[發(fā)明專利]MOCVD設(shè)備的噴淋頭及MOCVD設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310360260.5 | 申請日: | 2013-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN103409730A | 公開(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 譚華強(qiáng);黃允文;喬徽;林翔;蘇育家 | 申請(專利權(quán))人: | 光壘光電科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | C23C16/455 | 分類號: | C23C16/455 |
| 代理公司: | 上海思微知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 200050 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | mocvd 設(shè)備 噴淋 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及化學(xué)氣相沉積設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種MOCVD設(shè)備的噴淋頭及MOCVD設(shè)備。
背景技術(shù)
金屬有機(jī)化合物化學(xué)氣相沉積(MOCVD)工藝過程中,含有不同反應(yīng)源的III族源氣體和V族源氣體分別通入MOCVD設(shè)備的反應(yīng)腔內(nèi)進(jìn)行反應(yīng)以在襯底上形成薄膜。
光達(dá)光電設(shè)備科技(嘉興)有限公司在其提出申請的一個未公開的中國專利申請(申請?zhí)枺?01210560614.6)中揭露一種MOCVD設(shè)備。如圖1所示,所述MOCVD設(shè)備的反應(yīng)腔室一般包括反應(yīng)室1、托盤2和噴淋頭3,其中,所述托盤2設(shè)置于所述反應(yīng)室1的內(nèi)部,托盤2用于放置襯底,所述噴淋頭3設(shè)置于所述托盤2的上方,用于向所述托盤2提供反應(yīng)氣體。噴淋頭3中靠近所述托盤的一側(cè)設(shè)置有熱壁板14,III族源氣體和V族源氣體穿過所述熱壁板14達(dá)到所述托盤的表面。MOCVD工藝過程中熱壁板14吸熱溫度上升,而所述熱壁板14與噴淋頭3的其他結(jié)構(gòu)之間不發(fā)生熱傳遞。
請繼續(xù)參考圖1,熱壁板14上設(shè)置有多個通孔17,III族源氣體管道15的一端設(shè)置于所述通孔17的內(nèi)部。III族源氣體管道15的直徑略小于通孔17的孔徑,剛好插入熱壁板14的通孔17中。
然而,在MOCVD工藝過程中發(fā)現(xiàn),現(xiàn)有的MOCVD設(shè)備的沉積效率較低。
為了提高M(jìn)OCVD設(shè)備的沉積效率,縮短工藝時間,本領(lǐng)域技術(shù)人員一直在尋找導(dǎo)致MOCVD設(shè)備沉積效率低的原因以及其解決方法。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種MOCVD設(shè)備的噴淋頭及MOCVD設(shè)備,以解決現(xiàn)有的MOCVD設(shè)備沉積效率低的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供一種MOCVD設(shè)備的噴淋頭,所述MOCVD設(shè)備的噴淋頭包括:III族源氣體腔、多個III族源氣體管道、冷卻腔和熱壁板;
所述冷卻腔位于所述III族源氣體腔和所述熱壁板之間;
所述熱壁板上設(shè)有多個通孔,所述III族源氣體管道的一端與所述III族源氣體腔連接,所述III族源氣體管道的另一端穿過所述冷卻腔和所述熱壁板的通孔;
其中,III族源氣體管道穿過的通孔為第一通孔,所述第一通孔的孔徑沿所述III族源氣體管道延伸方向不唯一。
可選的,在所述的MOCVD設(shè)備的噴淋頭中,所述第一通孔的縱截面為梯形,所述梯形靠近III族源氣體腔的底邊比遠(yuǎn)離III族源氣體腔的底邊長;
或所述第一通孔的縱截面為梯形,所述梯形靠近III族源氣體腔的底邊比遠(yuǎn)離III族源氣體腔的底邊短;
或所述第一通孔的孔徑中間小兩端大。
可選的,在所述的MOCVD設(shè)備的噴淋頭中,還包括V族源氣體腔和多個V族源氣體管道;
所述V族源氣體腔位于所述冷卻腔的遠(yuǎn)離III族源氣體腔的一側(cè),所述熱壁板為構(gòu)成所述V族源氣體腔的底板,所述V族源氣體管道為所述熱壁板上的通孔。
可選的,在所述的MOCVD設(shè)備的噴淋頭中,還包括V族源氣體腔和多個V族源氣體管道;
所述V族源氣體腔位于所述III族源氣體腔與所述冷卻腔之間;
所述多個V族源氣體管道的一端均與所述V族源氣體腔連接,所述V族源氣體管道另一端穿過所述冷卻腔和所述熱壁板。
可選的,在所述的MOCVD設(shè)備的噴淋頭中,還包括V族源氣體腔和多個V族源氣體管道;
所述V族源氣體腔位于所述III族源氣體腔與所述冷卻腔之間;
所述多個V族源氣體管道的一端均與所述V族源氣體腔連接,所述V族源氣體管道另一端穿過所述冷卻腔,并到達(dá)所述熱壁板與所述冷卻腔的間隙。
本發(fā)明還提供一種MOCVD設(shè)備,所述MOCVD設(shè)備包括:反應(yīng)室、托盤和如上所述的噴淋頭;
所述托盤和所述噴淋頭均位于所述反應(yīng)室的內(nèi)部且相對設(shè)置;
所述噴淋頭的熱壁板位于鄰近所述托盤的一側(cè)。
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- 專利分類
C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機(jī)材料為特征的
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗設(shè)備、驗證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





