[發明專利]用于集成激光驅動器的調制電流工藝角數字補償電路

有效

• 申請號: 201310308309.2
• 申請日: 2013-07-22
• 公開（公告）號: CN103368068A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 蔣湘;王維;李永軍;劉瑩;劉哲;王麗芳;葉亞琴;劉本麗;陳偉
• 申請（專利權）人: 烽火通信科技股份有限公司
• 主分類號: H01S5/042
• 分類號: H01S5/042;G05F1/56
• 代理公司: 北京捷誠信通專利事務所(普通合伙) 11221
• 代理人: 魏殿紳;龐炳良

1.一種用于集成激光驅動器的調制電流工藝角數字補償電路，其特征在于：包括順次相連的工藝角檢測電路CNDT、模擬/數字A/D轉換單元、數字信號處理單元DSP、數字/模擬D/A轉換單元和激光驅動器的調制電流控制單元LDD?MOD&LD，其中：

所述工藝角檢測電路CNDT，用于：檢測集成電路制造工藝參數的變化情況，將檢測到的工藝參數的變化情況輸出到A/D轉換單元；

所述A/D轉換單元，用于：將工藝參數的變化情況轉換成數字信號，并將數字信號輸出到數字信號處理單元DSP；

所述數字信號處理單元DSP，用于：對數字信號進行處理，并將處理后得到的數字信號輸出到D/A轉換單元；

所述D/A轉換單元，用于：將數字信號處理單元DSP輸入的數字信號轉換為模擬信號，并將模擬信號輸出到激光驅動器的調制電流控制單元LDD?MOD&LD；

所述激光驅動器的調制電流控制單元LDD?MOD&LD，用于：對模擬信號進行補償，控制調制電流輸出的大小，并驅動激光器。

2.如權利要求1所述的用于集成激光驅動器的調制電流工藝角數字補償電路，其特征在于：所述工藝角檢測電路CNDT由帶隙基準源BG、放大器AMP、第一晶體管M1、第二晶體管M2、第三晶體管M3、第四晶體管M4、第五晶體管M5、第六晶體管M6、參考電阻Rref和采樣電阻Rtest構成，第五晶體管M5為PMOS管，第六晶體管M6為NMOS管，帶隙基準源BG的輸出端與放大器AMP的反相輸入端相連，放大器AMP的輸出端分別與第一晶體管M1的柵極、第二晶體管M2的柵極、第三晶體管M3的柵極、第四晶體管M4的柵極相連，第一晶體管M1的源極、第二晶體管M2的源極、第三晶體管M3的源極、第四晶體管M4的源極均與電源VDD相連，第一晶體管M1的漏極與參考電阻Rref的一端相連后接到放大器AMP的同相輸入端，參考電阻Rref的另一端接地；第二晶體管M2的漏極與采樣電阻Rtest的一端相連后接A/D轉換單元的輸入端，采樣電阻Rtest的另一端接地；第三晶體管M3的漏極與第五晶體管M5的源極相連后接A/D轉換單元的輸入端，第五晶體管M5的柵極和漏極、第六晶體管M6的源極均接地，第六晶體管M6的柵極、漏極接在一起，并與第四晶體管M4的漏極相連后接A/D轉換單元的輸入端，工藝角檢測電路CNDT內部產生的用于控制調制電流大小的控制電壓Vmodctrl接A/D轉換單元的輸入端，A/D轉換單元的輸出端與數字信號處理單元DSP的輸入端相連，數字信號處理單元DSP的輸出端與D/A轉換單元的輸入端相連。

3.如權利要求2所述的用于集成激光驅動器的調制電流工藝角數字補償電路，其特征在于：所述采樣電阻Rtest、第五晶體管M5、第六晶體管M6的工藝角偏差電壓，以及調制電流控制電壓Vmodctrl，均通過A/D轉換后進入到DSP做數字信號處理，算法如下：

第二晶體管M2的漏極、第三晶體管M3的漏極、第四晶體管M4的漏極的電位，經過A/D轉換后，分別為RESoffset、PMOSoffset和NMOSoffset，調制電流控制電壓Vmodctrl經過A/D轉換為校準后調制電流Imod，則DSP做如下運算：

Imod=Iuncal+K1*RESoffset+K2*PMOSoffset+K3*NMOSoffset，

其中，Imod為校準后調制電流，Iuncal為校準前調制電流，K1為電阻影響系數，K2為PMOS影響系數，K3為NMOS影響系數，K1、K2、K3均按常數設置。

4.如權利要求3所述的用于集成激光驅動器的調制電流工藝角數字補償電路，其特征在于：所述激光驅動器的調制電流控制單元LDD?MOD&LD由第七晶體管M7、第八晶體管M8、第九晶體管M9、激光器LD構成，第九晶體管M9的柵極與D/A轉換單元的輸出端相連，第九晶體管M9的源極接地，第九晶體管M9的漏極與第七晶體管M7的源極、第八晶體管M8的源極接在一起，第七晶體管M7與輸入調制信號的反相端Datn相連，第八晶體管M8的柵極與輸入調制信號的同相端Datp相連，第七晶體管M7的漏極、激光器LD的陽極均與電源VDD相連，第八晶體管M8的漏極與激光器LD的陰極相連。