[發明專利]一種球面面形誤差絕對檢測方法有效
| 申請號: | 201310259595.8 | 申請日: | 2013-06-26 |
| 公開(公告)號: | CN103292738A | 公開(公告)日: | 2013-09-11 |
| 發明(設計)人: | 宋偉紅;侯溪;李世芳;趙文川;吳高峰;徐燕;毛潔;吳永前;萬勇建 | 申請(專利權)人: | 中國科學院光電技術研究所 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 梁愛榮 |
| 地址: | 610209 *** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 球面 誤差 絕對 檢測 方法 | ||
1.一種球面面形誤差絕對檢測方法,其特征在于包含以下步驟:
步驟S1:利用干涉儀,選取F數相匹配的標準鏡對被測球面進行面形檢測,獲得初始位置處的面形檢測數據T1(x,y)并表示如下:
T1(x,y)=W(x,y)+RS(x,y)????(1)
公式1中:(x,y)為電荷耦合器件上的直角坐標系,x,y表示直角坐標系中的坐標點;W(x,y)和RS(x,y)分別表示被測球面和參考面的面形誤差;
步驟S2:保持干涉儀系統參數不變,將被測球面繞干涉儀系統光軸轉動一角度Δθ,獲得轉動一角度處的被測球面檢測數據T2(x,y)并表示如下:
T2(ρ,θ)=W(ρ,θ+Δθ)+RS(ρ,θ)????(2)
公式2中:W(ρ,θ+Δθ)表示旋轉一角度后的被測球面面形誤差,RS(ρ,θ)表示參考面的面形誤差,(ρ,θ)為(x,y)對應的極坐標系;θ表示角向坐標,Δθ為旋轉角度,ρ表示徑向坐標;
步驟S3:保持干涉儀系統參數不變,再將被測球面沿相對于初始位置的θ1方向共心平移一定距離Δs,獲得共心平移一距離處的被測球面檢測數據T3(x,y)并表示如下:
T3(x,y)=W(x+sx,y+sy)+RS(x,y)????(3)
公式3中:sx=Δs·cosθ1,sy=Δs·sinθ1,s表示共心平移量;sx和sy分別表示被測球面沿X和Y方向的平移量,W(x+sx,y+sy)表示被測球面沿X和Y方向的平移量分別為sx和sy的面形誤差;定義算子Γ(Δθ,Δs)如下表示:
從而上述檢測結果T1(x,y)、T2(x,y)、T3(x,y)表示為如下的形式:
Tθ,s(x,y)=Γ(θ,s)·W(x,y)+RS(x,y)????(5)
Γ(θ,s)表示對被測球面進行的旋轉和共心平移操作,Tθ,s(x,y)表示被測球面旋轉平移后相應的面形檢測數據;
步驟S4:利用矩陣運算工具,將上述方程式(5)改寫為矩陣形式:
公式6中:
Zi(x,y)為第i項Zernike多項式;Wa=[a1,a2,…,an]T為被測球面的Zernike多項式系數,RSc=[c1,c2,…,cn]T為參考面的Zernike多項式系數,T為轉置,i=1,2,…n,n為Zernike多項式項數,采用最小二乘法,解此方程式,得到:
A11,A12,A22,A21B1,B2等參量,只是為了計算方便引入的過程參量,沒有具體的物理意義;
步驟S5:被測球面的面形誤差參考面的面形誤差a1,a2,…,an為被測球面的各項Zernike多項式系數,c1c2…,cn為參考面的各項Zernike多項式系數,其分別為相應的Zernike多項式系數,ai=a1,a2,…,an,ci=c1,c2,…,cn。
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