[發(fā)明專利]實(shí)現(xiàn)存儲器測試儀提高同測數(shù)的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310342659.0
• 申請日: 2013-08-07
• 公開（公告）號: CN104347120B
• 公開（公告）日: 2017-06-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 武建宏
• 申請（專利權(quán)）人: 上海華虹宏力半導(dǎo)體制造有限公司
• 主分類號: G11C29/00
• 分類號: G11C29/00
• 代理公司: 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司31211
• 代理人: 高月紅

1.一種實(shí)現(xiàn)存儲器測試儀提高同測數(shù)的方法，其特征在于，包括步驟：

1)通過截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息，實(shí)現(xiàn)將探針臺上的同測數(shù)信息轉(zhuǎn)換為存儲器測試儀所擁有的同測數(shù)信息，并發(fā)送給存儲器測試儀；

截取探針臺與存儲器測試儀之間的通訊信息的實(shí)現(xiàn)方法為：重新編寫存儲器測試儀上與探針臺的通信程序，探針臺按同測擴(kuò)展后的同測數(shù)據(jù)設(shè)定，并按擴(kuò)展后的同測數(shù)據(jù)格式與存儲器測試儀通信；通過存儲器測試儀上通信程序，將應(yīng)用同測所產(chǎn)生的增加失效號碼重新按同測擴(kuò)展后的同測數(shù)據(jù)格式編寫，將同測擴(kuò)展后的信息發(fā)送給探針臺；

2)存儲器測試儀采用其原有的同測數(shù)進(jìn)行測試，測試時采用應(yīng)用同測與系統(tǒng)同測相結(jié)合的方法，對實(shí)際翻倍后的同測數(shù)量的芯片進(jìn)行測試；

3)采用應(yīng)用同測的方法將若干個芯片假定為一個芯片進(jìn)行測試；

假定的一個芯片失效時，讓存儲器測試儀的系統(tǒng)自動調(diào)用系統(tǒng)失效處理機(jī)制，同時在失效處理機(jī)制中，判斷出當(dāng)前系統(tǒng)失效單元資源中具體失效的測試資源，以此獲得失效的實(shí)際物理芯片；

4)將實(shí)際物理芯片失效情況組合為存儲器測試儀同測數(shù)信息包，在存儲器測試儀與探針臺通訊時，再將存儲器測試儀同測數(shù)信息包拆分為探針臺上同測數(shù)信息。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述步驟3)中，失效處理是根據(jù)失效的類型、失效的數(shù)量、失效的位置來決定對失效芯片的處理，并根據(jù)不同的失效芯片情況分配不同的失效號碼。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述步驟3)中，失效處理的方法包括：按對系統(tǒng)單元剔除掉、忽略或設(shè)置相關(guān)電壓來處置。