[發明專利]高壓器件HCI測試電路在審
| 申請號： | 201310363118.6 | 申請日： | 2013-08-20 |
| 公開（公告）號： | CN104422873A | 公開（公告）日： | 2015-03-18 |
| 發明（設計）人： | 曹剛;葛艷輝 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人： | 丁紀鐵 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 高壓 器件 hci 測試 電路 | ||
【權利要求書】：
1.一種高壓器件HCI測試電路，其特征在于：包含一電源、一待測高壓器件、一保護管以及一電壓表；
所述待測高壓器件的漏極接保護管的源極，保護管的漏極接電源正極，待測高壓器件的源極接電源負極；
待測高壓器件的柵極及保護管的柵極各自接測試電壓；
所述電壓表跨接在待測高壓器件的源漏兩端，與待測高壓器件形成并聯。
2.如權利要求1所述的高壓器件HCI測試電路，其特征在于：所述的保護管為電流通過能力5～20倍于待測高壓器件的同類高壓器件。
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