[發明專利]物體表面狀況的檢測方法和裝置

無效

• 申請號: 201310287404.9
• 申請日: 2013-07-10
• 公開（公告）號: CN103344564A
• 公開（公告）日: 2013-10-09
• 發明（設計）人: 沈順孝;吳神培;尤俊生;洪順源;江瑞濱;王凌曦
• 申請（專利權）人: 廈門市美亞柏科信息股份有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 北京恒都律師事務所 11395
• 代理人: 邸建凱

1.一種物體表面狀況的檢測方法，其特征在于，包括：?

將被檢測物體放置于成像單元拍攝方向的正下方；

在以被檢測物體放置的位置為球心、以預設長度為半徑、向所述成像單元方向延伸的半球體的球面上均勻設置多個光源；

打開一個光源；

由所述成像單元拍攝在該光源照射下的被檢測物體并將拍攝的圖片進行存儲；

關閉當前打開的光源，打開下一個光源，重復上述步驟直到打開設定數量的光源；

將所拍攝的所有上述圖片進行處理形成所述被檢測物體整體的三維圖片；

對所述三維圖片進行分析以獲得被檢測物體表面狀況的檢測結果。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在打開一個光源的步驟之前還包括：屏蔽所述半球體周圍的光源和反光物。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在以被檢測物體放置的位置為球心、以預設長度為半徑、向所述成像單元方向延伸的半球體的球面上均勻設置多個光源的步驟，具體為：

在所述半球體的球面上，將每隔10?或15?的橫截圓面的半圓周設置為光源區；

在所述每個光源區上，每隔10?設置一個光源。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述成像單元相對于所述被檢測物體的位置是可調的。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述光源的亮度是可調的。

6.一種物體表面狀況的檢測裝置，其特征在于，包括：?

多個光源，均勻設置于以被檢測物體放置的位置為球心、以預設長度為半徑、向所述成像單元方向延伸的半球體的球面上；

光源開關，用于打開和關閉每個所述光源；

成像單元，用于拍攝在所述光源照射下的被檢測物體并將拍攝的圖片進行存儲；

圖片處理單元，用于將所拍攝的所有圖片進行處理形成所述被檢測物體整體的三維圖片；

分析單元，用于對所述三維圖片進行分析以獲得被檢測物體表面狀況的檢測結果。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括：

屏蔽單元，用于屏蔽所述半球體周圍的光源和反光物。

8.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，每個所述光源的位置具體為：

在所述半球體的球面上，將每隔10?或15?的橫截圓面的半圓周設置為光源區，在所述每個光源區上，每隔10?設置一個光源。

9.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述成像單元相對于所述被檢測物體的位置是可調的。

10.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述光源的亮度是可調的。