵硼等強磁材料制備而成的瓦片狀磁性元件充磁后很難退磁，且一旦退磁后很難再次充磁，因此上述方法僅能用于抽檢，無法保證整批次的瓦片狀磁性元件的磁偏角的合格率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題之一是提供一種成本較低，且可以對未充磁的瓦片狀磁性元件進(jìn)行檢測的用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法。本發(fā)明的用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法可實現(xiàn)瓦片狀磁體元件的磁偏角的全檢，保證整批次的瓦片狀磁性元件的磁偏角的合格率。

本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為：一種用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法，包括以下步驟：

①選取一個磁偏角為合格范圍的上限值的未充磁的瓦片狀磁體元件作為基準(zhǔn)件；

②將基準(zhǔn)件放置在一塊由非導(dǎo)磁材料制成的水平板上，基準(zhǔn)件的凹面朝上且左右兩端保持水平，將此時左右兩端的頂點的連接線設(shè)定為基準(zhǔn)線；

③在基準(zhǔn)件的正上方施加垂直向下或向上的磁場，基準(zhǔn)件的左端或者右端發(fā)生偏轉(zhuǎn)向上翹起；

④檢測基準(zhǔn)件向上翹起的一端相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度；

⑤取下基準(zhǔn)件；

⑥將未充磁的瓦片狀磁體元件待測產(chǎn)品凹面朝上放置在水平板上，待測產(chǎn)品的左右兩端位于基準(zhǔn)線上，對待測產(chǎn)品施加垂直向下的磁場；

⑦檢測待測產(chǎn)品向上翹起的一端相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度，將待測產(chǎn)品相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度與基準(zhǔn)件相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度進(jìn)行比較，如果待測產(chǎn)品相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度小于基準(zhǔn)件相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度，則該待測產(chǎn)品的磁偏角合格，反之不合格；

⑧重復(fù)步驟⑥和⑦，對一批次的待測產(chǎn)品進(jìn)行檢測。

所述的步驟④中采用光柵檢測基準(zhǔn)件向上翹起的一端相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)高度，所述的步驟④之后所述的步驟⑤之前還有測試基板的設(shè)置步驟，具體為：在基準(zhǔn)件向上翹起的一端的頂點處設(shè)置一測試基板，所述的測試基板的下端面為水平面且與基準(zhǔn)件向上翹起的一端的頂點位于一個水平面上，當(dāng)待測產(chǎn)品向上翹起的一端的頂點低于所述的測試基板的下端面時，表示待測產(chǎn)品相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度小于基準(zhǔn)件相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度，當(dāng)待測產(chǎn)品向上翹起的一端的頂點與所述的測試基板的下端面接觸時，表示待測產(chǎn)品相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度大于基準(zhǔn)件相對于基準(zhǔn)線偏轉(zhuǎn)的高度。

本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題之二是提供一種成本較低，且可以對無磁的瓦片狀磁性元件進(jìn)行檢測的用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的設(shè)備。本發(fā)明的用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的設(shè)備可實現(xiàn)瓦片狀磁體元件的磁偏角的全檢，保證整批次的瓦片狀磁性元件的磁偏角的合格率。

本發(fā)明解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為：一種用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法的設(shè)備，包括水平板、測試基板和垂直向下或向上的磁場，所述的磁場位于所述的水平板的正上方，所述的測試基板設(shè)置在所述的水平板的正上方且高度可調(diào)，所述的測試基板的下端面為水平面。