[發(fā)明專利]用于集成激光驅(qū)動器的調(diào)制電流工藝角數(shù)字補償電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310308309.2
• 申請日: 2013-07-22
• 公開（公告）號: CN103368068A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發(fā)明（設計）人: 蔣湘;王維;李永軍;劉瑩;劉哲;王麗芳;葉亞琴;劉本麗;陳偉
• 申請（專利權(quán)）人: 烽火通信科技股份有限公司
• 主分類號: H01S5/042
• 分類號: H01S5/042;G05F1/56
• 代理公司: 北京捷誠信通專利事務所(普通合伙) 11221
• 代理人: 魏殿紳;龐炳良

技術領域

本發(fā)明涉及激光驅(qū)動器領域，特別是涉及一種用于集成激光驅(qū)動器的調(diào)制電流工藝角數(shù)字補償電路。

背景技術

國內(nèi)外研究者對LDD（Laser?Diode?Driver，激光驅(qū)動器）作了大量的研究，在LDD的調(diào)制電流的控制方面，一般采用模擬電路的實現(xiàn)方法預測不同條件下所需要的調(diào)制電流的大小，來實現(xiàn)開環(huán)控制。然而由于集成電路制造工藝的偏差，在不同的工藝角條件下，會引起調(diào)制電流控制電壓的變化，因而會有不同的控制曲線，參見圖1所示，由于batch1（第一批）和batch2（第二批）的不同特性，造成不同工藝角條件下調(diào)制電流的補償特性難以統(tǒng)一。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是為了克服上述背景技術的不足，提供一種用于集成激光驅(qū)動器的調(diào)制電流工藝角數(shù)字補償電路，能保證在不同工藝角條件下激光驅(qū)動器調(diào)制電流補償特性基本一致；采用先進的數(shù)字信號處理的方式進行補償，補償精度較高；直接輸出補償后的調(diào)制電流控制信號，能滿足激光驅(qū)動器調(diào)制電流補償?shù)幕疽蟆?/p>

本發(fā)明提供的用于集成激光驅(qū)動器的調(diào)制電流工藝角數(shù)字補償電路，包括順次相連的工藝角檢測電路CNDT、模擬/數(shù)字A/D轉(zhuǎn)換單元、數(shù)字信號處理單元DSP、數(shù)字/模擬D/A轉(zhuǎn)換單元和激光驅(qū)動器的調(diào)制電流控制單元LDD?MOD&LD，其中：

所述工藝角檢測電路CNDT，用于：檢測集成電路制造工藝參數(shù)的變化情況，將檢測到的工藝參數(shù)的變化情況輸出到A/D轉(zhuǎn)換單元；

所述A/D轉(zhuǎn)換單元，用于：將工藝參數(shù)的變化情況轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，并將數(shù)字信號輸出到數(shù)字信號處理單元DSP；

所述數(shù)字信號處理單元DSP，用于：對數(shù)字信號進行處理，并將處理后得到的數(shù)字信號輸出到D/A轉(zhuǎn)換單元；

所述D/A轉(zhuǎn)換單元，用于：將數(shù)字信號處理單元DSP輸入的數(shù)字信號轉(zhuǎn)換為模擬信號，并將模擬信號輸出到激光驅(qū)動器的調(diào)制電流控制單元LDD?MOD&LD；

所述激光驅(qū)動器的調(diào)制電流控制單元LDD?MOD&LD，用于：對模擬信號進行補償，控制調(diào)制電流輸出的大小，并驅(qū)動激光器。

在上述技術方案的基礎上，所述工藝角檢測電路CNDT由帶隙基準源BG、放大器AMP、第一晶體管M1、第二晶體管M2、第三晶體管M3、第四晶體管M4、第五晶體管M5、第六晶體管M6、參考電阻Rref和采樣電阻Rtest構(gòu)成，第五晶體管M5為PMOS管，第六晶體管M6為NMOS管，帶隙基準源BG的輸出端與放大器AMP的反相輸入端相連，放大器AMP的輸出端分別與第一晶體管M1的柵極、第二晶體管M2的柵極、第三晶體管M3的柵極、第四晶體管M4的柵極相連，第一晶體管M1的源極、第二晶體管M2的源極、第三晶體管M3的源極、第四晶體管M4的源極均與電源VDD相連，第一晶體管M1的漏極與參考電阻Rref的一端相連后接到放大器AMP的同相輸入端，參考電阻Rref的另一端接地；第二晶體管M2的漏極與采樣電阻Rtest的一端相連后接A/D轉(zhuǎn)換單元的輸入端，采樣電阻Rtest的另一端接地；第三晶體管M3的漏極與第五晶體管M5的源極相連后接A/D轉(zhuǎn)換單元的輸入端，第五晶體管M5的柵極和漏極、第六晶體管M6的源極均接地，第六晶體管M6的柵極、漏極接在一起，并與第四晶體管M4的漏極相連后接A/D轉(zhuǎn)換單元的輸入端，工藝角檢測電路CNDT內(nèi)部產(chǎn)生的用于控制調(diào)制電流大小的控制電壓Vmodctrl接A/D轉(zhuǎn)換單元的輸入端，A/D轉(zhuǎn)換單元的輸出端與數(shù)字信號處理單元DSP的輸入端相連，數(shù)字信號處理單元DSP的輸出端與D/A轉(zhuǎn)換單元的輸入端相連。

在上述技術方案的基礎上，所述采樣電阻Rtest、第五晶體管M5、第六晶體管M6的工藝角偏差電壓，以及調(diào)制電流控制電壓Vmodctrl，均通過A/D轉(zhuǎn)換后進入到DSP做數(shù)字信號處理，算法如下：

第二晶體管M2的漏極、第三晶體管M3的漏極、第四晶體管M4的漏極的電位，經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后，分別為RESoffset、PMOSoffset和NMOSoffset，調(diào)制電流控制電壓Vmodctrl經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換為校準后調(diào)制電流Imod，則DSP做如下運算：

Imod=Iuncal+K1*RESoffset+K2*PMOSoffset+K3*NMOSoffset，

其中，Imod為校準后調(diào)制電流，Iuncal為校準前調(diào)制電流，K1為電阻影響系數(shù)，K2為PMOS影響系數(shù)，K3為NMOS影響系數(shù)，K1、K2、K3均按常數(shù)設置。