[發明專利]實現存儲器測試儀提高同測數的方法

有效

• 申請號: 201310342659.0
• 申請日: 2013-08-07
• 公開（公告）號: CN104347120B
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發明（設計）人: 武建宏
• 申請（專利權）人: 上海華虹宏力半導體制造有限公司
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司31211
• 代理人: 高月紅

技術領域

本發明涉及一種半導體集成電路領域中的提高同測數的方法，特別是涉及一種實現存儲器測試儀提高同測數的方法。

背景技術

目前，利用現有的存儲器測試儀進行同測時，存在以下問題：

1)存儲器測試儀系統原有固定單元同測，但每個單元還有許多測試通道沒有充分利用；例如每個測試單元的測試通道有幾十個，但常用的小芯片只需要幾個測試通道資源，因此在測試生產中造成了資源的浪費。

2)常用嵌入式存儲器或小型EEPROM/FLASH存儲器采用串行通信，消耗的測試資源較少；

3)探針臺同測數比測試儀同測數要多的多，造成資源浪費；

4)存儲器測試儀系統中只有32個單元可同測，且每個單元資源互相分離無法統一調控；

5)傳統應用同測方法必須對每一個測試通道獨立控制、必須放棄系統原有同測體系，即傳統應用同測必須使用一個失效處理機制、必須放棄現有系統的失效處理體系。

因此，需研發一種更加高效、節省成本的提高存儲器測試儀同測數的方法。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種實現存儲器測試儀提高同測數的方法。通過該方法，能提高測試同測數、減少測試時間、降低測試成本，從而提高測試性能。

為解決上述技術問題，本發明的實現存儲器測試儀提高同測數的方法，包括步驟：

1)通過截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息，實現將探針臺上的同測數信息轉換為存儲器測試儀所擁有的同測數信息，并發送給存儲器測試儀；

2)存儲器測試儀采用其原有的同測數進行測試，測試時采用應用(APPLICATION)同測與系統(OS)同測相結合的方法，對實際翻倍后的同測數量的芯片進行測試；

3)獲得測試結果

采用應用同測的方法將若干個芯片假定為一個芯片進行測試；

當假定的一個芯片失效時，讓存儲器測試儀的系統自動調用系統失效處理機制，同時在失效處理機制中，判斷出當前系統失效單元資源中具體失效的那個測試資源，以此獲得失效的實際物理芯片；即通過判斷假定芯片的具體失效測試通道，可以判斷出具體失效的實際物理芯片。

4)將實際物理芯片失效情況組合為存儲器測試儀同測數信息包，在存儲器測試儀與探針臺通訊時，再將存儲器測試儀同測數信息包拆分為探針臺上同測數信息。

所述步驟1)中，截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息的實現方法，包括：重新編寫存儲器測試儀上與探針臺的通信程序，探針臺按同測擴展后的同測數據設定，并按擴展后的同測數據格式與存儲器測試儀通信；通過存儲器測試儀上通信程序，將應用同測所產生的增加失效號碼重新按同測擴展后的同測數據格式編寫，將同測擴展后的信息發送給探針臺。

所述步驟3)中，失效處理是根據失效的類型、失效的數量、失效的位置來決定對失效芯片的處理，并根據不同的失效芯片情況分配不同的失效號碼。失效處理的方法包括：按對系統單元剔除(DUT REJECT)掉、忽略或設置相關電壓來處置。

本發明通過在截取探針臺與測試儀的通訊數據，將探針臺上的同測信息轉換為測試儀所能接受的系統原有的同測信息，同時在測試機臺上采用應用同測與系統同測相結合的方法完成對系統同測數翻倍的芯片進行測試，測試完成后再將原測試系統同測數的數據擴展為翻倍后同測的數據。

本發明通過應用同測與系統同測相結合的辦法，可以在不改造測試設備的情況下，實現系統芯片同測數擴展為更多的芯片同測，最終實現雙頭128或256芯片同測，從而實現對系統產能的提升與翻倍，大大加快了測試速度(如年節省測試生產時間可為18萬小時)，同時，本發明還實現了在不增加任何成本的前提下，節省測試費用，降低生產成本。

附圖說明

下面結合附圖與具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明：

圖1是本發明的系統同測結構示意圖。

具體實施方式

本發明的實現存儲器測試儀提高同測數的方法(如圖1所示)，包括步驟：

1)通過截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息，實現將探針臺上的同測數信息轉換為存儲器測試儀所擁有的同測數信息，并發送給存儲器測試儀；

其中，截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息的實現方法為：重新編寫存儲器測試儀上與探針臺的通信程序，探針臺按同測擴展后的同測數據設定，并按擴展后的同測數據格式與存儲器測試儀通信；通過存儲器測試儀上通信程序，將應用同測所產生的增加失效號碼重新按同測擴展后的同測數據格式編寫，將同測擴展后的信息發送給探針臺。