[發明專利]一種具有絨面結構的AZO薄膜的制備方法有效
| 申請號: | 201310355170.7 | 申請日: | 2013-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN103400907A | 公開(公告)日: | 2013-11-20 |
| 發明(設計)人: | 彭壽;王蕓;馬立云;崔介東 | 申請(專利權)人: | 蚌埠玻璃工業設計研究院;中國建材國際工程集團有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/20 | 分類號: | H01L31/20 |
| 代理公司: | 安徽省蚌埠博源專利商標事務所 34113 | 代理人: | 楊晉弘 |
| 地址: | 233010 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 結構 azo 薄膜 制備 方法 | ||
1.一種具有絨面結構的AZO薄膜的制備方法,其特征在于包括以下步驟:
a、首先在玻璃基底上制備一層厚度為50~100nm的SiO2薄膜,并使其具有島狀的表面形貌,
b、接著以島狀結構的SiO2薄膜為基底,采用磁控濺射工藝制備AZO薄膜,使其模仿基底SiO2薄膜的表面形貌生長,并控制膜厚為600~700nm,最終直接形成表面具有一定絨度的AZO薄膜。
2.根據權利要求1所述的一種具有絨面結構的AZO薄膜的制備方法,其特征在于,所述的具有島狀表面形貌絨面結構的SiO2薄膜,是通過以下工藝制備的:
(1)采用磁控濺射技術,靶材選擇SiO2陶瓷靶,濺射制備SiO2薄膜,厚度為50~100nm;
(2)采用磁控濺射技術,在上述SiO2薄膜上,濺射制備一層錫薄膜,厚度為20~50nm,靶材為錫靶,濺射過程中的襯底溫度為80~100℃;
(3)將上述具有SiO2薄膜與錫薄膜的復合膜層進行等離子刻蝕,刻蝕的深度為20~40nm;
(4)等離子刻蝕完成后,用硝酸將殘存的錫膜腐蝕掉,最后得到玻璃基底上的SiO2薄膜,具有島狀的表面形貌。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





