[發(fā)明專利]懸浮液、研磨液套劑、研磨液、基板的研磨方法及基板有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310345238.3 | 申請日: | 2011-11-21 |
| 公開(公告)號: | CN103409108A | 公開(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 巖野友洋 | 申請(專利權(quán))人: | 日立化成株式會社 |
| 主分類號: | C09K3/14 | 分類號: | C09K3/14;C09G1/02 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務(wù)所 31210 | 代理人: | 杜娟 |
| 地址: | 日本東京都千*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 懸浮液 研磨 液套劑 方法 | ||
本申請是基于以下中國專利申請的分案申請:
原案申請日:2011年11月21日
原案申請?zhí)枺?01180055798.4(PCT/JP2011/076827)
原案申請名稱:懸浮液、研磨液套劑、研磨液、基板的研磨方法及基板
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及懸浮液、研磨液套劑、研磨液、基板的研磨方法及基板。尤其是,本發(fā)明涉及半導(dǎo)體元件的制造工序中所使用的懸浮液、研磨液套劑、研磨液、基板的研磨方法及基板。
背景技術(shù)
近年,在半導(dǎo)體元件的制造工序中,對于高密度化·微細化的加工技術(shù)的重要性進一步增強。其加工技術(shù)之一的CMP(化學(xué)·機械·拋光:化學(xué)機械研磨)技術(shù),在半導(dǎo)體元件的制造工序中,對于淺槽隔離(Shallow?Trench?Isolation,以下有時稱為“STI”)的形成、前金屬絕緣膜和層間絕緣膜的平坦化、插塞或包埋式金屬配線的形成來說,是必須的技術(shù)。
一直以來,在半導(dǎo)體元件的制造工序中,為了使以CVD(化學(xué)·氣相·沉淀:化學(xué)氣相成長)法或旋轉(zhuǎn)涂布法等形成的氧化硅膜等絕緣膜平坦化,一般在CMP中使用煅制二氧化硅系研磨液。煅制二氧化硅系研磨液,通過加熱分解四氯硅酸等方法,使磨粒晶粒成長,通過調(diào)整pH來制備。但是,這樣的二氧化硅系研磨液存在研磨速度低的技術(shù)課題。
于是,在設(shè)計規(guī)則為0.25μm以后的世代,在集成電路內(nèi)的元件隔離中使用STI。在STI形成中,為了除去基板上成膜后多余的氧化硅膜,使用CMP。而且,在CMP中為了使研磨停止,在氧化硅膜的下面形成研磨速度慢的停止膜。停止膜中使用氮化硅膜和多晶硅膜,優(yōu)選氧化硅膜相對于停止膜的研磨選擇比值較大的(研磨速度比:氧化硅膜的研磨速度/停止膜的研磨速度)。對于傳統(tǒng)的膠態(tài)二氧化硅系研磨液等二氧化硅系研磨液,氧化硅膜的相對于停止膜的研磨選擇比小至3左右,作為STI用時,存在不具有耐用特性的傾向。
另外,作為針對光掩膜、透鏡等玻璃表面的研磨液,使用含有氧化鈰粒子的氧化鈰研磨液作為磨粒。氧化鈰系研磨液,與含有二氧化硅粒子作為磨粒的二氧化硅系研磨液、含有氧化鋁粒子作為磨粒的氧化鋁系研磨液相比,具有研磨速度快的優(yōu)點。另外,近年,作為氧化鈰系研磨液,采用高純度氧化鈰粒子的半導(dǎo)體用研磨液被使用(例如,參照下述專利文獻1)。
對于氧化鈰系研磨液等的研磨液,各種特性受到要求。例如,提高氧化鈰粒子等磨粒的分散性、將具有凹凸的基板研磨平坦化等受到要求。另外,以上述STI為例,提高相對于停止膜(例如氮化硅膜、多晶硅膜等)的研磨速度,作為被研磨膜的無機絕緣膜(例如氧化硅膜)的研磨選擇比等受到要求。為了解決這些要求,有在研磨液中加入添加劑。例如,已知有為了抑制氧化鈰系研磨液的研磨速度、提高全面平坦性,而在研磨液中加入添加劑(例如,參照下述專利文獻2)。
但是,近年,在半導(dǎo)體元件的制造工序中,要求達到配線的進一步微細化,而研磨時產(chǎn)生的研磨損傷已成為問題。即,利用傳統(tǒng)的氧化鈰系研磨液進行研磨時,即使產(chǎn)生微小的研磨損傷,若該研磨損傷的大小比以前的配線寬度小,也不成為問題,但是,在為了達到配線的進一步微細化情況時,則成為問題。
針對該問題,研究了利用4價金屬元素的氫氧化物粒子的研磨液(例如,下述專利文獻3)。另外,還研究了4價金屬元素的氫氧化物粒子的制造方法(例如,下述專利文獻4)。這些技術(shù),在充分發(fā)揮4價金屬元素的氫氧化物粒子所具有的化學(xué)作用的同時,盡可能減小機械作用,由此可降低因粒子引起的研磨損傷。
現(xiàn)有技術(shù)文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開平10-106994號公報
專利文獻2:日本特開平08-022970號公報
專利文獻3:國際公開第02/067309號手冊
專利文獻4:日本專利特開2006-249129號公報
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的課題
但是專利文獻3及4記載的技術(shù),在減少研磨損傷的另一方面,研磨速度還不能說足夠快。由于研磨速度會直接影響制造工序的效率,所以需要具有更快研磨速度的研磨液。
另外,若研磨液中含有添加劑,與獲得添加劑的添加效果相對應(yīng)的是研磨速度會下降,存在的課題是研磨速度與其它研磨特性難以兩全。
本發(fā)明為了解決上述課題,目的在于提供一種懸浮液,與傳統(tǒng)研磨液相比,能以優(yōu)異的研磨速度研磨被研磨膜。此外,本發(fā)明的目的還在于提供一種能獲得研磨液的懸浮液,該研磨液在維持添加劑的添加效果的同時,能夠以優(yōu)于傳統(tǒng)研磨液的研磨速度研磨被研磨膜。
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