[發明專利]一種鍵合線弧高測試夾具及其測試方法有效
| 申請號: | 201310290637.4 | 申請日: | 2013-07-11 |
| 公開(公告)號: | CN103335599A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發明(設計)人: | 任春嶺;多新中;陳強;沈美根;閆鋒;張如春 | 申請(專利權)人: | 江蘇博普電子科技有限責任公司 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224 | 代理人: | 董建林 |
| 地址: | 214131 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 鍵合線弧高 測試 夾具 及其 方法 | ||
1.一種鍵合線弧高測試夾具,包括夾具主體(1),其特征在于:所述夾具主體(1)的上表面設置有倒L型凹槽,所述倒L型凹槽的長斜面(11)與短斜面(12)之間相互垂直。
2.根據權利要求1所述的一種鍵合線弧高測試夾具,其特征在于:所述L型凹槽的長斜面(11)與水平面之間的夾角范圍為30°-60°。
3.根據權利要求2所述的一種鍵合線弧高測試夾具,其特征在于:所述L型凹槽的長斜面(11)與水平面之間的夾角優選為30°或45°或60°。
4.根據權利要求1-3中任意一項所述的一種鍵合線弧高測試夾具,其特征在于:所述夾具主體(1)的表面經過打磨處理。
5.根據權利要求4所述的一種鍵合線弧高測試夾具,其特征在于:所述夾具主體(1)為金屬材質。
6.一種利用如權利要求1-5中任意一項所述夾具進行鍵合線弧高測試方法,其特征在于:包括如下步驟:
(1)將焊接有芯片(3)的管殼(2)放置到L型凹槽中,且使管殼(2)上的引出腳(5)與所述L型凹槽的短斜面(12)平行;
(2)當鍵合線的兩個鍵合點為同一高度時,利用具有測量功能的高倍顯微鏡測量鍵合線的最高點到兩個鍵合點之間連線的垂直距離L1,則該鍵合線的弧高H1為:
H1=?L1·sinα,
其中α為L型凹槽的長斜面(11)與水平面之間的夾角;
當鍵合線的兩個鍵合點為不同高度時,若選擇鍵合線的較低的一個端點畫一條平行于管殼(2)底面且與該鍵合線相交的直線,利用具有測量功能的高倍顯微鏡測量鍵合線的最高點到該直線的垂直距離L2,則該鍵合線的弧高H2為:
H2=?L2·sinα,
其中α為L型凹槽的長斜面(11)與水平面之間的夾角;
若選擇鍵合線的較高的一個端點畫一條平行于管殼(2)底面且與該鍵合線相交的直線,利用具有測量功能的高倍顯微鏡測量鍵合線的最高點到該直線的垂直距離L3,則該鍵合線的弧高H3為:
H3=?L3·sinα+H,
其中α為L型凹槽的長斜面(11)與水平面之間的夾角,H為兩個高低鍵合點之間的垂直距離,該垂直距離為管殼(2)設計過程中的其中一個參數。
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