[發(fā)明專利]基板檢查裝置及基板檢查方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310292022.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-07-12 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103543374A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鹽入章弘;村山林太郎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 日置電機(jī)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01R31/02 | 分類號(hào): | G01R31/02 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 侯穎媖 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢查 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及基于對(duì)檢查對(duì)象基板上規(guī)定的各檢查點(diǎn)進(jìn)行測(cè)定而得到的物理量,來(lái)檢查各檢查點(diǎn)是否合格的基板檢查裝置及基板檢查方法。
背景技術(shù)
作為這種基板檢查裝置及基板檢查方法,本申請(qǐng)人在日本專利特開(kāi)平7-104026號(hào)公報(bào)中公開(kāi)了在線測(cè)試儀以及焊接不合格檢測(cè)方法(基板檢查方法)。該在線測(cè)試儀為基板檢查裝置,能夠檢查在安裝于被檢查基板表面的扁平封裝IC等(以下稱為電子元器件)的引線(連接用端子)與要連接到該引線的圖案之間是否發(fā)生焊接不合格,包括:測(cè)定臺(tái),該測(cè)定臺(tái)可以放置被檢查基板;4根測(cè)定探頭;4臺(tái)X-Y單元,該X-Y單元可以讓各測(cè)定探頭分開(kāi)獨(dú)立地在任意的X-Y方向上移動(dòng);以及電阻測(cè)定電路,該電阻測(cè)定電路連接有各測(cè)定探頭。
利用該在線測(cè)試儀檢測(cè)焊接不合格(以下稱為“被檢查基板的檢查”)時(shí),首先,用與電阻測(cè)定電路的+源極端子相連接的測(cè)定探頭、以及與電阻測(cè)定電路的+感應(yīng)端子相連接的測(cè)定探頭這兩根測(cè)定探頭,分別檢測(cè)安裝在被檢查基板上的電子元器件的引線的肩部、前端部等。此外,用與電阻測(cè)定電路的-感應(yīng)端子相連接的測(cè)定探頭、以及與電阻測(cè)定電路的-源極端子相連接的測(cè)定探頭這兩根測(cè)定探頭,分別檢測(cè)要與被上述兩根測(cè)定探頭所檢測(cè)的引線連接的圖案。接著,向兩個(gè)源極端子之間提供固定電流,在此狀態(tài)下測(cè)定兩個(gè)感應(yīng)端子之間所產(chǎn)生電壓的電壓值,并且基于提供的固定電流和測(cè)定的電壓值,計(jì)算電子元器件的引線和圖案之間的電阻值(利用四端子法的電阻值測(cè)定處理)。
此時(shí),在引線與圖案正常焊接的情況下,計(jì)算出的電阻值在預(yù)先規(guī)定的閥值以下。因此,在計(jì)算出閥值以下的電阻值時(shí),判定被兩根測(cè)定探頭檢測(cè)的圖案與被另兩根測(cè)定探頭檢測(cè)的引線正常焊接。另一方面,當(dāng)引線與圖案在不完全的狀態(tài)下焊接時(shí),將計(jì)算出超過(guò)閥值的較大的電阻值。此外,在引線完全離開(kāi)圖案的情況下(未連接狀態(tài)的情況下),計(jì)算出的電阻值的值為無(wú)限大。因而,在計(jì)算出超出閥值的較大值(包含無(wú)限大)的電阻值時(shí),判定引線未與圖案正常焊接(發(fā)生了焊接不合格)。之后,對(duì)其他的引線和圖案之間也按照與上述一系列處理相同的步驟來(lái)測(cè)定電阻值,并與閥值進(jìn)行比較,由此檢查被檢查基板上的各部分是否產(chǎn)生了焊接不合格。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本專利特開(kāi)7-104026號(hào)公報(bào)(第3-5頁(yè)、圖1~圖10)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題
然而,本申請(qǐng)人所公開(kāi)的在線測(cè)試儀以及該基板檢查方法中存在以下需要改進(jìn)的課題。即,本申請(qǐng)人所公開(kāi)的在線測(cè)試儀(基板檢查方法)采用的是通過(guò)依次測(cè)定電子元器件的引線和圖案之間的電阻值來(lái)檢查是否產(chǎn)生了焊接不合格的結(jié)構(gòu)(方法)。在此情況下,在利用該種基板檢查裝置檢查被檢查基板時(shí),不僅需要檢查是否有焊接不合格,還需要檢查安裝元器件是否有誤(安裝了與所要安裝的電子元器件不同的元器件的狀態(tài))、安裝元器件是否有破損(安裝了不能發(fā)揮本來(lái)的電性能的不合格的電子元器件的狀態(tài))。
具體而言,例如,在將作為電子元器件的電容性元件安裝在被檢查基板上的情況下,除了要檢查電容性元件的一對(duì)連接用電極(連接用端子)和導(dǎo)體圖案之間有無(wú)焊接不合格以外,還要檢查該電容性元件是否有誤、是否是不合格的元件。在此情況下,在檢查是否有誤、是否不合格時(shí),作為一個(gè)示例,在用一對(duì)測(cè)定探頭分別檢測(cè)檢查對(duì)象的電容性元件的兩個(gè)連接用電極的狀態(tài)下,向兩個(gè)源極端子之間提供固定電流,在該狀態(tài)下,測(cè)定兩個(gè)感應(yīng)端子之間所生成電壓的電壓值,并且基于提供的固定電流的電流值、測(cè)定到的電壓值、該電流以及電壓的相位差,計(jì)算靜電電容,并比較計(jì)算到的值與基準(zhǔn)值。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
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