[發明專利]物體表面狀況的檢測方法和裝置

無效

• 申請號: 201310287404.9
• 申請日: 2013-07-10
• 公開（公告）號: CN103344564A
• 公開（公告）日: 2013-10-09
• 發明（設計）人: 沈順孝;吳神培;尤俊生;洪順源;江瑞濱;王凌曦
• 申請（專利權）人: 廈門市美亞柏科信息股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 北京恒都律師事務所 11395
• 代理人: 邸建凱

技術領域

?本發明屬于檢測領域，特別涉及一種將物體表面成像后進行檢測的方法和裝置。

背景技術

在文物鑒定、壓痕字跡鑒定等鑒定領域中，對物體表面狀況的檢測是至關重要的。有效的檢測方法將有助于鑒定人員對物體表面的紋理、缺點等狀況所產生的機理或原因進行正確的分析。

在現有技術中，通常是借助微觀成像設備直接對物體表面的某區域進行放大，但其只能從相對單一的角度來檢測物體表面，不能從整體上對物體表面狀況進行檢測，其檢測結果并不理想。

也有通過將被檢測物體的個別角度成像后所產生的陰影來判斷物體表面是否有突起、凹坑等缺陷，但是該方法只能簡單判斷出物體表面是否有突起或凹坑等缺陷，卻無法了解到缺陷的形狀、大小等具體情況。

還有通過在一個平面上設置環形光源，將被檢測物體放置在環形光源的軸向上，并在大致與光源所在環形的平面上設置多個光電探測器以接收光源反射的光束，以分析物體表面狀況。該方法中的光源設置數量和位置比較單一，對物體表面的照射角度也是比較有局限的，因此檢測精度也不高。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種物體表面狀況的檢測方法和裝置，能夠通過對被檢測物體整體的三維圖片進行分析以獲得被檢測物體整體的表面狀況，具有較高的檢測精度和較全面的檢測結果。

本發明一方面提供了一種物體表面狀況的檢測方法，包括：?

將被檢測物體放置于成像單元拍攝方向的正下方；

在以被檢測物體放置的位置為球心、以預設長度為半徑、向所述成像單元方向延伸的半球體的球面上均勻設置多個光源；

打開一個光源；

由所述成像單元拍攝在該光源照射下的被檢測物體并將拍攝的圖片進行存儲；

關閉當前打開的光源，打開下一個光源，重復上述步驟直到打開設定數量的光源；

將所拍攝的所有上述圖片進行處理形成所述被檢測物體整體的三維圖片；

對所述三維圖片進行分析以獲得被檢測物體表面狀況的檢測結果。

進一步的，在打開一個光源的步驟之前還包括：屏蔽所述半球體周圍的光源和反光物。

進一步的，在以被檢測物體放置的位置為球心、以預設長度為半徑、向所述成像單元方向延伸的半球體的球面上均勻設置多個光源的步驟，具體為：

在所述半球體的球面上，將每隔10?或15?的橫截圓面的半圓周設置為光源區；

在所述每個光源區上，每隔10?設置一個光源。

進一步的，所述成像單元相對于所述被檢測物體的位置是可調的。

進一步的，所述光源的亮度是可調的。

本發明另一方面提出了一種物體表面狀況的檢測裝置，包括：?

多個光源，均勻設置于以被檢測物體放置的位置為球心、以預設長度為半徑、向所述成像單元方向延伸的半球體的球面上；

光源開關，用于打開和關閉每個所述光源；

成像單元，用于拍攝在所述光源照射下的被檢測物體并將拍攝的圖片進行存儲；

圖片處理單元，用于將所拍攝的所有圖片進行處理形成所述被檢測物體整體的三維圖片；

分析單元，用于對所述三維圖片進行分析以獲得被檢測物體表面狀況的檢測結果。

進一步的，所述裝置還包括：

屏蔽單元，用于屏蔽所述半球體周圍的光源和反光物。

進一步的，每個所述光源的位置具體為：

在所述半球體的球面上，將每隔10?或15?的橫截圓面的半圓周設置為光源區，在所述每個光源區上，每隔10?設置一個光源。進一步的，所述成像單元相對于所述被檢測物體的位置是可調的。

進一步的，所述光源的亮度是可調的。

通過本發明提供的物體表面狀況的檢測方法和裝置，能夠通過對被檢測物體整體的三維圖片進行分析以獲得被檢測物體整體的表面狀況，具有較高的檢測精度和較全面的檢測結果。

附圖說明

圖1是本發明物體表面狀況的檢測方法一實施例的流程圖；

圖2是本發明物體表面狀況的檢測裝置一實施例的示意圖。

具體實施方式

為使本發明的上述目的、特征和優點能夠更加明顯易懂，下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明。

參照圖1，示出了本發明物體表面狀況的檢測方法一實施例的流程圖。其中包括如下步驟：?

S11，將被檢測物體放置于成像單元拍攝方向的正下方。

S12，在以被檢測物體放置的位置為球心、以預設長度為半徑、向成像單元方向延伸的半球體的球面上均勻設置多個光源。