[發(fā)明專利]一種S模式ADS_B系統(tǒng)的糾檢錯(cuò)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310287951.7
• 申請(qǐng)日: 2013-07-09
• 公開（公告）號(hào): CN103401565A
• 公開（公告）日: 2013-11-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮巖;張超;蒲朝飛;吳盼;林紅;張?jiān)鑫?/a>
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寧波成電泰克電子信息技術(shù)發(fā)展有限公司
• 主分類號(hào): H03M13/15
• 分類號(hào): H03M13/15
• 代理公司: 寧波奧圣專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33226
• 代理人: 邱積權(quán)

1.一種S模式ADS_B系統(tǒng)的糾檢錯(cuò)方法，其特征在于包括以下步驟；

S1.對(duì)S模式ADS_B系統(tǒng)門限值進(jìn)行初始化處理；

S2.S模式ADS_B系統(tǒng)參考功率值的計(jì)算；

S3.S模式ADS_B系統(tǒng)接收到的ADS_B消息的比特位的提取和置信度分析；

S31.ADS_B消息數(shù)據(jù)編碼采用PPM方式，每個(gè)比特位由chip1和chip0兩部分組成，對(duì)每個(gè)比特位均以10點(diǎn)/μs的采樣率采樣；

S32.對(duì)chip1和chip0的采樣點(diǎn)，依次求出采樣點(diǎn)幅度值在參考功率值正負(fù)3dB范圍內(nèi)的采樣點(diǎn)集合，chip1中該集合用chip1_A表示，chip0中該集合用chip0_A表示；

S33.對(duì)chip1和chip0采樣點(diǎn)，依次求出采樣點(diǎn)幅度值比參考功率值小6dB以上的采樣點(diǎn)集合，chip1中該集合用chip1_B表示，chip0中該集合用chip0_B表示；

S34.對(duì)chip1_A、chip0_A、chip1_B、chip0_B中的采樣點(diǎn)進(jìn)行加權(quán)運(yùn)算，得到的權(quán)重累加值分別記為w_chip1_A，w_chip0_A,w_chip1_B,w_chip0_B;

S35.通過以下公式(1)和(2)，計(jì)算某比特位為‘0’或?yàn)椤?’的可能性，分別記為score1和score2；

score1=w_chip1_A-w_chip0_A+w_chip0_B–w_chip1_B???（1）

score2=w_chip0_A-w_chip1_A+w_chip1_B–w_chip0_B???（2）

S36.比較score1和score2的大小，若score1大于score2，將該比特位值置為‘1’，若score1小于或等于score2，將該比特位值置為‘0’；當(dāng)score1和score2之間的差值大于或等于3時(shí)，推斷該比特位值為高置信度，否則為低置信度；

S4.判斷接收到的S模式的ADS_B消息是否出錯(cuò)；若出錯(cuò)，根據(jù)ADS_B消息中低置信度個(gè)數(shù)的不同，選擇相應(yīng)的糾檢錯(cuò)操作：

S41.將S模式ADS_B系統(tǒng)接收到的ADS_B消息數(shù)據(jù)輸入CRC解碼電路，即將ADS_B消息數(shù)據(jù)與CRC校驗(yàn)碼進(jìn)行模2除法運(yùn)算，得到該ADS_B消息數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤校正子，長度為24bit；若錯(cuò)誤校正子每比特位均為‘0’，則表示ADS_B消息數(shù)據(jù)在傳輸過程中無錯(cuò)誤；若錯(cuò)誤校正子每比特位不全為0，則表示ADS_B消息數(shù)據(jù)在傳輸過程中有錯(cuò)誤；

S42.計(jì)算ADS_B消息數(shù)據(jù)中低置信度的個(gè)數(shù)，根據(jù)個(gè)數(shù)的不同，選擇相應(yīng)的糾檢錯(cuò)操作：

S421.若接收到的ADS_B消息數(shù)據(jù)中低置信度個(gè)數(shù)大于12，則表示該ADS_B消息數(shù)據(jù)誤碼過多，丟棄該ADS_B消息數(shù)據(jù)；

