[發明專利]獲取光模塊監測溫度的方法及裝置

有效

• 申請號: 201310287053.1
• 申請日: 2013-07-09
• 公開（公告）號: CN103401607A
• 公開（公告）日: 2013-11-20
• 發明（設計）人: 高庭;林青合
• 申請（專利權）人: 青島海信寬帶多媒體技術有限公司
• 主分類號: H04B10/075
• 分類號: H04B10/075
• 代理公司: 北京市京大律師事務所 11321
• 代理人: 張璐;方曉明

1.一種獲取光模塊監測溫度的方法，該方法包括：

預先獲取光模塊中電路板上設置溫度傳感器的位置與結構件上設置溫度計的位置之間的光模塊熱阻；

獲取光模塊功耗；

根據計算得到的光模塊功耗及光模塊熱阻，獲取光模塊溫升；

獲取光模塊內部溫度，將光模塊內部溫度與光模塊溫升之差作為監測溫度進行上報。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述獲取光模塊功耗包括：

獲取光模塊的各工作電流及對應的工作電壓，根據獲取的各工作電流及對應的工作電壓計算光模塊功耗；或，

測量并獲取輸入光模塊的電流以及輸入光模塊的電壓，根據輸入光模塊的電壓以及輸入光模塊的電流計算光模塊功耗。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，所述工作電流包括：驅動激光器的偏置電流、驅動激光器的調制電流、發射電路的固定電流、接收電路的固定電流、微控制單元MCU的固定工作電流以及接收電路動態功耗電流，其中，接收電路動態功耗電流對應光模塊高電壓，其它工作電流對應監控電壓。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，計算所述光模塊功耗的公式為：

P=I_apdV_HV+（I_bais+I_mod+I_tx+I_rx+I_mcu）V_cc；

式中，

P為光模塊功耗；

I_bais為驅動激光器的偏置電流；

I_mod為驅動激光器的調制電流；

I_tx為發射電路的固定電流；

I_rx為接收電路的固定電流；

I_mcu為MCU的固定工作電流；

I_apd為接收電路動態功耗電流；

V_HV為光模塊高電壓；

V_cc為監控電壓；

所述獲取光模塊溫升的溫升公式為：

T=PR_o

式中，

T為光模塊溫升；

R_o為光模塊熱阻；

所述上報的監測溫度計算公式為：

T_c=T_a-T

式中，

T_c為監測溫度；

T_a為光模塊內部溫度。

5.根據權利要求1至4任一項所述的方法，其中，在獲取光模塊功耗后，所述方法進一步包括：

執行根據計算得到的光模塊功耗及光模塊熱阻，獲取光模塊溫升的流程，然后判斷光模塊功耗是否發生突變，如果是，根據突變前的光模塊內部溫度，以及功耗突變后的溫升，按照預先設置的光模塊突變功耗階躍響應算法，生成監測溫度并上報；否則，將光模塊內部溫度與光模塊溫升之差作為監測溫度進行上報。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，所述光模塊功耗是否發生突變包括：

當前時間周期內獲取的光模塊功耗與上一時間周期內獲取的光模塊功耗之差超過預先設置的功耗閾值；或，

當前時間周期內，光模塊中的沖激源狀態發生改變。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，所述沖激源狀態發生改變包括：發射電路、和/或，接收電路、和/或，光模塊中的通道從上一時間周期內的開啟狀態變為當前時間周期內的關閉狀態，或從上一時間周期內的關閉狀態變為當前時間周期內的開啟狀態。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，所述根據獲取的光模塊內部溫度以及預先設置的光模塊突變功耗階躍響應算法，生成監測溫度包括：

獲取當前時間與光模塊功耗發生突變時的時間差；

根據預先設置的光模塊突變功耗階躍響應算法，獲取當前時間的光模塊按階躍響應算法得到的模擬溫升值；將獲取的光模塊內部溫度減去模擬的溫升值，生成監測溫度。