[發明專利]一種圖像處理方法及裝置在審
| 申請號: | 201310347609.1 | 申請日: | 2013-08-09 |
| 公開(公告)號: | CN104346806A | 公開(公告)日: | 2015-02-11 |
| 發明(設計)人: | 楊杰 | 申請(專利權)人: | 聯想(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291 | 代理人: | 黃志華 |
| 地址: | 100085 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 處理 方法 裝置 | ||
1.一種圖像處理方法,其特征在于,所述方法包括:
當光照參數值為第一參數值的第一光照照射到第一目標物時,獲得第一圖像,其中,所述第一圖像中包括作為前景圖像的第一目標物圖像以及所述第一目標物處在環境的作為背景圖像的環境圖像;
分析所述第一圖像,以獲得所述第一圖像的高頻信息;
基于所述高頻信息,獲得與所述第一目標物對應的第一邊緣圖像信息;
對所述第一邊緣圖像信息進行運算,獲得所述第一目標物圖像。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一參數值具體為:
第一光照強度值;或
第一光照均勻度值。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述分析所述第一圖像,以獲得所述第一圖像的高頻信息,具體包括:
分析所述第一圖像,獲得所述第一圖像的第一紋理信息;
基于所述第一紋理信息,獲得所述高頻信息。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述高頻信息,獲得與所述第一目標物對應的第一邊緣圖像信息,具體為:
基于所述高頻信息,通過邊緣檢測算法獲得與所述第一目標物對應的第一邊緣圖像信息。
5.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述高頻信息,獲得與所述第一目標物對應的第一邊緣圖像信息,具體包括:
基于所述高頻信息,獲得邊緣密度信息;
去除所述邊緣密度信息中的所述背景圖像的背景邊緣密度信息,獲得所述第一邊緣圖像信息。
6.如權利要求4或5中任一權項所述的方法,其特征在于,所述對所述第一邊緣圖像信息進行運算,獲得所述第一目標物圖像,具體為:
利用形態學算法,對所述第一邊緣圖像信息進行運算,獲得所述第一目標物圖像。
7.如權利要求6所述的方法,其特征在于,所述利用形態學算法,對所述第一邊緣圖像信息進行運算,獲得所述第一目標物圖像,具體包括:
利用所述形態學算法,將所述第一邊緣圖像信息向外部擴張,獲得擴張后不含空洞的與所述第一目標物對應的第一擴張邊緣圖像信息;
利用所述形態學算法,消除所述第一擴張邊緣圖像信息中的邊界點,將所述第一擴張邊緣圖像信息向內部收縮,獲得所述第一目標物圖像。
8.一種圖像處理裝置,其特征在于,所述裝置包括:
第一獲得模塊,用于當光照參數值為第一參數值的第一光照照射到第一目標物時,獲得第一圖像,其中,所述第一圖像中包括作為前景圖像的第一目標物圖像以及所述第一目標物處在環境的作為背景圖像的環境圖像;
分析模塊,用于分析所述第一圖像,以獲得所述第一圖像的高頻信息;
第二獲得模塊,用于基于所述高頻信息,獲得與所述第一目標物對應的第一邊緣圖像信息;
運算模塊,用于基于所述第一邊緣圖像信息,對所述第一邊緣圖像信息進行運算,獲得所述第一目標物圖像。
9.如權利要求8所述的裝置,其特征在于,所述第一參數值具體為:
第一光照強度值;或
第一光照均勻度值。
10.如權利要求9所述的裝置,其特征在于,所述分析模塊具體包括:
分析子單元,用于分析所述第一圖像,獲得所述第一圖像的第一紋理信息;
第一獲得子單元,用于基于所述第一紋理信息,獲得所述高頻信息。
11.如權利要求10所述的裝置,其特征在于,所述第二獲得模塊具體為:
用于基于所述高頻信息,通過邊緣檢測算法獲得與所述第一目標物對應的第一邊緣圖像信息的模塊。
12.如權利要求10所述的裝置,其特征在于,所述第二獲得模塊具體包括:
第二獲得子單元,用于基于所述高頻信息,獲得邊緣密度信息;
去除子單元,用于去除所述邊緣密度信息中的所述背景圖像的背景邊緣密度信息,獲得所述第一邊緣圖像信息。
13.如權利要求11或12任一權項所述的裝置,其特征在于,所述運算模塊具體為:
用于利用形態學算法,對所述第一邊緣圖像信息進行運算,獲得所述第一目標物圖像的模塊。
14.如權利要求13所述的裝置,其特征在于,所述運算模塊具體包括:
擴張單元,用于利用所述形態學算法,將所述第一邊緣圖像信息向外部擴張,獲得擴張后不含空洞的與所述第一目標物對應的第一擴張邊緣圖像信息;
收縮單元,用于利用所述形態學算法,消除所述第一擴張邊緣圖像信息中的邊界點,將所述第一擴張邊緣圖像信息向內部收縮,獲得所述第一目標物圖像。
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