[發明專利]一種磁共振質量控制多參數測試體模

有效

• 申請號: 201310334248.7
• 申請日: 2013-08-03
• 公開（公告）號: CN103364753A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 康立麗;張麗媛;賀杰禹
• 申請（專利權）人: 南方醫科大學
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

技術領域

本發明涉及核磁共振質量保證和質量控制領域，特別是涉及一種磁共振質量控制多參數測試體模。

背景技術

????近年來隨著工程技術和計算機技術的迅速發展,磁共振成像(MRI)技術的水平和功能得到不斷地改進和完善,為臨床醫學水平的提高和科研的深入發展提供了有利的條件。磁共振成像技術已經成為臨床診斷不可缺少的測試方法之一。因此,要保證磁共振成像系統能夠正常高效地運行,需要確保磁共振測試裝置的質量。

為保證核磁共振設備檢測時能達到要求的精度，不僅要求在出廠前進行參數測試，而且在使用過程中，還必須依據國家標準，由相關檢測機構對設備進行定期檢查。

????現有測試體模存在以下不足：一是部分體模功能單一，每次只能測量少量性能參數，綜合測試時需要多個體模才能完成；二是測試精度不高；三是模塊化、標準化不夠，成本較高；四是體模不易拆卸、安裝及灌液，在體模拆卸過程中易產生零部件的損壞，體模內易出現氣泡等。

因此，針對現有磁共振測試體模的不足，提供一種能同時測試多種參數、精度高、模塊化強、測試層可靈活組合的磁共振質量控制多參數測試體模以克服現有技術不足甚為必要。

發明內容

本發明的目的在于避免現有技術的不足之處而提供一種磁共振質量控制多參數測試體模,該磁共振質量控制多參數測試體模能同時測試多種參數、精度高、模塊化強且測試層可靈活組合,并可以通過套管的選擇調節測試層之間的間距，還可以靈活更換測試層。

本發明的一個目的通過以下技術措施實現。

一種磁共振質量控制多參數測試體模，設置有殼體、多個測試層和定位構件；

所述殼體設置有上密封蓋、下密封蓋和側壁，所述上密封蓋、所述下密封蓋密封裝配于所述側壁的兩端；

所述定位構件設置有圓棒和與所述圓棒相匹配的套管；

每個所述測試層均設置有與所述圓棒相匹配的通孔，所述測試層通過各自設置的通孔穿設于所述圓棒，相鄰兩個測試層之間的圓棒上均套設有套管以將相鄰的兩個測試層隔開，最外兩測試層分別距離上密封蓋和下密封蓋的圓棒上套設有套管，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上密封蓋和所述下密封蓋,所述上密封蓋設置有與所述圓棒匹配的上裝配件，所述下密封蓋設置有與所述圓棒匹配的下裝配件，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上裝配件和所述下裝配件。

上述上密封蓋設置兩個灌液口，所述灌液口固定設置于所述上密封蓋。

上述圓棒設置為1至5個,所述套管的數量為所述圓棒數量的3至6倍，每個圓棒配置的套管數量相等。

上述上密封蓋設置有裝配尼龍螺絲的螺絲孔，所述上密封蓋與所述側壁通過密封圈密封裝配，尼龍螺絲裝配于所述螺絲孔并抵壓于所述密封圈使得所述上密封蓋、所述密封圈和所述側壁密封裝配。

上述測試層包括網格測試層、層厚測試層、高對比度分辨率測試層、低對比度測試層和溢流層；或者

所述測試層包括網格測試層、層厚測試層、高對比度分辨率測試層、低對比度測試層、溢流層中的任意兩種或者任意三種或者任意四種。

上述網格測試層設置有網格盤體和矩形方孔，所述矩形方孔規則分布設置于所述網格圓盤,其中兩個方孔填充為實體。

上述層厚測試層設置有層厚盤體、帶有槽孔的“回”字形結構的主體和設置于主體外側的四個斜面；

所述層厚盤體中心設有與所述槽孔相匹配的正方形通孔，所述層厚圓盤的邊緣處設置有用于通液、排氣泡的第一半圓形通孔；

所述主體固定設置于所述層厚盤體，所述主體的中心與所述層厚盤體的中心重合，四個所述斜面一一對應固定裝配于所述主體的側面；

所述主體的外壁面自其左上角至右下角方向的對角線位置設置有裝配槽，所述斜面固定裝配于所述裝配槽，所述斜面與水平面之間的夾角A的范圍為10——20度。

優選的，上述夾角A的范圍為14——16度。

上述高對比度分辨率測試層包括孔式高對比度分辨率測試模塊、線對式高對比度分辨率測試模塊、中心定位模塊和高對比度盤體；

所述高對比度盤體的邊緣處設置有用于通液、排氣泡的第二半圓形通孔；

所述孔式高對比度分辨率測試模塊上設有呈半圓狀分布的孔式測試模塊，所述孔式測試模塊設有孔徑大小不同且與測試層垂直的測試孔，相同孔徑的測試孔位于同一半徑的半圓上，相同孔徑的測試孔的外輪廓之間的最小間隔距離等于其孔徑；