[發明專利]一種磁共振質量控制多參數測試體模用定位構件及其體模

有效

• 申請號: 201310334247.2
• 申請日: 2013-08-03
• 公開（公告）號: CN103356194A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 康立麗;張麗媛;賀杰禹
• 申請（專利權）人: 南方醫科大學
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

技術領域

本發明涉及核磁共振質量保證和質量控制領域，特別是涉及一種磁共振質量控制多參數測試體模用定位構件及具有該定位構件的體模。

背景技術

????近年來隨著工程技術和計算機技術的迅速發展,磁共振成像(MRI)技術的水平和功能得到不斷地改進和完善,為臨床醫學水平的提高和科研的深入發展提供了有利的條件。磁共振成像技術已經成為臨床診斷不可缺少的測試方法之一。因此,要保證磁共振成像系統能夠正常高效地運行,需要確保磁共振測試裝置的質量。

為保證核磁共振設備檢測時能達到要求的精度，不僅要求在出廠前進行參數測試，而且在使用過程中，還必須依據國家標準，由相關檢測機構對設備進行定期檢查。

????現有測試體模存在以下不足：一是部分體模功能單一，每次只能測量少量性能參數，綜合測試時需要多個體模才能完成；二是體模不易拆卸、組裝困難，在體模拆卸過程中易產生零部件的損壞，體模內易出現氣泡等。

因此，針對現有磁共振測試體模的不足，提供一種能同時測試多種參數、拆卸組裝方便、測試層可靈活組合的磁共振質量控制多參數測試體模用定位構件及具有該定位構件的體模以克服現有技術不足甚為必要。

發明內容

本發明的目的之一在于避免現有技術的不足之處而提供一種磁共振質量控制多參數測試體模用定位構件,通過該定位構件，磁共振質量控制多參數測試體模不僅能同時測試多種參數、而且測試層可靈活組合,并可以通過套管的選擇調節測試層之間的間距，還可以靈活更換測試層，具有拆卸、組裝方便的特點。

本發明的上述目的通過以下技術措施實現。

一種磁共振質量控制多參數測試體模用定位構件，設置有圓棒和與所述圓棒相匹配的多個套管,所述套管套設于所述圓棒,所述圓棒的兩端設置有用于與磁共振質量控制多參數測試體模的上密封蓋、下密封蓋分別裝配的配位結構；

磁共振質量控制多參數測試體模的每個測試層均設置有與所述圓棒相匹配的通孔，所述測試層通過各自設置的通孔穿設于所述圓棒，相鄰兩個測試層之間的圓棒上均套設有套管以將相鄰的兩個測試層隔開，最外兩測試層分別距離磁共振質量控制多參數測試體模的上密封蓋和下密封蓋的圓棒上套設有套管，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上密封蓋和所述下密封蓋。

優選的，上述圓棒設置為一至四個，所述套管的數量為所述圓棒數量的3至6倍，每個圓棒配置的套管數量相等。

優選的，上述套管的數量為所述圓棒數量的5倍。

進一步的，上述圓棒設置為兩個。

本發明的另一目的在于避免現有技術的不足之處而提供一種磁共振質量控制多參數測試體模,不僅能同時測試多種參數、而且測試層可靈活組合,并可以通過套管的選擇調節測試層之間的間距，還可以靈活更換測試層，具有拆卸組裝方便的特點。

本發明的上述目的通過以下技術措施實現。

提供一種磁共振質量控制多參數測試體模,設置有多個測試層和定位構件；

所述定位構件設置有圓棒和與所述圓棒相匹配的多個套管,所述套管對應套設于所述圓棒；所述圓棒的兩端設置有用于與磁共振質量控制多參數測試體模的上密封蓋、下密封蓋分別裝配的配位結構；

所述圓棒設置為一至四個，所述套管的數量為所述圓棒數量的3至6倍，每個圓棒配置的套管數量相等；

每個所述測試層均設置有與所述圓棒相匹配的通孔，所述測試層通過各自設置的通孔穿設于所述圓棒，相鄰兩個測試層之間的圓棒上均套設有套管以將相鄰的兩個測試層隔開，最外兩測試層分別距離磁共振質量控制多參數測試體模的上密封蓋和下密封蓋的圓棒上套設有套管，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上密封蓋和所述下密封蓋。

上述上密封蓋設置有與所述圓棒匹配的上裝配件，所述下密封蓋設置有與所述圓棒匹配的下裝配件，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上裝配件和所述下裝配件。

優選的，上述套管的數量為所述圓棒數量的5倍。

進一步的，上述圓棒設置為兩個。