[發明專利]用于測試設定/保持時間的設備和方法

有效

• 申請號: 201310280870.4
• 申請日: 2009-04-16
• 公開（公告）號: CN103440882A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 李政勛
• 申請（專利權）人: 海力士半導體有限公司
• 主分類號: G11C29/02
• 分類號: G11C29/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 康建峰;吳瓊

1.一種用于測試設定/保持時間的方法，包括：

當測試模式處在禁用狀態下時，根據第一輸入數據校準芯片外驅動器的輸出數據電平；以及

當測試模式處在啟用狀態下時，根據第二輸入數據校準多個數據輸入單元當中的選擇的數據輸入單元的設定/保持時間。

2.如權利要求1所述的用于測試設定/保持時間的方法，其中，校準所述輸出數據電平包括：

存儲所述第一輸入數據，使得所述第一輸入數據的數據值維持在它們的先前值，而不管是否提供所述第二輸入數據。

3.如權利要求2所述的用于測試設定/保持時間的方法，其中，所述第二輸入數據配置成以下數據：在所述數據中，對用于指定所述多個數據輸入單元當中哪些所述多個數據輸入單元要被選擇的選擇信息和用于指定被選擇的數據輸入單元的設定/保持時間校準量的設定/保持校準信息進行編碼。

4.如權利要求2所述的用于測試設定/保持時間的方法，其中，所述設定/保持時間校準配置成根據所述設定/保持時間校準信息，通過對根據所述選擇信息選擇的數據輸入單元的數據延遲時間進行增加和減少中的一種而獲得。

5.一種用于測試設定/保持時間的方法，包括：

當測試模式處在禁用狀態下時，對通過第一信號路徑輸入至芯片外驅動器校準單元的輸入端的數據進行解碼以輸出第一解碼信號；以及

根據所述第一解碼信號校準芯片外驅動器的輸出數據電平，

其中，當所述測試模式信號處在啟用狀態下時，所述芯片外驅動器校準單元對通過第二信號路徑輸入至輸入端的數據進行解碼以輸出第二解碼信號，并且根據所述第二解碼信號校準從多個數據輸入單元當中選擇的數據輸入單元的設定/保持時間。

6.如權利要求5所述的用于測試設定/保持時間的方法，其中，所述解碼與校準包括：

當所述測試模式信號處在禁用狀態下時，存儲輸入至所述輸入端的數據。

7.如權利要求6所述的用于測試設定/保持時間的方法，其中，輸入至所述輸入端的數據配置成在所述多個數據輸入單元之一中預先提取的數據。

8.如權利要求6所述的用于測試設定/保持時間的方法，其中，當所述測試模式處在啟用狀態下時，輸入至所述輸入端的數據配置成以下數據：在所述數據中，對用于指定所述多個數據輸入單元當中的要被選擇的數據輸入單元的選擇信息和用于指定被選擇的數據輸入單元的設定/保持時間校準量的設定/保持校準信息進行編碼。

9.如權利要求8所述的用于測試設定/保持時間的方法，其中，根據所述設定/保持時間校準信息，通過對根據所述選擇信息選擇的數據輸入單元的數據延遲時間進行增加和減少中的一種而獲得所述設定/保持時間校準。