[發(fā)明專利]一種磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模用定位構(gòu)件及其體模

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310334247.2
• 申請(qǐng)日: 2013-08-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103356194A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-10-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 康立麗;張麗媛;賀杰禹
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南方醫(yī)科大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): A61B5/055
• 分類(lèi)號(hào): A61B5/055
• 代理公司: 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模用定位構(gòu)件，其特征在于：設(shè)置有圓棒和與所述圓棒相匹配的多個(gè)套管,所述套管套設(shè)于所述圓棒,所述圓棒的兩端設(shè)置有用于與磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模的上密封蓋、下密封蓋分別裝配的配位結(jié)構(gòu)；

磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模的每個(gè)測(cè)試層均設(shè)置有與所述圓棒相匹配的通孔，所述測(cè)試層通過(guò)各自設(shè)置的通孔穿設(shè)于所述圓棒，相鄰兩個(gè)測(cè)試層之間的圓棒上均套設(shè)有套管以將相鄰的兩個(gè)測(cè)試層隔開(kāi)，最外兩測(cè)試層分別距離磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模的上密封蓋和下密封蓋的圓棒上套設(shè)有套管，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上密封蓋和所述下密封蓋。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模用定位構(gòu)件，其特征在于：所述圓棒設(shè)置為一至四個(gè)，所述套管的數(shù)量為所述圓棒數(shù)量的3至6倍，每個(gè)圓棒配置的套管數(shù)量相等。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模用定位構(gòu)件，其特征在于：所述套管的數(shù)量為所述圓棒數(shù)量的5倍。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模用定位構(gòu)件，其特征在于：所述圓棒設(shè)置為兩個(gè)。

5.一種磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模,其特征在于：設(shè)置有多個(gè)測(cè)試層和定位構(gòu)件；

所述定位構(gòu)件設(shè)置有圓棒和與所述圓棒相匹配的多個(gè)套管,所述套管對(duì)應(yīng)套設(shè)于所述圓棒；所述圓棒的兩端設(shè)置有用于與磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模的上密封蓋、下密封蓋分別裝配的配位結(jié)構(gòu)；

所述圓棒設(shè)置為一至四個(gè)，所述套管的數(shù)量為所述圓棒數(shù)量的3至6倍，每個(gè)圓棒配置的套管數(shù)量相等；

每個(gè)所述測(cè)試層均設(shè)置有與所述圓棒相匹配的通孔，所述測(cè)試層通過(guò)各自設(shè)置的通孔穿設(shè)于所述圓棒，相鄰兩個(gè)測(cè)試層之間的圓棒上均套設(shè)有套管以將相鄰的兩個(gè)測(cè)試層隔開(kāi)，最外兩測(cè)試層分別距離磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模的上密封蓋和下密封蓋的圓棒上套設(shè)有套管，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上密封蓋和所述下密封蓋。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模,其特征在于：所述上密封蓋設(shè)置有與所述圓棒匹配的上裝配件，所述下密封蓋設(shè)置有與所述圓棒匹配的下裝配件，所述圓棒的兩端分別固定裝配于所述上裝配件和所述下裝配件。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模,其特征在于：所述套管的數(shù)量為所述圓棒數(shù)量的5倍。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的磁共振質(zhì)量控制多參數(shù)測(cè)試體模,其特征在于：所述圓棒設(shè)置為兩個(gè)。