[發明專利]基于K分布和紋理特征的SAR圖像分割方法

有效

• 申請號: 201310279548.X
• 申請日: 2013-06-25
• 公開（公告）號: CN103366371A
• 公開（公告）日: 2013-10-23
• 發明（設計）人: 侯彪;焦李成;韓博;王爽;張向榮;馬晶晶;馬文萍
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 陜西電子工業專利中心 61205
• 代理人: 張問芬;王品華

1.一種基于K分布和紋理特征的SAR圖像分割方法，包括如下步驟：

1)在大小為M×N的待分割SAR圖像上取C類訓練樣本區域{I₀，I₁，...，I_C}，C表示圖像中地物類別數；

2)對所選訓練樣本區域I_c進行特征提取，得到第c類訓練樣本區域的特征參數字典D_c＝[Θ₁，Θ₂，...，Θ₁₀₀]，

其中Θ_i＝{l，m，u，me，st，asm，con，idm}，1≤i≤100，c∈C，m和μ是K分布模型的概率密度函數的三個參數，me表示均值，st表示方差，asm、con和idm分別表示灰度共生矩陣的能量、對比度和相關度；

3)計算每類訓練樣本的特征參數字典D_c，c∈C，并將它們依次排列組成全局大字典Φ＝[D₁，D₂，...，D_c]；

4)輸入待分割SAR圖像，選k*k大小的窗口，每個像素點p_s，t1≤s≤M，1≤t≤N，用其周圍鄰域的k*k個像素點代替，根據步驟2)求解該像素點p_s，t的特征系數y_s，t；

5)求解矩陣逆運算y_s，t＝Φα，得到稀疏系數α，其中Φ＝[D₁，D₂，...，D_c]；

6)令δ_c(α)(i＝1，...，C)為僅保留α中與第c類相對應的系數、其余系數置零的向量，計算殘差函數Rc(y)=||y~-φδc(α)||2,]]>c＝1，...，C；

7)根據殘差函數R_c(y)，由式進行判別，對像素點p_s，t分類，最小的即為y_s，t的類別標簽；

8)重復步驟(4)、(5)、(6)和(7)得到待處理SAR圖像每個像素點的分類結果，將分類結果重新保存，得到最終SAR圖像分割結果。