[發(fā)明專利]波導(dǎo)結(jié)構(gòu)及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310346904.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-08-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104216046A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-12-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 曾俊豪;郭英顥;陳海清;包天一 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02B6/122 | 分類號(hào): | G02B6/122;G02B6/13;G02B6/42 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孫征 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 波導(dǎo) 結(jié)構(gòu) 及其 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明總的來(lái)說(shuō)涉及集成電路,更具體地,涉及波導(dǎo)結(jié)構(gòu)及其制造方法。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體集成電路(IC)產(chǎn)業(yè)已經(jīng)歷了指數(shù)型的增長(zhǎng)。IC設(shè)計(jì)和材料的技術(shù)進(jìn)步已經(jīng)產(chǎn)生了數(shù)代IC,每一代IC都具有比上一代IC更小和更復(fù)雜的電路。在IC的發(fā)展過(guò)程中,在幾何尺寸(即,可使用制造工藝生產(chǎn)的最小部件(或線))縮小的同時(shí),功能密度(即,每芯片面積上互連器件的數(shù)目)通常增大。
波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的制造已經(jīng)歷了指數(shù)般的增長(zhǎng)。波導(dǎo)結(jié)構(gòu)由于其工藝的可用性和制造的可行性而吸引了眾多關(guān)注。通常,光通過(guò)波導(dǎo)壁的全內(nèi)反射而被限制在波導(dǎo)結(jié)構(gòu)內(nèi)。然而,波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的制造具有挑戰(zhàn)性。
發(fā)明內(nèi)容
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,提供了一種波導(dǎo)結(jié)構(gòu),包括:襯底,襯底具有互連區(qū)域和波導(dǎo)區(qū)域;溝槽,形成在襯底中,溝槽具有傾斜的側(cè)壁表面和基本平坦的底部;底部覆層,形成在襯底上,底部覆層從互連區(qū)域延伸至波導(dǎo)區(qū)域,并且底部覆層充當(dāng)互連區(qū)域中的絕緣層;以及金屬層,形成在傾斜的側(cè)壁表面上的底部覆層上。
優(yōu)選地,該波導(dǎo)結(jié)構(gòu)還包括:核心層,形成在波導(dǎo)區(qū)域中的底部覆層上;以及頂部覆層,形成在核心層上,波導(dǎo)結(jié)構(gòu)由底部覆層、核心層和頂部覆層形成。
優(yōu)選地,核心層的折射率大于底部覆層的折射率,并且折射率的差在約0.02至約0.2之間的范圍內(nèi)。
優(yōu)選地,金屬層包括鋁(Al)、銅(Cu)、銀(Ag)、金(Au)或它們的組合。
優(yōu)選地,傾斜的側(cè)壁表面的傾角的范圍在約42度至48度之間。
優(yōu)選地,金屬層還形成在互連區(qū)域中的底部覆層上。
優(yōu)選地,該波導(dǎo)結(jié)構(gòu)還包括:再分布層(RDL),形成在互連區(qū)域中的金屬層上。
優(yōu)選地,底部覆層的厚度范圍在約1μm至約10μm之間。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供了一種電-光器件,包括:襯底,襯底具有互連區(qū)域和波導(dǎo)區(qū)域,并且波導(dǎo)區(qū)域具有反射區(qū)域和波傳播區(qū)域;溝槽,形成在波導(dǎo)區(qū)域中的襯底中;底部覆層,形成在襯底上,底部覆層從互連區(qū)域穿過(guò)反射區(qū)域延伸至波傳播區(qū)域,并且底部覆層充當(dāng)互連區(qū)域中的絕緣層;金屬層,形成在反射區(qū)域中的底部覆層上;激光二極管,安裝在襯底上;以及光電二極管,安裝在襯底上。
優(yōu)選地,溝槽具有傾斜的側(cè)壁表面,并且傾斜的側(cè)壁表面的傾角范圍在約42度至約48度之間。
優(yōu)選地,該電-光器件還包括:核心層,形成在波導(dǎo)區(qū)域中的底部覆層上;以及頂部覆層,形成在核心層上,波導(dǎo)結(jié)構(gòu)由底部覆層、核心層和頂部覆層形成。
優(yōu)選地,金屬層還形成在互連區(qū)域中的底部覆層上。
優(yōu)選地,該電-光器件還包括:再分布層(RDL),形成在互連區(qū)域中的金屬層上。
優(yōu)選地,該電-光器件還包括:凸塊結(jié)構(gòu),形成在再分布層(RDL)與激光二極管或光電二極管之間。
優(yōu)選地,該電-光器件還包括:凹槽,形成在襯底中并且鄰近于溝槽;以及光傳輸器件,安裝在凹槽中。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,提供了一種制造波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的方法,包括:提供襯底,襯底具有互連區(qū)域區(qū)和波導(dǎo)區(qū)域;在襯底中形成溝槽,溝槽具有傾斜的側(cè)壁表面和基本平坦的底部;在互連區(qū)域和波導(dǎo)區(qū)域中的襯底上形成底部覆層;以及在傾斜的側(cè)壁表面上的底部覆層上形成金屬層。
優(yōu)選地,過(guò)濕蝕刻的蝕刻劑形成溝槽,并且濕蝕刻的蝕刻劑包括乙二胺鄰苯二酚(EDP)、氫氧化鉀(KOH)或四甲基氫氧化銨(TMAH)。
優(yōu)選地,濕蝕刻的蝕刻速率范圍在約0.2微米每分鐘至約0.6微米每分鐘之間。
優(yōu)選地,該方法還包括:在互連區(qū)域中形成金屬層;以及在互連區(qū)域中的金屬層上形成再分布層(RDL)。
優(yōu)選地,通過(guò)鍍法、物理汽相沉積(PVD)、化學(xué)汽相沉積(CVD)、原子層沉積(ALD)或它們的組合來(lái)形成再分布層(RDL)。
附圖說(shuō)明
為了更充分地理解本發(fā)明及其優(yōu)點(diǎn),現(xiàn)結(jié)合附圖參考以下描述,其中:
圖1示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的截面示意圖;
圖2A至圖2K示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的制造波導(dǎo)結(jié)構(gòu)的各個(gè)階段的截面示意圖;
圖3示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電-光器件的截面示意圖;以及
圖4示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的電-光器件的截面示意圖。
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司,未經(jīng)臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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