[發明專利]設備控制方法和電子設備

在審

• 申請號: 201310356348.X
• 申請日: 2013-08-15
• 公開（公告）號: CN104375953A
• 公開（公告）日: 2015-02-25
• 發明（設計）人: 孫清濤
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: G06F12/08
• 分類號: G06F12/08;G11C29/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 安之斐

本發明提供一種設備控制方法及相應的電子設備。該設備控制方法應用于具有閃存存儲盤的電子設備，所述方法包括：檢測是否存在附加存儲盤的插入；以及當檢測到存在附加存儲盤的插入時，檢索所述閃存存儲盤中滿足預定數據塊性能惡化條件的數據塊，以及將滿足所述預定數據塊性能惡化條件的數據塊中的數據復制到所述附加盤中。通過本發明的設備控制方法可以改善具有閃存存儲盤的電子設備的存儲系統的整體性能和壽命。

技術領域

本發明涉及一種設備控制方法及電子設備，并具體涉及應用于具有閃存存儲盤的電子設備中的設備控制方法及相應的電子設備。

背景技術

目前，基于閃存（例如NAND FLASH）存儲器的存儲盤（下文簡稱為閃存存儲盤，例如，固態硬盤）在諸如計算機的電子設備中得到了廣泛的應用，其具有讀取速度快，沒有噪聲等優點。然而，由于閃存存儲介質存在壽命問題，所以隨著閃存存儲盤使用時間的增加，性能惡化的數據塊或壞塊的數量不斷增加，這不僅導致實際存儲容量的下降，而且還導致存儲系統的可靠性和數據讀寫速度不斷下降。

迄今為止，不論是存儲盤控制器廠商還是閃存存儲盤廠商都未能很好地解決上述問題，因此，為了進一步提高電子設備的壽命和性能，需要改善具有閃存存儲盤的電子設備的存儲系統的性能。

發明內容

鑒于現有技術的缺陷，本發明構思出一種通過添加附加的存儲盤并將性能惡化的數據塊的數據自動轉移到新插入的附加存儲盤上來改善具有閃存存儲盤的電子設備的存儲系統的性能的設備控制方法。根據本發明的設備控制方法會檢索所述閃存存儲盤中滿足預定數據塊性能惡化條件的數據塊，并將滿足所述預定數據塊性能惡化條件的數據塊中的數據復制到所述附加盤中，以便改善電子設備的存儲系統的整體性能。

根據本發明的第一方面，提供了一種設備控制方法，應用于具有閃存存儲盤的電子設備，所述方法包括：檢測是否存在附加存儲盤的插入；以及當檢測到存在附加存儲盤的插入時，檢索所述閃存存儲盤中滿足預定數據塊性能惡化條件的數據塊，以及將滿足所述預定數據塊性能惡化條件的數據塊中的數據復制到所述附加盤中。

利用上述設備控制方法，可以在閃存存儲盤的性能惡化后提高存儲系統的可靠性以及數據的讀寫速度，并可以擴展電子設備的存儲容量，從而改善具有閃存存儲盤的電子設備的存儲系統的整體性能。

優選地，上述設備控制方法還包括：檢測所述閃存存儲盤的性能是否下降到滿足預定整盤性能惡化條件；以及當檢測到所述閃存存儲盤的性能下降到滿足所述預定整盤性能惡化條件時，提示用戶插入所述附加存儲盤。

通過上述優選步驟，電子設備可以在閃存存儲盤的性能惡化到一定程度時提醒用戶插入附加存儲盤，以使得用戶能夠知道電子設備性能惡化的原因，并通過插入附加存儲盤改善設備性能。

優選地，上述設備控制方法還包括利用所復制的數據在所述附加盤中的新地址替換所復制的數據在所述閃存存儲盤中的原地址作為所復制的數據的尋址地址。通過該優選步驟可以使電子設備中運行的軟件方便地找到數據移動后的新位置。

優選地，在上述設備控制方法中，所述預定整盤性能惡化條件包括：壞數據塊的數目大于一預定值；單位時間內產生壞數據塊的速度大于一預定值；滿足所述預定數據塊性能惡化條件的數據塊的數目大于一預定值；單位時間內產生滿足所述預定數據塊性能惡化條件的數據塊的速度大于一預定值；或者以上各項的任意組合。通過規定這些整盤性能惡化條件，可以使得用戶能夠在電子設備出現相應的性能惡化時插入附加存儲盤來改善電子設備的性能。

優選地，在上述設備控制方法中，所述預定數據塊性能惡化條件包括：數據塊的讀寫速度低于一預定值；數據塊中的錯誤位的數目大于一預定值；對數據塊每次操作的平均重試次數大于一預定值；或者以上各項的任意組合。通過規定這些數據塊性能惡化條件，可以使得電子設備在數據塊出現相應的性能惡化時將對應數據塊上的數據復制到附加存儲盤上，以提高存儲系統的可靠性和讀寫速度。