[發明專利]光電轉換器件的光電測試系統

在審

• 申請號: 201310359282.X
• 申請日: 2013-08-16
• 公開（公告）號: CN103398836A
• 公開（公告）日: 2013-11-20
• 發明（設計）人: 葉紅波;王勇
• 申請（專利權）人: 上海集成電路研發中心有限公司
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 吳世華;林彥之

1.一種光電轉換器件的光電測試系統，其特征在于，包括：

積分球，其球壁上設有出光口；

光源，設置于所述積分球內；

轉輪組，包括垂直且相互平行間隔設置的多個轉輪，每一所述轉輪分布有多個通光孔，所述通光孔中固定濾波片或衰減片；每一所述轉輪旋轉以使其中一個所述通光孔對準所述出光口；

位置調整機構，其包括：

導軌；

升降臺，安裝于所述導軌上且沿所述導軌移動以遠離或靠近所述轉輪組；

旋轉盤，可旋轉地安裝于所述升降臺上，用以帶動所述光電轉換器件旋轉，其中所述光電轉換器件與所述旋轉盤固定連接且垂直于所述旋轉盤的表面；

驅動機構，用于驅動所述升降臺在垂直方向升降、在水平方向沿所述導軌移動，以及驅動所述旋轉盤旋轉；以及

數據采集模塊，與所述光電轉換器件電性相連，用于采集所述光電轉換器件產生的電信號。

2.根據權利要求1所述的光電測試系統，其特征在于，所述位置調整結構還包括固定件，所述固定件包括與所述旋轉盤固定連接的水平部以及垂直于所述旋轉盤的垂直部，所述垂直部具有用于固定所述光電轉換器件的垂直面。

3.根據權利要求2所述的光電測試系統，其特征在于，還包括光波光強測試儀，其設置于所述垂直面鄰近于所述光電轉換器件處，用于探測所述光電轉換器件處的光波和光強。

4.根據權利要求3所述的光電測試系統，其特征在于，所述光波光強測試儀設置于所述光電轉換器件上方或下方，所述驅動機構驅動所述升降臺沿垂直方向移動，以使所述光波光強測試儀對準所述出光口。

5.根據權利要求3所述的光電測試系統，其特征在于，所述光波光強測試儀設置于所述光電轉換器件等高度的左側或右側，所述驅動機構驅動所述旋轉盤旋轉以使所述光波光強測試儀對準所述出光口，并驅動所述升降臺沿所述導軌移動以使所述光波光強測試儀位于所述旋轉盤旋轉前所述光電轉換器件所處位置。

6.根據權利要求1所述的光電測試系統，其特征在于，所述位置調整機構安裝于避光箱內，所述避光箱箱壁對應于所述出光口的位置具有透光窗。

7.根據權利要求1所述的光電測試系統，其特征在于，所述轉輪組安裝于避光箱內，所述避光箱相對的箱壁上對應于所述出光口的位置具有透光窗。

8.根據權利要求1所述的光電測試系統，其特征在于，所述光源為多個，用以提供不同色溫的光源。

9.根據權利要求8所述的光電測試系統，其特征在于，所述光源由鹵鎢燈或者LED燈提供。

10.根據權利要求1所述的光電測試系統，其特征在于，所述出光口與所述通光孔的直徑相同。