[發明專利]基于K分布和紋理特征的SAR圖像分割方法有效
| 申請號: | 201310279548.X | 申請日: | 2013-06-25 |
| 公開(公告)號: | CN103366371A | 公開(公告)日: | 2013-10-23 |
| 發明(設計)人: | 侯彪;焦李成;韓博;王爽;張向榮;馬晶晶;馬文萍 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 張問芬;王品華 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 分布 紋理 特征 sar 圖像 分割 方法 | ||
技術領域
本發明屬于圖像處理領域,涉及SAR圖像特征提取和SAR圖像分割的方法,是一種基于K分布和紋理特征的SAR圖像分割方法,可應用于SAR圖像目標識別。
背景技術
合成孔徑雷達SAR是一種高分辨率雷達體制,也稱綜合孔徑雷達,應用于軍事,導航,農業,地質勘探,圖像匹配制導等諸多領域。它與其它遙感成像系統和光學成像系統相比有很多差異。在軍事目標識別方面,SAR圖像被廣泛的應用在目標檢測領域,而SAR圖像分割則是從圖像處理到圖像解譯的重要步驟,是目標分類和識別的基礎。本質上SAR圖像反映的是目標的電磁散射特性和結構特性。SAR成像的特殊性使得針對該類圖像的分割方法有別于普通光學圖像:SAR圖像含有大量相干斑噪聲,而常規分割方法通常對噪聲具有很高的敏感度,不宜用于此類圖像;SAR圖像灰度級變化緩慢,因此光學圖像常用的自適應閾值分割方法對此類圖像收效甚微;SAR遙感被測地域的電磁波散射特性,這種特性近似的區域會成像為SAR圖像中相近的灰度級,而該地域的光學圖像中這些區域卻很可能呈現不同的灰度級。
針對SAR圖像的以上特點,經典分割方法有:
基于邊緣的SAR圖像分割方法。這類方法通過檢測SAR圖像中的邊緣,以其檢測得到的邊緣為分離界限,將SAR圖像進行分割。包括ROA(Ratio-of-averages)邊緣檢測方法,以及利用線性算子的邊緣檢測分割方法等。但是由于SAR圖像固有的乘性相干斑噪聲,致使邊緣像素灰度值起伏很大,這類方法難以取得較為精確的分割效果。
基于區域合并的SAR圖像分割方法。這類方法首先對SAR圖像進行過分割,然后根據相鄰區域各階統計特性的不同,迭代進行合并區域,但是這種方法分割區域統計分離性不好,因此容易造成過分割。
基于分層模型的SAR圖像分割方法。這種方法以區域為處理單元,使用多尺度模型挖掘SAR圖像在不同分辨率下區域的統計相關特性,但是由于該模型只利用了層間區域的相關性,沒充分利用層內相鄰區域的信息,容易導致層與層之間信息傳遞不可靠,造成區域錯分。
基于抑斑的分割方法。這類方法首先對SAR進行濾波,然后利用光學圖像的常規分割方法處理。但是抑斑過程中模糊了邊緣和紋理信息,導致圖像細節信息丟失。
基于SAR圖像概率分布模型的分割方法。主要有Markov隨機場分割方法,分為非因果Markov隨機場和因果Markov隨機場兩種。非因果Markov隨機場參數估計困難,且需要迭代;因果Markov隨機場易形成方向性塊效應。這類方法由于考慮了SAR圖像的物理統計特性和先驗概率分布知識,因而分割效果較基于抑斑的分割方法有所改善,但是沒有充分挖掘SAR圖像全局特征和局部紋理特征。使分割結果對SAR圖像的細節有信息損失,邊界和邊緣等方向信息不完整。
發明內容
本發明的目的在于克服上述已有技術的不足,提出一種基于K分布和紋理特征的SAR圖像分割方法,利用K分布完好的整體性特征和灰度共生矩陣極好的細節性紋理特征,提高了SAR圖像分割結果的區域一致性和邊緣分辨精度,保證圖像分割信息的精確性和完整性,提高SAR圖像分割的質量。
實現本發明目的的技術方案是:采用高效的K分布統計模型,提取SAR圖像的整體性特征,并使用灰度共生矩陣充分挖掘紋理信息,提取細節性紋理特征,有效的提高了SAR圖像特征的全面性,極大的改善了分割質量。其具體實現過程如下:
(1)在大小為M×N的待分割SAR圖像上提取C類訓練樣本區域{I0,I1,...,IC},C表示圖像中地物類別數;
(2)在所選訓練樣本特征區域Ic上提取100幅大小為k*k(可為9*9)的訓練樣本,采用K分布統計模型提取整體性特征參數l、m和μ,并采用灰度共生矩陣提取細節性紋理特征參數asm、con和idm,組合在一起得到特征系數{Θ1,Θ2,...,Θ100},
其中Θi={l,m,u,me,st,asm,con,idm},1≤i≤100,l、m和μ是K分布模型的概率密度函數的三個參數,me表示均值,st表示方差,asm、con和idm分別表示灰度共生矩陣的能量、對比度和相關度;
(3)將每類SAR圖像的特征系數列排成矩陣,即為第c類目標的字典
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學,未經西安電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310279548.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





