[發(fā)明專利]一種設置有摻硅GaN層的發(fā)光二極管外延片無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310351270.2 | 申請日: | 2013-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN103413873A | 公開(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 蘆玲;張向飛;錢仁海;劉堅 | 申請(專利權)人: | 淮安澳洋順昌光電技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/02 | 分類號: | H01L33/02;H01L33/32 |
| 代理公司: | 淮安市科文知識產(chǎn)權事務所 32223 | 代理人: | 謝觀素 |
| 地址: | 223000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 設置 有摻硅 gan 發(fā)光二極管 外延 | ||
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技術領域
????本發(fā)明涉及LED外延片技術領域,具體涉及一種設置有摻硅GaN層的發(fā)光二極管外延片。?
背景技術
目前,藍綠光發(fā)光二極管的主流是在藍寶石或碳化硅襯底上生長GaN材料,其中絕大部分采用藍寶石作為襯底,由于藍寶石襯底與GaN材料之間較大的晶格失配與熱失配,導致GaN外延層內(nèi)產(chǎn)生高密度的缺陷,例如穿透位錯。實驗證明這些缺陷是III族氮化物基發(fā)光二極管中反向漏電電流產(chǎn)生的一個重要途徑。現(xiàn)有的外延片在生產(chǎn)過程中,?N型GaN層主要由GaN層構成,導致發(fā)光二極管的抗靜電能力差。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種設置有摻硅GaN層的發(fā)光二極管外延片,該技術方案有效解決傳統(tǒng)外延片抗靜電能力差,從而導致芯片擊穿的問題。?
本發(fā)明通過以下技術方案實現(xiàn):?
一種設置有摻硅GaN層的發(fā)光二極管外延片,包括藍寶石襯底層(1)、Buffer—緩沖層(2)、N型GaN層(3)、N—SLS層(4)、MQW發(fā)光層(5)以及P型GaN層(6),其特征在于:所述N型GaN層(3)包括80個由摻硅GaN層(31)、GaN層(32)構成的層單元(33)疊加構成。
本發(fā)明進一步技術改進方案是:?
所述構成每個層單元(33)的摻硅GaN層(31)的厚度為15?nm,GaN層(32)的厚度為10nm。
本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比,具有以下明顯優(yōu)點:傳統(tǒng)外延片的N型GaN層主要由GaN層構成,本發(fā)明通過在GaN層上設置摻硅GaN層,GaN層(31)、GaN層(32)構成一個層單元,并疊加80次,可明顯提升提升發(fā)光二極管的抗靜電能力,避免芯片擊穿的問題。?
附圖說明
圖1為本發(fā)明的結(jié)構示意圖;?
圖1中11為藍寶石襯底層;2為Buffer—緩沖層;3為N型GaN層;4為N—SLS層;5為MQW發(fā)光層;6為P型GaN層;
圖2為本發(fā)明N型GaN層的層單元結(jié)構示意圖。
具體實施方式
如圖1、2所示,本發(fā)明包括藍寶石襯底層1、Buffer—緩沖層2、N型GaN層3、N—SLS層4、MQW發(fā)光層5以及P型GaN層6,?N型GaN層3包括80個由摻硅GaN層31、GaN層32構成的層單元33疊加構成,構成每個層單元33的摻硅GaN層31的厚度為15?nm,GaN層32的厚度為10nm。?
本發(fā)明未涉及部分均與現(xiàn)有技術相同或可采用現(xiàn)有技術加以實現(xiàn)。
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