[發明專利]集成電路及包括該集成電路的顯示裝置在審
| 申請號: | 201310313654.5 | 申請日: | 2013-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN103579195A | 公開(公告)日: | 2014-02-12 |
| 發明(設計)人: | 韓昊錫;孟昊奭 | 申請(專利權)人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/544 | 分類號: | H01L23/544 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286 | 代理人: | 劉燦強;劉奕晴 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 集成電路 包括 顯示裝置 | ||
1.一種集成電路,所述集成電路包括:
基底;
半導體層,布置在基底上;以及
絕緣層,布置在半導體層的上部,并且包括設置在絕緣層的上表面上的凸塊,
其中,半導體層包括主半導體區域和包括p型半導體的對準標記區域,對準標記區域與主半導體區域分隔開,
對準標記區域包括內部對準標記。
2.如權利要求1所述的集成電路,其中,基底是硅基底。
3.如權利要求1所述的集成電路,所述集成電路還包括布置在絕緣層的上表面上的外部對準標記,外部對準標記與內部對準標記疊置。
4.如權利要求1所述的集成電路,其中,內部對準標記的形狀由在對準標記區域中布置有所述p型半導體的區域的形狀來限定。
5.如權利要求4所述的集成電路,其中,內部對準標記包括位置對準標記。
6.如權利要求5所述的集成電路,其中,位置對準標記的形狀相對于第一軸和與第一軸垂直的第二軸對稱。
7.如權利要求6所述的集成電路,其中,位置對準標記包括NMOS晶體管。
8.如權利要求7所述的集成電路,其中,p型半導體包括第一p型半導體以及在第一p型半導體上方并與第一p型半導體分隔開的第二p型半導體,并且
NMOS晶體管包括所述第一p型半導體、所述第二p型半導體以及布置在所述第一p型半導體和所述第二p型半導體之間的n型半導體。
9.如權利要求8所述的集成電路,其中,第二p型半導體包括彼此分隔開并進行n+摻雜的第一摻雜區和第二摻雜區,并且
NMOS晶體管還包括布置在第一摻雜區和第二摻雜區之間的柵極。
10.如權利要求6所述的集成電路,其中,位置對準標記包括多個NMOS晶體管。
11.如權利要求6所述的集成電路,其中,位置對準標記為十字形。
12.如權利要求6所述的集成電路,其中,位置對準標記為菱形。
13.如權利要求6所述的集成電路,其中,內部對準標記還包括方向對準標記。
14.如權利要求13所述的集成電路,其中,方向對準標記相對于第一軸和第二軸不對稱。
15.如權利要求13所述的集成電路,其中,方向對準標記與位置對準標記分隔開。
16.如權利要求15所述的集成電路,其中,內部對準標記還包括限定對準標記區域的區域限定對準標記。
17.如權利要求16所述的集成電路,其中,區域限定對準標記圍繞對準標記區域的外周,并且
位置對準標記和方向對準標記布置在區域限定對準標記中。
18.如權利要求1所述的集成電路,其中,內部對準標記的形狀由在對準標記區域中不具有所述p型半導體的區域的形狀限定。
19.如權利要求18所述的集成電路,其中,對準標記區域包括NMOS晶體管。
20.如權利要求18所述的集成電路,其中,內部對準標記包括位置對準標記。
21.如權利要求20所述的集成電路,其中,位置對準標記相對于第一軸和與第一軸垂直的第二軸對稱。
22.如權利要求21所述的集成電路,其中,位置對準標記為十字形。
23.如權利要求21所述的集成電路,其中,位置對準標記為菱形。
24.如權利要求21所述的集成電路,其中,內部對準標記還包括方向對準標記。
25.如權利要求24所述的集成電路,其中,方向對準標記相對于第一軸和第二軸不對稱。
26.如權利要求24所述的集成電路,其中,方向對準標記與位置對準標記分隔開。
27.一種集成電路,所述集成電路包括:
基底;
半導體層,布置在基底上;以及
絕緣層,布置在半導體層的上部,并且包括設置在絕緣層的上表面上的凸塊,
其中,半導體層包括彼此連接的主半導體區域和包括p型半導體的內部對準標記。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于三星顯示有限公司,未經三星顯示有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310313654.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





