[發明專利]一種磁共振質量控制多參數測試體模

有效

• 申請號: 201310334248.7
• 申請日: 2013-08-03
• 公開（公告）號: CN103364753A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 康立麗;張麗媛;賀杰禹
• 申請（專利權）人: 南方醫科大學
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種磁共振質量控制多參數測試體模，其特征在于：設置有殼體、多個測試層和定位構件；

所述殼體設置有上密封蓋、下密封蓋和側壁，所述上密封蓋、所述下密封蓋密封裝配于所述側壁的兩端；

所述定位構件設置有圓棒和與所述圓棒相匹配的套管；

每個所述測試層均設置有與所述圓棒相匹配的通孔，所述測試層通過各自設置的通孔穿設于所述圓棒，相鄰兩個測試層之間的圓棒上均套設有套管以將相鄰的兩個測試層隔開，最外兩測試層分別距離上密封蓋和下密封蓋的圓棒上套設有套管，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上密封蓋和所述下密封蓋；

所述上密封蓋設置有與所述圓棒匹配的上裝配件，所述下密封蓋設置有與所述圓棒匹配的下裝配件，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上裝配件和所述下裝配件。

2.根據權利要求1所述的磁共振質量控制多參數測試體模,其特征在于：所述上密封蓋設置兩個灌液口，所述灌液口固定設置于所述上密封蓋。

3.根據權利要求1所述的磁共振質量控制多參數測試體模,其特征在于：所述圓棒設置為1至5個,所述套管的數量為所述圓棒數量的3至6倍，每個圓棒配置的套管數量相等。

4.根據權利要求1所述的磁共振質量控制多參數測試體模,其特征在于：所述上密封蓋設置有裝配尼龍螺絲的螺絲孔，所述上密封蓋與所述側壁通過密封圈密封裝配，尼龍螺絲裝配于所述螺絲孔并抵壓于所述密封圈使得所述上密封蓋、所述密封圈和所述側壁密封裝配。

5.根據權利要求1至4任意一項所述的磁共振質量控制多參數測試體模,其特征在于：

所述測試層包括網格測試層、層厚測試層、高對比度分辨率測試層、低對比度測試層和溢流層；或者

所述測試層包括網格測試層、層厚測試層、高對比度分辨率測試層、低對比度測試層、溢流層中的任意兩種或者任意三種或者任意四種。

6.根據權利要求5所述的磁共振質量控制多參數測試體模，其特征在于：所述網格測試層設置有網格盤體和矩形方孔，所述矩形方孔規則分布設置于所述網格圓盤,其中兩個方孔填充為實體。

7.根據權利要求5所述的磁共振質量控制多參數測試體模，其特征在于：

所述層厚測試層設置有層厚盤體、帶有槽孔的“回”字形結構的主體和設置于主體外側的四個斜面；

所述層厚盤體中心設有與所述槽孔相匹配的橫截面為正方形的通孔，所述層厚圓盤的邊緣處設置有用于通液、排氣泡的第一半圓形通孔；

所述主體固定設置于所述層厚盤體，所述主體的中心與所述層厚盤體的中心重合，四個所述斜面一一對應固定裝配于所述主體的側面；

所述主體的外壁面自其左上角至右下角方向的對角線位置設置有裝配槽，所述斜面固定裝配于所述裝配槽，所述斜面與水平面之間的夾角A的范圍為10——20度。

8.根據權利要求7所述的磁共振質量控制多參數測試體模，其特征在于：所述夾角A的范圍為14——16度。

9.根據權利要求5所述的磁共振質量控制多參數測試體模，其特征在于：

所述高對比度分辨率測試層包括孔式高對比度分辨率測試模塊、線對式高對比度分辨率測試模塊、中心定位模塊和高對比度盤體，所述孔式高對比度分辨率測試模塊、線對式高對比度分辨率測試模塊、中心定位模塊分別設置于所述高對比度盤體；

所述高對比度盤體的邊緣處設置有用于通液、排氣泡的第二半圓形通孔；

所述孔式高對比度分辨率測試模塊上設有呈半圓狀分布的孔式測試模塊，所述孔式測試模塊設有孔徑大小不同且與測試層垂直的測試孔，相同孔徑的測試孔位于同一半徑的半圓上，相同孔徑的測試孔的外輪廓之間的最小間隔距離等于其孔徑；

所述線對式高對比度分辨率測試模塊設有垂直線對式測試模塊和水平線對式測試模塊，垂直線對式測試模塊沿頻率方向分布,所述水平線對式測試模塊沿相位編碼方向分布，所述垂直線對式測試模塊和水平線對式測試模塊均設有線性孔；

所述中心定位模塊設置為一等腰直角三角形狀的通孔，其中一個45°角的頂點位于所述高對比度分辨率測試層測試層的中心。

10.根據權利要求5所述的磁共振質量控制多參數測試體模，其特征在于：

所述低對比度測試層為孔式測試層，所述測試層由N組直徑不同的圓孔組及低對比度盤體組成，所述圓孔組設置于所述低對比度盤體，每組圓孔組由M個直徑相同、深度不同的圓孔組成,其中，N????????????????????????????????????????????????2，?M?2，所述圓孔的直徑范圍為2——8mm，所述圓孔的深度為0.2——1.0mm，所述低對比度盤體的邊緣處設置有用于通液、排氣泡的第三半圓形通孔。