S422.若接收到的ADS_B消息數(shù)據(jù)中低置信度個(gè)數(shù)不大于5，分別將ADS_B消息數(shù)據(jù)中的每個(gè)低置信度位置為‘0’，其余所有位置為‘1’，組成若干組數(shù)據(jù)；將每組數(shù)據(jù)依次通過CRC電路，輸出結(jié)果為每個(gè)低置信度位所對(duì)應(yīng)的低置信度位校正子；將所有低置信度位所對(duì)應(yīng)的低置信度位校正子組成的集合中取出除空集外的所有子集，對(duì)每個(gè)子集中的所有元素，即低置信度位校正子進(jìn)行異或相加，得到該子集中所有低置信度位校正子的組合校正子；將該組合校正子與錯(cuò)誤校正子比較，若相等，則將該組合中所有低置信度位校正子對(duì)應(yīng)的低置信度位，在消息代碼中取反，成功實(shí)現(xiàn)糾錯(cuò)；若遍歷所有除去空集以外的子集運(yùn)算后所得的組合校正子與錯(cuò)誤校正子均不相等，則表示該ADS_B消息數(shù)據(jù)誤碼過多，丟棄該ADS_B消息數(shù)據(jù)；

S423.若接收到的ADS_B消息數(shù)據(jù)中低置信度個(gè)數(shù)大于5但不大于12，且所有低置信度位之間的跨度不大于24，判斷ADS_B消息數(shù)據(jù)中，第一位低置信度位所處的位置，記為第n位；從ADS_B消息數(shù)據(jù)中的第n位開始，沿著ADS_B消息數(shù)據(jù)位取24比特?cái)?shù)據(jù)，組成一個(gè)24比特長度的數(shù)據(jù)串L；錯(cuò)誤校正子中，若最后一位數(shù)據(jù)是‘0’，則將錯(cuò)誤校正子循環(huán)右移一位；若最后一位數(shù)據(jù)位是‘1’，則將錯(cuò)誤校正子與CRC校驗(yàn)碼進(jìn)行異或運(yùn)算后再循環(huán)右移一位；重復(fù)此操作89-n次，得到一組長度為24比特?cái)?shù)據(jù)R；將L與R進(jìn)行位與操作，若位與后的結(jié)果與R相等，則將R中的“1”所對(duì)應(yīng)的低置信度比特位的值取反，完成糾檢錯(cuò)操作；若位與后的結(jié)果與R不相等，則表示該ADS_B消息數(shù)據(jù)誤碼過多，丟棄該ADS_B消息數(shù)據(jù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種S模式ADS_B系統(tǒng)的糾檢錯(cuò)方法，其特征在于所述的步驟S2中參考功率值的計(jì)算方法為：

S21.對(duì)S模式ADS_B系統(tǒng)接收到的ADS_B消息數(shù)據(jù)的每比特位以10點(diǎn)/μs的采樣率采樣，若一個(gè)采樣點(diǎn)的功率值大于門限值，且隨后連續(xù)的3個(gè)以上采樣點(diǎn)的功率值都在門限值以上，該采樣點(diǎn)位置看做一個(gè)有效脈沖位置；

S22.將有效脈沖位置內(nèi)的某一個(gè)采樣點(diǎn)，跟前一個(gè)采樣點(diǎn)和后一個(gè)采樣點(diǎn)的功率值比較，若與前一個(gè)采樣點(diǎn)的功率差值大于門限值，且與后一個(gè)采樣點(diǎn)的功率差值小于門限值，則判定此采樣點(diǎn)在一個(gè)脈沖上升沿；

S23.對(duì)ADS_B消息數(shù)據(jù)進(jìn)行脈沖檢測，若檢測到4個(gè)脈沖具有0μs、1.0μs、3.5μs、4.5μs的時(shí)序，且這4個(gè)位置處有效脈沖的上升沿個(gè)數(shù)不少于2個(gè)，則認(rèn)定這4個(gè)脈沖是S模式ADS_B系統(tǒng)消息的前導(dǎo)報(bào)頭脈沖；

S24.對(duì)擁有上升沿的前導(dǎo)報(bào)頭脈沖選擇其上升沿后的3個(gè)采樣點(diǎn)，組成一個(gè)采樣點(diǎn)集合；

S25.對(duì)上述采樣點(diǎn)集合中的每一個(gè)采樣點(diǎn)找出2dB擺幅內(nèi)的其他采樣點(diǎn)，并計(jì)算其他采樣點(diǎn)的數(shù)目，并找出該數(shù)目的最大值；如果最大值唯一，那么該最大值對(duì)應(yīng)采樣點(diǎn)的功率值就是報(bào)頭的參考功率值；如果最大值不唯一，從采樣點(diǎn)集合中去掉最小值，再從中去掉比最小值大2dB以上的點(diǎn)，計(jì)算出集合內(nèi)剩余采樣點(diǎn)的平均值，這個(gè)平均值作為ADS_B消息數(shù)據(jù)的參考功率值。