[發明專利]一種納米氧化鋅定向陣列的制備方法有效
| 申請號: | 201310306421.2 | 申請日: | 2013-07-22 |
| 公開(公告)號: | CN103395823A | 公開(公告)日: | 2013-11-20 |
| 發明(設計)人: | 鐘敏 | 申請(專利權)人: | 中國計量學院 |
| 主分類號: | C01G9/02 | 分類號: | C01G9/02;B82Y40/00;C23C18/12 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 韓介梅 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 納米 氧化鋅 定向 陣列 制備 方法 | ||
技術領域
本發明屬于納米材料陣列的制備技術領域,具體涉及納米氧化鋅定向陣列的制備方法。
背景技術
ZnO是典型的Ⅱ-Ⅵ族直接寬禁帶半導體材料,在常溫下的禁帶寬度是3.37eV,與GaN相似,激子結合能高達60meV,遠大于ZnSe(22meV)和?GaN(25meV),同時ZnO在光、電、熱等方面具有特殊的性能,化學穩定性好,材料制備工藝簡單,成本低,是非常有應用潛力的第三代半導體材料。近年來,隨著納米氧化鋅材料研究的深入和發展,氧化鋅納米陣列的制備工藝得到了完善和改進。目前合成氧化鋅納米陣列的方法有很多,如氣相沉積法、溶液法、電化學沉積法、硬模板法、分子束外延法等。這些方法各有優劣,其中氣相沉積法有利于長納米線的制備及元素摻雜生長,缺點是反應溫度較高,陣列可控性差,結晶性差。溶液法包括晶種層制備和前驅液反應,雖然工藝簡單、成本低廉,但是晶種層制備溫度較高,對襯底具有選擇性。電化學沉積法的制備工藝簡單且反應溫度較低,但制備的陣列缺陷較多且多為多晶納米線。硬模板法具有較高的穩定性和良好的空間限域作用,能嚴格地控制陣列的大小和形貌,但是需要復雜的設備,成本較高,硬模板的結構比較單一,陣列的工藝可控性差,難以制備大面積ZnO納米棒陣列。分子束外延法需要復雜的設備,生長陣列成本非常高,不利于ZnO納米棒陣列的大規模制備。
發明內容
本發明的目的是提供一種工藝簡單,成本低,效率高,產品純度高,適合大面積生產的納米氧化鋅定向陣列的制備方法。
本發明的納米氧化鋅定向陣列的制備方法,包括以下步驟:
?(1)將0.1mol/L~0.5mol/L的Zn鹽水溶液和質量濃度1%~1.5%的聚乙烯基吡咯烷酮水溶液按Zn2+/聚乙烯基吡咯烷酮摩爾比為2:1~1:2混合,得到混合溶液;
(2)將氨水滴入步驟(1)制備的混合溶液中,調節混合溶液的pH值為10~11,得到聚乙烯基吡咯烷酮-Zn(OH)2絡合溶液;
(3)將表面極化處理過的拋光潔凈硅(100)襯底水平浸入步驟(2)配置好的聚乙烯基吡咯烷酮-Zn(OH)2絡合溶液,保溫3h,取出硅片;
(4)將步驟(3)取出的硅片放在剛玉舟上,置于管式爐中,在20ml/min~60ml/min的氧氣流速下,以5℃/min的加熱速率升溫到420℃氧化燒結0.5~1.5h;
(5)硅片自然降溫至室溫后用90℃去離子水反復沖洗,于空氣中晾干,得到納米氧化鋅定向陣列。
本發明步驟(1)中,所說的Zn鹽可以采用Zn(CH3COO)2·2H2O、ZnCl2或Zn(NO3)2。所說的聚乙烯基吡咯烷酮的平均分子量為1000~1300000。
上述的拋光潔凈硅為N型,厚度440μm,電阻率為10-2~10-3Ω·cm,晶向為<100>。
本發明采用高分子絡合和低溫氧化燒結反應,以聚乙烯基吡咯烷酮(PVP)作為高分子自組裝絡合載體,通過調節聚乙烯基吡咯烷酮水溶液的質量濃度、Zn2+/PVP摩爾比、聚乙烯基吡咯烷酮-Zn(OH)2絡合溶液的pH值來構筑高分子軟模板的形態,利用聚合物網絡骨架控制氧化鋅晶體的成核和生長,得到大面積垂直于硅襯底取向生長、粒徑和分布均勻、結晶度高、六方相紅鋅礦結構納米氧化鋅陣列。聚乙烯基吡咯烷酮高分子軟模板形態多樣,工藝可控性好,容易構筑,不需要復雜的設備,成本低,效率高,工藝簡單,制備周期短,適合大面積合成納米氧化鋅陣列。
附圖說明
圖1為納米ZnO陣列的場發射掃描電鏡照片。
圖2為納米ZnO陣列的X射線衍射圖。
具體實施方式
下面結合具體實施例對本發明進行具體說明。
實施例1
(1)將0.2mol/L的醋酸鋅水溶液和質量濃度1.2%的聚乙烯基吡咯烷酮水溶液按Zn2+/PVP摩爾比1:1混合,得到混合溶液;?
(2)將氨水滴入步驟(1)制備的混合溶液中,調節混合溶液的pH值為10.5,得到PVP-Zn(OH)2絡合溶液;
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