[發明專利]用于高精度ADC測試中低分辨率信號源的選取方法

有效

• 申請號: 201310278150.4
• 申請日: 2013-07-04
• 公開（公告）號: CN103529379A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發明（設計）人: 黃成;李佑輝
• 申請（專利權）人: 東南大學
• 主分類號: G01R31/3167
• 分類號: G01R31/3167
• 代理公司: 蘇州創元專利商標事務所有限公司 32103
• 代理人: 范晴

1.一種用于高精度ADC測試中低分辨率信號源的選取方法，其特征在于，具體的選取過程如下：

在確定待測高精度ADC的測試方法后，利用測試方法進行測試，再分析影響測試結果的主要因素，在不改變其他條件的情況下，提高待測ADC的采樣速率，增加或者減少用于測試分析的采樣點數，重復測試，分析當保證測試結果誤差在給定范圍內時采樣點數與積分非線性誤差之間的關系；

然后，逐比特降低信號源的分辨率，重復前面的測試方法直到測試結果出現突然增加的現象為止；

基于不同分辨率信號源對測試結果的影響，建立信號源分辨率同積分非線性誤差之間的關系模型，建立在不同分辨率的信號源情況下所需采樣點數同積分非線性誤差之間的關系模型；

最后，基于給定的關系模型圖，確定給定測試對象和測試目的時所需的最佳分辨率信號源。

2.根據權利要求1所述的用于高精度ADC測試中低分辨率信號源的選取方法，其特征在于，對于給定的待測對象，明確其測試目的和應用場景：在通信應用中，關注的重點是待測ADC的動態參數；音視頻以及醫療衛生等應用中，關注的重點則是靜態特性參數，當需要測試非重點關注的特性參數時，我們需要考慮的是盡可能降低測試所需成本，主要包括時間成本和設備成本：影響時間成本的主要因素包括采樣點數、數據處理時間、所選算法的復雜度以及基于相應算法開發程序的周期等；影響設備成本的主要因素則包括選用的信號源的線性度、數據采集和存儲所需的硬件設備等，當測試重點關注的參數時，則可能需要犧牲部分測試成本來確保相關參數的可靠性測試。

3.根據權利要求1所述的用于高精度ADC測試中低分辨率信號源的選取方法，其特征在于，對于任意一種高精度ADC測試算法，可以基于該算法建立DAC分辨率與測試結果誤差的關系圖，且該關系圖能夠作為在利用本測試算法測試任意分辨率的高精度ADC時選擇合適分辨率的DAC作為信號源的一種參考。