[發明專利]用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法及設備

有效

• 申請號: 201310363283.1
• 申請日: 2013-08-20
• 公開（公告）號: CN103412267A
• 公開（公告）日: 2013-11-27
• 發明（設計）人: 黃可可
• 申請（專利權）人: 黃可可
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務所(普通合伙) 33226
• 代理人: 程曉明

1.一種用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法，其特征在于包括以下步驟：

①選取一個磁偏角為合格范圍的上限值的未充磁的瓦片狀磁體元件作為基準件；

②將基準件放置在一塊由非導磁材料制成的水平板上，基準件的凹面朝上且左右兩端保持水平，將此時左右兩端的頂點的連接線設定為基準線；

③在基準件的正上方施加垂直向下或向上的磁場，基準件的左端或者右端發生偏轉向上翹起；

④檢測基準件向上翹起的一端相對于基準線偏轉的高度；

⑤取下基準件；

⑥將未充磁的瓦片狀磁體元件待測產品凹面朝上放置在水平板上，待測產品的左右兩端位于基準線上，對待測產品施加垂直向下的磁場；

⑦檢測待測產品向上翹起的一端相對于基準線偏轉的高度，將待測產品相對于基準線偏轉的高度與基準件相對于基準線偏轉的高度進行比較，如果待測產品相對于基準線偏轉的高度小于基準件相對于基準線偏轉的高度，則該待測產品的磁偏角合格，反之不合格；

⑧重復步驟⑥和⑦，對一批次的待測產品進行檢測。

2.根據權利要求1所述的用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法，其特征在于所述的步驟④中采用光柵檢測基準件向上翹起的一端相對于基準線偏轉高度，所述的步驟④之后所述的步驟⑤之前還有測試基板的設置步驟，具體為：在基準件向上翹起的一端的頂點處設置一測試基板，所述的測試基板的下端面為水平面且與基準件向上翹起的一端的頂點位于一個水平面上，當待測產品向上翹起的一端的頂點低于所述的測試基板的下端面時，表示待測產品相對于基準線偏轉的高度小于基準件相對于基準線偏轉的高度，當待測產品向上翹起的一端的頂點與所述的測試基板的下端面接觸時，表示待測產品相對于基準線偏轉的高度大于基準件相對于基準線偏轉的高度。

3.一種使用權利要求1所述的用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的方法的設備，其特征在于包括水平板、測試基板和垂直向下的磁場，所述的磁場位于所述的水平板的正上方，所述的測試基板設置在所述的水平板的正上方且高度可調，所述的測試基板的下端面為水平面。

4.根據權利要求3所述的一種用于測量瓦片狀磁體元件的磁偏角的設備，其特征在于所述的測試基板處設置有光柵及聲光報警裝置，所述的光柵與所述的聲光報警裝置連接，在磁場作用下，當待測產品的一端向上翹起與所述的測試基板的下端面接觸時，所述的聲光報警裝置報警，顯示待測產品不合格，當待測產品的一端向上翹起后與所述的測試基板的下端面不接觸時，所述的聲光報警裝置不報警，顯示待測產品不合格。