[發明專利]一種倒角測試方法及倒角測量儀

有效

• 申請號: 201310348793.1
• 申請日: 2013-08-12
• 公開（公告）號: CN103424088A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 王剛;許強;徐小勝
• 申請（專利權）人: 韻升控股集團有限公司;寧波韻升智能技術有限公司
• 主分類號: G01B11/255
• 分類號: G01B11/255
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務所(普通合伙) 33226
• 代理人: 程曉明

1.一種倒角測試方法，其特征在于包括以下步驟：

①將光線水平照射到待測倒角上，待測倒角為兩垂直面之間的倒角；

②照射到待測倒角上的光線成90°反射后在攝像機構中形成一條亮的光帶；

③獲取亮的光帶圖像并測量該亮的光帶的寬度，該寬度即對應為待測倒角的R值。

2.根據權利要求1所述的一種倒角測試方法，其特征在于所述的光線由條形光源或者環形光源產生。

3.一種使用權利要求1所述的倒角測試方法的倒角測量儀，其特征在于包括定位裝置和攝像機構、發射水平光線的光源以及數據采集處理裝置，所述的攝像機構和所述的數據采集處理裝置連接，所述的定位裝置的高度可調節，當將待測倒角的工件放置在所述的定位裝置上，所述的光源發射水平光線照射到待測倒角上成90°反射后在攝像機構形成一條亮的光帶，所述的攝像機構拍攝該亮的光帶的圖像并傳輸給所述的數據采集處理裝置，所述的數據采集處理裝置對圖像進行處理得到該光帶的寬度，該寬度即對應為待測倒角的R值。

4.根據權利要求3所述的一種倒角測量儀，其特征在于所述的倒角測量儀還包括工作臺和固定在所述的工作臺上的立柱，所述的定位裝置為包括測試平臺，所述的測試平臺通過高度調節機構安裝在所述的立柱上，所述的光源安裝在所述的測試平臺的上方，所述的攝像機構固定安裝在所述的測試平臺的下方，所述的測試平臺上設置有透光孔，所述的水平光線照射倒角部位時成90°反射后從所述的透光孔穿過后在攝像機構形成一條亮的光帶圖像并被所述的攝像機構拍攝。

5.根據權利要求4所述的倒角測量儀，其特征在于所述的測試平臺包括底板和設置在所述的底板上的擱板，所述的透光孔設置在所述的底板上，所述的擱板位于所述的透光孔的一側，所述的擱板靠近所述的透光孔的端面為第一端面，所述的第一端面與所述的底板垂直，所述的第一端面由兩個豎直面和位于兩個豎直面之間的內凹面組成，所述的透光孔位于兩個豎直面之間且正對所述的內凹面，所述的底板上設置有垂直于所述的第一端面的測試指針，所述的測試指針的延長線穿過所述的透光孔的中心，測試時，將待測工件放置在所述的擱板上，使待測倒角兩垂直面的一個垂直面與兩個豎直面在一個平面上，待測倒角部位正對所述的測試指針。

6.根據權利要求5所述的倒角測量儀，其特征在于所述的測試指針為設置在所述的底板上的凹槽或者設置在所述的底板上的凸楞。

7.根據權利要求3所述的倒角測量儀，其特征在于所述的攝像機構包括相機和鏡頭，所述的鏡頭安裝在所述的相機上。

8.根據權利要求7所述的倒角測量儀，其特征在于所述的鏡頭上安裝有鏡頭保護部件。

9.根據權利要求3所述的倒角測量儀，其特征在于所述的光源為條形光源或者環形光源。