[發(fā)明專利]一種存儲(chǔ)器壞點(diǎn)定位方法及裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310324094.3
• 申請(qǐng)日: 2013-07-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103412804A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-11-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王渝;任春林
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22
• 代理公司: 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

1.一種存儲(chǔ)器壞點(diǎn)定位方法，其特征在于，所述方法包括：

定位裝置在定位模式下對(duì)滿足預(yù)設(shè)條件的待測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)MBIST測(cè)試，當(dāng)所述MBIST測(cè)試發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，停止測(cè)試；

所述定位裝置記錄發(fā)生錯(cuò)誤的當(dāng)前壞點(diǎn)在存儲(chǔ)器中的定位信息；

所述定位裝置從所述當(dāng)前壞點(diǎn)開(kāi)始，繼續(xù)執(zhí)行所述MBIST測(cè)試，定位存儲(chǔ)器中的下一個(gè)壞點(diǎn)，直到將所述待測(cè)試存儲(chǔ)器全部測(cè)試完。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述繼續(xù)執(zhí)行所述MBIST測(cè)試之前，包括：

所述定位裝置將所述定位信息發(fā)送至外部裝置；并且，

所述定位裝置清除所述定位信息。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述定位裝置在定位模式下對(duì)滿足預(yù)設(shè)條件的待測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)MBIST測(cè)試之前，還包括：

所述定位裝置切換至測(cè)試模式，對(duì)所述待測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行MBIST測(cè)試；

若測(cè)試結(jié)果為所述待測(cè)試存儲(chǔ)器出錯(cuò)，則所述定位裝置切換至定位模式。

4.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述將所述定位信息發(fā)送至外部裝置，包括：

所述定位裝置將所述定位信息組織成串行數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)存儲(chǔ)在串行移位寄存器中；

所述定位裝置將內(nèi)部測(cè)試時(shí)鐘切換至外部時(shí)鐘，將存儲(chǔ)在所述串行移位寄存器中的所述定位信息串行移出，發(fā)送至所述外部裝置。

5.根據(jù)權(quán)利要求1～3任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，將所述定位信息發(fā)送至外部裝置，包括：

所述定位裝置將所述定位信息組織成并行數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，通過(guò)總線并行發(fā)送至所述外部裝置。

6.根據(jù)權(quán)利要求1～5任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，

所述定位信息包括如下至少一項(xiàng)：當(dāng)前出錯(cuò)的待測(cè)試存儲(chǔ)器編號(hào)、出錯(cuò)的地址、出錯(cuò)的數(shù)據(jù)位、出錯(cuò)的算法、出錯(cuò)的步驟、錯(cuò)誤類型以及連續(xù)錯(cuò)誤次數(shù)。

7.一種存儲(chǔ)器壞點(diǎn)定位裝置，其特征在于，包括至少一個(gè)處理器、內(nèi)部緩存器、及總線，所述至少一個(gè)處理器與所述內(nèi)部緩存器通過(guò)所述總線相連；

所述至少一個(gè)處理器，用于在定位模式下對(duì)滿足預(yù)設(shè)條件的待測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)MBIST測(cè)試，當(dāng)所述MBIST測(cè)試發(fā)生錯(cuò)誤時(shí)，停止測(cè)試，將發(fā)生錯(cuò)誤的當(dāng)前壞點(diǎn)在存儲(chǔ)器中的定位信息記錄在所述內(nèi)部緩存器中；

所述至少一個(gè)處理器，還用于從所述當(dāng)前壞點(diǎn)開(kāi)始，繼續(xù)執(zhí)行所述MBIST測(cè)試，定位存儲(chǔ)器中的下一個(gè)壞點(diǎn)，直到將所述待測(cè)試存儲(chǔ)器全部測(cè)試完。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，

所述至少一個(gè)處理器，還用于將記錄在所述內(nèi)部緩存器之中的所述定位信息發(fā)送至外部裝置；并且，清除所述內(nèi)部緩存器中記錄的所述定位信息。

9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，

所述至少一個(gè)處理器還用于，切換至測(cè)試模式，對(duì)所述待測(cè)試存儲(chǔ)器進(jìn)行MBIST測(cè)試，若測(cè)試結(jié)果為所述待測(cè)試存儲(chǔ)器出錯(cuò)，則切換至定位模式。

10.根據(jù)權(quán)利要求7～9任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，所述定位裝置還包括至少一個(gè)串行移位寄存器，所述移位寄存器通過(guò)所述總線與所述至少一個(gè)處理器和所述內(nèi)部緩存器相連；

所述至少一個(gè)處理器，具體用于將記錄在所述內(nèi)部緩存器之中的所述定位信息組織成串行數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)發(fā)送至所述串行移位寄存器；

所述串行移位寄存器，用于接收所述至少一個(gè)處理器發(fā)送的所述定位信息，將內(nèi)部測(cè)試時(shí)鐘切換至外部時(shí)鐘，并將所述定位信息串行移出，發(fā)送至所述外部裝置。

11.根據(jù)權(quán)利要求7～9任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，

所述至少一個(gè)處理器，具體用于將所述定位信息組織成并行數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，通過(guò)所述總線并行發(fā)送至所述外部裝置。

12.根據(jù)權(quán)利要求7～11任一項(xiàng)所述的裝置，其特征在于，

所述定位信息包括如下至少一項(xiàng)：當(dāng)前出錯(cuò)的待測(cè)試存儲(chǔ)器編號(hào)、出錯(cuò)的地址、出錯(cuò)的數(shù)據(jù)位、出錯(cuò)的算法、出錯(cuò)的步驟、錯(cuò)誤類型以及連續(xù)錯(cuò)誤次數(shù)。